本发明涉及模型提参技术领域，提供一种应用于集成电路器件的模型提参方法，包括：S1：获取目标数据；S2：获取可修改参数的组合，设置可修改参数的初始值；S3：为可修改参数设置自身的可调边界约束，以及可修改参数之间的互相约束；S4：对每一个可...

本申请实施例公开了一种特征提取的中断恢复方法、装置、电子设备及存储介质。该方案可以根据配置信息将特征提取任务分解为多个仿真子任务，并分别执行多个仿真子任务，当检测到异常中断信号时，获取当前执行成功的仿真子任务对应的第一仿真结果，根据中断...

本申请公开了一种标准单元库验证方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该标准单元库验证方法包括获取待验证标准单元库和参考标准单元库；将待验证标准单元库与参考标准单元库进行匹配，得到若干待比对组；采用相应的比对算法对待比对组进行比对验证，生...

本申请公开了一种设计规则检查方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该设计规则检查方法包括获取原始版图文件；提取原始版图文件中的层级和几何图形；根据层级和几何图形构建图形网络；采用预设算法对图形网络进行深入分析，生成检查报告；根据检查报告...

本申请公开了一种集成电路仿真验证方法及装置、电子设备、存储介质。所述方法包括：采用硬件描述语言为集成电路创建仿真模型；在仿真模型中将集成电路的预设模块进行等效简化，例如对通过宏模型引入的节点、通过非准静态效应模型引入的节点、及通过自热模...

本申请公开了一种语法解析方法及装置、电子设备、存储介质。所述方法包括：读取仿真模型的网表；获取网表中的各个子文件的读取条件；根据读取条件判断所述各个子文件是有效文件还是无效文件，有效文件标识子文件包含的信息与当前仿真事件具有关联关系，无...

本申请公开一种参数获取、电路仿真方法及系统、电路仿真设备、可读存储介质。其中参数获取方法包括：输出预设的第一数据窗口，所述第一数据窗口用于同时记录多组电路参数；所述第一数据窗口接收完电路参数之后，对所述第一数据窗口接收的所有数据进行压缩...

本发明涉及一种基于聚类算法的模型自动QA方法、系统、设备及存储介质。该基于聚类算法的模型自动QA方法，包括：获取用于QA检查的数据集；对获取的所述数据集进行规则检查，得到检查结果；使用聚类算法聚类分析所述检查结果，得到若干类聚类中心；比...

本发明提供了一种仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质。其中该种仿真电路耗时统计方法根据每个电路层级的电路物理量变化情况与待仿真电路整体的电路物理量变化情况，获取对应的电路层级的仿真耗时。通过本申请提出的技术方案，能够统计集成电路中...

本发明公开了一种用于Verilog

本发明涉及一种基于深度学习的模型参数提取方法、系统、设备及介质。该基于深度学习的模型参数提取方法包括待提取器件测量获得的测量数据输入预先建立的神经网络模型；所述测量数据包括分为若干独立的区域的电压