公开了一种用于将应力信号分配到多个被测器件（DUT）的信号分配装置。分配装置包括接收要分配的应力电压信号的单个输入；将应力电压信号分配到多个DUT的多个输出；以及多个集成电流限制器和开关电路。每个集成电流限制器和开关电路通过多个输出中的...

通用多针可调探测组件(100)或操纵器，用于半导体晶片上的装置的参数和可靠性测试。可使用磁场在金属压板(120)上安装和调整探测组件。磁场的强度可通过可切换的磁板(130)来调整，块(140)通过臂(110)连接到磁板(130)。探头(...

用于半导体集成电路和部件的电迁移测试的脉冲电流电路。该电路包括多路复用器，其输出模拟电压脉冲并且能够生成双极和单极电压脉冲两者。至少一个运算放大器和电阻器从多路复用器接收电压脉冲并且将该电压脉冲转换成电流脉冲。提供用于使在测试电路中的电...

一种用于半导体晶圆的可靠性测试的晶圆探针台系统。晶圆探针台能够与可互换模块接口连接以用于测试半导体晶圆。晶圆探针台能够与不同的可互换模块一起使用以用于晶圆测试。诸如探针卡定位器和空气冷却的轨组件的模块例如能够被安装或对接到探针台。晶圆探...

一种用于测量半导体晶片的表面温度的晶片温度测量工具。该工具可被用于测量在该晶片的不同部分上的温度以提供高分辨率温度分布地图。该工具包括内部已校砝码，该已校砝码被可滑动地设置在工具本体内。温度传感器被附接到该已校砝码的底部。陶瓷支架被附接...

本发明涉及探针卡和强制空气冷却探针头组件，具体涉及一种探针卡，其在加热环境中被垂直地安装成大致正交于接受寿命测试的晶片，以限制探针卡暴露到来自于晶片夹盘的热量。该探针卡及探针头组件被安装到支撑轨道上，该支撑轨道具有一个或多个通道，用于使...

电流源配有两个电阻器排，并且数字电位计被用于控制每个电阻器排影响所得到的输出电流的程度。此外，当数字电位计处于特定的设置使得特定的电阻器排不影响所得到的输出电流（即该电阻器排“不活动”）时，该电阻器排的电阻可以被切换而不影响输出电流，从...

根据一个方面，提供了一种热可控的集成单元，其配置成保持测试中的装置。该集成单元包括至少一个加热器板，其由导热材料构成并且设置有至少一个全局加热器，该至少一个全局加热器配置成对ＤＵＴ板进行全局加热。集成单元的ＤＵＴ板包括与至少一个加热器板...

本发明公开一种用于自动半导体晶片测试的半自动多路转接系统，为待测半导体晶片中每个器件类型使用一个跳线块，每个跳线块具有：用于接收测试输入／输出线的输入，与待测器件的焊盘相对应的多个块接触，以及手动设置的连接器或跳线电缆，用于选择性地将跳...

电子被测器件（ＤＵＴ）可以被引入电路，所述电路具有与所述ＤＵＴ并联连接的电压限制器。所述电路包括受控电流源，该受控电流源具有与所述ＤＵＴ串联连接的输出电流。所述电压限制器的特征在于，当所述输出电流使得在没有所述电压限制器就位的情况下跨所...

电压源测量（ＶＳＭ）线路的具体结构使测量通过被测器件（ＤＵＴ）的电流时的共模误差最小，即使跨大范围的输出电压。电流ＩＤＵＴ不受共模误差影响，因为电流测量基于运算放大器或者差分放大器的输出电压，并且该电路结构使得在该运算放大器或者差分放大...

提供了一种能够接纳单块芯片到多块芯片的条形封装。导电路径在其上被印刷（或以其他方式整体成形）至封装的边缘，并且可以提供互补的插座与条形封装相结合以为测试电子设备提供电连接而无需使用封装引脚。条形封装可以由陶瓷或其他耐高温材料制成。条形封...

公开了一种用于测试集成电路的测试插座组件。单件插座主要由绝缘材料构成，并且具有多个形成在其中并被配置来接收多个导电弹簧的孔。单件插座的各孔在其中具有单个导电弹簧。测试插座包括多个被配置来接收集成电路的导线的管脚，测试插座的管脚伸入单件插...

一种用于向被测设备提供电流脉冲的脉冲电流发生器电路，包括用于向被测设备施加电流的电流源和用于从被测设备分流电流的受控电流分流器。提供了升压电路，用以在受控电流分流器打开并且电流再次流过被测设备时向被测设备提供升压电流，从而促进对与被测设...

互连组件用于连接具有到电子测试设备的多个引线的半导体被测器件（ＤＵＴ）。互连组件包括电缆，其中包括多条电线，至少一条电线用于发送来自ＤＵＴ的信号，至少一个电线用于送往ＤＵＴ的强制信号，以及至少一个电线用于通过与强制信号相同的电位来驱动的...

一种用于测试封装集成电路的插座，所述封装集成电路器件具有从其悬挂的多个引线，所述插座包括第一构件，所述第一构件用于接收集成电路封装件且具有多个孔以接收从所述封装件延伸的引线。第二构件具有多个导线触头以接合引线，所述第一和第二构件设置为允...

用于电子设备可靠性测试的一种双通道电源测量装置向要测试的设备提供了电压应力刺激并监控由应力模拟装置引起的该设备的退化。该双通道电源测量装置将该装置的应力部分和监控部分去耦以优化对它们各自的要求。可以在该双通道电源测量装置中引入限变器和电...

一种探针卡，其在加热环境中被垂直地安装成大致正交于接受寿命测试的晶片，以限制探针卡暴露到来自于晶片夹盘的热量。该探针卡及探针头组件被安装到支撑轨道上，该支撑轨道具有一个或多个通道，用于使冷空气流到探针头组件及探针卡，且同时其保护挠曲电缆...