自动分析装置和自动分析装置的控制方法制造方法及图纸

技术编号:27028368 阅读:26 留言:0更新日期:2021-01-12 11:11
提供能够减少搅拌棒上的污垢粘附的自动分析装置。自动分析装置(100)包含:搅拌部(140),其具备搅拌棒(142);清洗部(146),其进行搅拌棒(142)的清洗;以及控制部,其控制搅拌部(140)和清洗部(146),控制部进行:第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使搅拌部(140)进行包含检体的液体(141)的搅拌的情况下,将在第2周期中对搅拌棒(142)进行清洗的范围设为清洗范围R2;以及第2处理,当在第2周期中不使搅拌部(140)进行液体的搅拌的情况下,将在第1周期和第2周期之中的至少一个周期中对搅拌棒(142)进行清洗的范围设为比清洗范围R2大的清洗范围R4。

【技术实现步骤摘要】
自动分析装置和自动分析装置的控制方法
本专利技术涉及自动分析装置和自动分析装置的控制方法。
技术介绍
自动分析装置是用于使检体与试剂进行反应来分析检体的成分的装置。作为自动分析装置,已知对血液、尿等检体所包含的各种成分进行分析的生物化学分析装置。在生物化学分析装置中,例如,在将检体以一定的条件进行稀释后,将其分注到反应容器,将检体与分析项目所对应的试剂在反应容器内混合而使它们进行反应。其后,对分注于反应容器的稀释检体的吸光度进行测定,并将吸光度换算为浓度,由此来进行检体所包含的测定对象物质的分析。在自动分析装置中,分注于反应容器的检体与试剂由搅拌棒来搅拌。通过用搅拌棒对检体与试剂进行搅拌,在搅拌棒上会附着液体。若用附着有液体的状态的搅拌棒对分注于下一个反应容器的检体与试剂进行搅拌,则会在下一个反应容器的液体中混入上一个反应容器的液体,无法进行正确的分析。因此,在自动分析装置中,需要在搅拌后对搅拌棒进行清洗。作为对搅拌棒进行清洗的方法,例如在专利文献1中公开了将搅拌棒浸在清洗液中对搅拌棒进行清洗的方法。现有技术文献专利文献【专利文献1】特开2013-253826号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题在搅拌棒的清洗工序中,搅拌棒的比检体等所附着的范围大的范围被浸渍于清洗液。由于搅拌棒的清洗通过装置的机械动作来进行,因此,搅拌棒被清洗的范围是一定的。所以,在搅拌棒的被浸渍于清洗液的部分与搅拌棒的不被浸渍于清洗液的部分的边界,有可能会有污垢蓄积粘附。r>另外,用于分注液体的探针也与搅拌棒同样要在分注后进行清洗。所以,在探针的被浸渍于清洗液的部分与探针的不被浸渍于清洗液的部分的边界,有可能会有污垢蓄积粘附。用于解决问题的方案(1)本专利技术的自动分析装置的一方面包含:搅拌部,其具备搅拌棒;清洗部,其进行上述搅拌棒的清洗;以及控制部,其控制上述搅拌部和上述清洗部,上述控制部进行:第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使上述搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,将在上述第2周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为第1范围;以及第2处理,当在上述第2周期中不使上述搅拌部进行上述液体的搅拌的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围。在这样的自动分析装置中,在第2周期中使搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下与在第2周期中不使搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,对搅拌棒进行清洗的范围不同。所以,在这样的自动分析装置中,与对搅拌棒进行清洗的范围为一定的情况相比,能够减少搅拌棒上的污垢粘附。(2)本专利技术的自动分析装置的一方面包含:分注部,其具备探针;清洗部,其进行上述探针的清洗;以及控制部,其控制上述分注部和上述清洗部,上述控制部进行:第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使上述分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下,将在上述第2周期中对上述探针进行清洗的范围设为第1范围;以及第2处理,当在上述第2周期中不使上述分注部进行上述液体的分注的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述探针进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围。在这样的自动分析装置中,在第2周期中使分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下与在第2周期中不使分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下,对探针进行清洗的范围不同。所以,在这样的自动分析装置中,与对探针进行清洗的范围为一定的情况相比,能够减少探针上的污垢粘附。(3)在本专利技术的自动分析装置的控制方法的一方面中,上述自动分析装置包含:搅拌部,其具备搅拌棒;以及清洗部,其进行上述搅拌棒的清洗,上述自动分析装置的控制方法包含:当在第1周期之后的第2周期中使上述搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,将在上述第2周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为第1范围的工序;以及当在上述第2周期中不使上述搅拌部进行上述液体的搅拌的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围的工序。在这样的自动分析装置的控制方法中,在第2周期中使搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下与在第2周期中不使搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,对搅拌棒进行清洗的范围不同。所以,在这样的自动分析装置的控制方法中,与对搅拌棒进行清洗的范围为一定的情况相比,能够减少搅拌棒上的污垢粘附。(4)在本专利技术的自动分析装置的控制方法的一方面中,上述自动分析装置包含:分注部,其具备探针;以及清洗部,其进行上述探针的清洗,上述自动分析装置的控制方法包含:当在第1周期之后的第2周期中使上述分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下,将在上述第2周期中对上述探针进行清洗的范围设为第1范围的工序;以及当在上述第2周期中不使上述分注部进行上述液体的分注的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述探针进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围的工序。在这样的自动分析装置的控制方法中,在第2周期中使分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下与在第2周期中不使分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下,对探针进行清洗的范围不同。所以,在这样的自动分析装置的控制方法中,与对探针进行清洗的范围为一定的情况相比,能够减少探针上的污垢粘附。附图说明图1是示出实施方式的自动分析装置的构成的图。图2是示出控制装置的构成的图。图3是用于说明第1反应液搅拌机构的构成的图。图4是示出第1反应液搅拌机构的动作的一例的流程图。图5是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的图。图6是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的图。图7是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的图。图8是示出控制部的处理的一例的流程图。图9是示出控制部的处理的变形例的流程图。图10是用于说明分注部的构成的图。图11是示出分注部的动作的一例的流程图。图12是用于说明分注部的动作的图。图13是用于说明分注部的动作的图。图14是用于说明分注部的动作的图。图15是用于说明分注部的动作的图。图16是示出控制部的处理的一例的流程图。图17是示出控制部的处理的变形例的流程图。图18是示出第1反应液搅拌机构的动作的变形例的流程图。图19是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的变形例的图。图20是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的变形例的图。图21是示出第1反应液搅拌机构的动作的变形例的流程图。图22是用于说明第1反应液搅拌机构的动作的变形例的图。图23是示出第1反应液搅拌机构的动作的变形例的流程图。...

【技术保护点】
1.一种自动分析装置,其特征在于,包含:/n搅拌部,其具备搅拌棒;/n清洗部,其进行上述搅拌棒的清洗;以及/n控制部,其控制上述搅拌部和上述清洗部,/n上述控制部进行:/n第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使上述搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,将在上述第2周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为第1范围;以及/n第2处理,当在上述第2周期中不使上述搅拌部进行上述液体的搅拌的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围。/n

【技术特征摘要】
20190711 JP 2019-1290181.一种自动分析装置,其特征在于,包含:
搅拌部,其具备搅拌棒;
清洗部,其进行上述搅拌棒的清洗;以及
控制部,其控制上述搅拌部和上述清洗部,
上述控制部进行:
第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使上述搅拌部进行包含检体的液体的搅拌的情况下,将在上述第2周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为第1范围;以及
第2处理,当在上述第2周期中不使上述搅拌部进行上述液体的搅拌的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周期中对上述搅拌棒进行清洗的范围设为比上述第1范围大的第2范围。


2.根据权利要求1所述的自动分析装置,
上述清洗部具有容纳清洗液的清洗槽,
在上述第2处理中将上述搅拌棒浸渍于上述清洗液的范围比在上述第1处理中将上述搅拌棒浸渍于上述清洗液的范围大。


3.根据权利要求1所述的自动分析装置,
上述清洗部具有喷出清洗液的清洗液喷出装置,
在上述第2处理中将上述清洗液施加到上述搅拌棒的范围比在上述第1处理中将上述清洗液施加到上述搅拌棒的范围大。


4.一种自动分析装置,其特征在于,包含:
分注部,其具备探针;
清洗部,其进行上述探针的清洗;以及
控制部,其控制上述分注部和上述清洗部,
上述控制部进行:
第1处理,当在第1周期之后的第2周期中使上述分注部进行包含检体或者试剂的液体的分注的情况下,将在上述第2周期中对上述探针进行清洗的范围设为第1范围;以及
第2处理,当在上述第2周期中不使上述分注部进行上述液体的分注的情况下,将在上述第1周期和上述第2周期之中的至少一个周...

【专利技术属性】
技术研发人员:朝仓诚
申请(专利权)人:日本电子株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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