本技术公开了一种计算机主板防护系统及计算机设备，该系统包括：主板本体；计算机工作电源，用于为所述主板本体供电；水浸传感器，布置于所述主板本体上；ARM微处理器，一端与所述水浸传感器电连接，另一端与所述计算机工作电源电连接；其中，所述水浸...

本发明提供一种CXL扩展卡、故障日志收集的实现方法及系统，输入模块与大电容模块、第一掉电检测模块的第一端及第二掉电检测模块的第一端连接；第一掉电检测模块的第二端与第一复位芯片的第三引脚连接；第一复位芯片的第一引脚与延迟电路的第一端连接，...

本发明实施例提供了一种用于DDR5的测试电路及方法，电路包括：多个测试点通过转接板与测试基板相连接；测试基板包括第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、采集模块、第一输出模块、第二输出模块及控制芯片；各测试点均分别与第一...

本技术公开了一种内存槽手持吸尘装置，包括：吸尘吸嘴、集尘杯和控制主板，所述吸尘吸嘴的规格和内存槽的规格相适配，所述吸尘吸嘴通过吸管连接于所述集尘杯的一端，所述集尘杯的另一端与所述控制主机的一端连接，所述控制主机的另一端固定设置有握把；所...

本技术公开了一种用于DDR4内存条供电电路，包括主控芯片以及与所述主控芯片相连接的输入保护电路以及异常指示电路，通过输入保护电路设置的MOS管对多个连接器进行通断控制，且输入保护电路设置的第二电源单独对第一连接器以及第二连接器进行单独供...

本发明公开了一种

本发明公开了一种基于

本实用新型公开了一种双路

本发明公开了DDR5温度传感器的测试系统、方法、计算机设备及存储介质，该方法包括：通过UART串口向测试模块发出测试信号，以使FPGA模组根据所述测试信号进行初始化配置；利用FPGA模组对温度控制装置和DDR5测试装置进行在位判断，并根...

本发明公开了基于单内存条的SPD flash芯片冗余控制方法、装置及相关介质，该方法包括：对主SPD flash芯片和备份SPD flash芯片烧录相同的镜像固件资料；通过微控制单元对主SPD flash芯片的内存数据进行校验，以判断主...

本发明公开了一种DDR5内存SPD的检测方法、装置、设备及介质，所述方法包括：基于SPD数据长度确定SPD原始数据对应的检测结果；若确定检测结果是检测通过结果，则将产品数据基于预设文件与第一SPD原始数据进行比对得到第一比对结果；若确定...

本发明公开了一种具有温湿度控制的PCIE转接卡装置及控制方法，其中，温度传感器、湿度传感器、控制器、加湿器、加热器和散热器均装配于PCB板上；所述温度传感器、所述湿度传感器、所述加湿器、所述加热器和所述散热器均与所述控制器连接；所述加湿...

本发明公开了内存条PMIC芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：采用降压模块进行供电；当接收到内存条插入至内存条插槽所生成的接入信号时，向触摸电阻串口屏发送标识信息；其中，所述标识信息包括内存条插槽的内存条在位信息；对P...

本实用新型公开了一种组装内存辅助治具及高温测试设备，高温测试设备内设置有温腔，温腔内设置有用于插装内存条的插槽，组装内存辅助治具包括：治具支架，对应定位于温腔，并设置有对应插槽的导向结构；治具本体，通过导向结构朝插槽的方向竖直下压。本实...

本实用新型公开了一种组装内存辅助治具及高温测试设备，高温测试设备内设置有温腔，温腔内设置有用于插装内存条的插槽，组装内存辅助治具包括：治具支架，对应定位于温腔，并设置有对应插槽的导向结构；治具本体，通过导向结构朝插槽的方向竖直下压。本实...

本发明公开了提供了一种内存错误检测方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：针对每一测试服务器，登陆基板管理控制器；通过所述基板管理控制器向目标内存发送错误检测指令，根据所述错误检测指令判断所述目标内存是否存在内存错误；若判定所述目...

本发明公开了一种测试DDR4内存插槽电压的治具及测试方法，包括：治具本体、采集模块、处理器和显示模块；治具本体用于插入内存插槽中以实现通信连接；采集模块设置于治具本体上，用于动态轮巡采集内存插槽内的多处硬件电压并得到对应的采样值；处理器...

本发明公开了一种DDR5RDIMM功耗测试实现装置及实现方法，其中，当可编程直流电源与DDR5RDIMM功耗测试转接卡电连接且主机设备与服务器主板电连接时，所述主机设备上的测试脚本在所述服务器主板运行并通过所述DDR5RDIMM功耗测试...

本发明公开了一种Bypass模块的软启动与识别方法、装置及相关介质，该方法包括：检测Bypass模块的在位信号是否有效；当判定Bypass模块的在位信号有效时，生成软启动控制信号；将所述软启动控制信号发送至Bypass模块对应的软启动控...

本发明公开了一种基于FPGA的DDR功能测试系统及方法，该系统包括：控制设备及FPGA卡，其中，控制设备用于获取测试人员设置的与待测DDR相对应的界面信息；FPGA卡包括ARM模块及FPGA模块，ARM模块与控制设备连接，用于接收控制设...