【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模型提参的，尤其涉及一种应用于集成电路器件的模型提参方法及系统。
技术介绍
1、在集成电路领域中，常常需要构建包括电流对电压，电容对电压以及电阻对电压在内的曲线模型模拟集成电路器件的电学特性，对于电路设计、性能评估和集成电路工程至关重要。
2、为了使得曲线模型模拟出的仿真数据尽可能的拟合测量数据，或者使得仿真曲线的趋势尽可能的顺应测量数据曲线的趋势。我们需要对仿真模型进行模型提参。
3、模型提参，即在已知的需要测量的目标数据的前提下，通过不断修改优化模型中的不同参数的大小，然后对目标数据进行仿真，希望在参数的不断修改和优化之后，仿真数据尽量拟合测量数据，或者仿真曲线趋势尽量顺应测量数据曲线的趋势。模型提参，也即对模型进行优化的过程，在模型优化的过程中，首先找到模型的可调参数，然后逐个调整这些可调参数，观察每次调整对仿真数据拟合效果的影响，直到仿真数据尽量拟合测量数据，或者仿真曲线趋势尽量顺应测量数据曲线的趋势。
4、在现有技术中，我们通过手动修改参数大小的方式去对测量数据进行拟合。但是通过手动修改的方式需要依赖操作者的经验，将导致拟合的准确率偏低。同时通过手动修改的方式拟合的速度很慢。
技术实现思路
1、针对上述问题，本专利技术的目的在于提供一种应用于集成电路器件的模型提参方法及系统，通过拟合优化算法自动修改模型的可调参数，对测量数据曲线进行自动拟合，无需依赖操作者的经验，拟合的准确度高，且拟合速度很快。
2、本专利技术
3、一种应用于集成电路器件的模型提参方法，包括以下步骤：
4、s1：获取集成电路器件中需要进行模拟的曲线模型的目标数据；
5、s2：获取在对所述曲线模型进行模型提参时可修改参数的组合，以及设置所述可修改参数的初始值；
6、s3：为每一个所述可修改参数设置自身的可调边界约束，以及所述可修改参数之间的互相约束；
7、s4：对每一个所述可修改参数进行归一化处理；
8、s5：设置对所述目标数据的仿真值和测量值进行比对的目标函数，以及依据所述目标函数对所述可修改参数进行敏感性检查；
9、s6：在所述可调边界约束和所述互相约束的范围内，使用数值优化算法修改所述可修改参数，拟合仿真和测量的曲线，直至依据所述可修改参数获取的所述仿真值与实际的所述测量值采用所述目标函数计算出的数值在预设范围内，获取得到最佳的所述可修改参数的组合作为所述曲线模型的参数。
10、进一步地，在步骤s1中，获取所述集成电路器件中需要进行模拟的所述曲线模型的所述目标数据，具体为：
11、需要进行模拟的所述曲线模型用于模拟所述集成电路器件的输入输出的特性曲线，将所述曲线模型的纵轴和横轴数据的关系作为需要模拟拟合的所述目标数据；
12、所述目标数据包括电流-电压曲线、电容-电压曲线和电阻-电压曲线在内的多种类型的关系数据。
13、进一步地，在步骤s2中，获取在对所述曲线模型进行模型提参时所述可修改参数的组合，以及设置所述可修改参数的所述初始值，具体为：
14、基于需要进行模拟的所述目标数据的类型设置与所述目标数据相匹配的所述可修改参数的组合；
15、对设置的每一个所述可修改参数设置所述初始值。
16、进一步地，在步骤s3中，为每一个所述可修改参数设置自身的所述可调边界约束，以及所述可修改参数之间的所述互相约束，具体为：
17、根据所述集成电路器件中的每一个所述可修改参数在相关文献中记载的规范、在物理上的可行性、以及观测可用实验数据中参数典型的取值范围确定所述可修改参数的最终的参数取值范围作为自身的所述可调边界约束，所述可调边界约束具体包括参数边界约束；
18、根据所述集成电路器件中的多个所述可修改参数的参数之间的物理关系、可用实验数据中参数与参数之间的关系、以及参数与参数之间的相容性条件确定所述可修改参数之间的所述互相约束，所述互相约束包括参数间等式约束和参数间不等式约束。
19、进一步地，在步骤s4中，对每一个所述可修改参数进行归一化处理，具体为：
20、采用包括上下边界归一化和初值归一化在内的方法进行归一化处理；
21、所述上下边界归一化，具体为：
22、
23、其中，x为每一个所述可修改参数的归一化之前的数值，lowerbound为所述可修改参数的下边界，upperbound为所述可修改参数的上边界，x'为每一个所述可修改参数的归一化之后的数值；
24、所述初值归一化，具体为：
25、
26、其中，x为每一个所述可修改参数的归一化之前的数值，initialvalue为所述可修改参数的初始值，initialrange为所述可修改参数的初始范围，x'为每一个所述可修改参数的归一化之后的数值。
27、进一步地，在步骤s5中，设置对所述目标数据的所述仿真值和所述测量值进行比对的所述目标函数，以及依据所述目标函数对所述可修改参数进行敏感性检查，具体为：
28、采用包括均方误差、绝对误差和曲线趋势的数学定义在内的差异比对方式作为所述目标函数对所述目标数据的所述仿真值和所述测量值进行比对；
29、使用数值方法计算所述目标函数对于每个所述可修改参数的偏导数或梯度，所述偏导数或梯度越大表示所述可修改参数对所述目标函数越敏感，逐个变化每个所述可修改参数的数值，观察所述目标函数的变化，所述目标函数变化越大表示所述可修改参数对所述目标函数越敏感；
30、保留敏感度高的所述可修改参数，去除敏感度低的所述可修改参数。
31、进一步地，在步骤s6中，在所述可调边界约束和所述互相约束的范围内，使用所述数值优化算法修改所述可修改参数，具体为：
32、采用包括lm算法、sqp算法、遗传算法、粒子群算法在的所述数值优化算法修改所述可修改参数。
33、一种用于执行如上述的应用于集成电路器件的模型提参方法的应用于集成电路器件的模型提参系统，包括：
34、目标数据获取模块，用于获取集成电路器件中需要进行模拟的曲线模型的目标数据；
35、可修改参数获取模块，用于获取在对所述曲线模型进行模型提参时可修改参数的组合，以及设置所述可修改参数的初始值；
36、参数约束设置模块，用于为每一个所述可修改参数设置自身的可调边界约束，以及所述可修改参数之间的互相约束；
37、归一化处理模块，用于对每一个所述可修改参数进行归一化处理；
38、目标函数设置模块，用于设置对所述目标数据的仿真值和测量值进行比对的目标函数，以及依据所述目标函数对所述可修改参数进行敏感性检查；
39、曲线拟合模块，用于在所述可调边界约束和所述互相约束的范围内，使用数值优化算法修改所述可修改参数本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S1中，获取所述集成电路器件中需要进行模拟的所述曲线模型的所述目标数据，具体为：
3.根据权利要求2所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S2中，获取在对所述曲线模型进行模型提参时所述可修改参数的组合，以及设置所述可修改参数的所述初始值，具体为：
4.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S3中，为每一个所述可修改参数设置自身的所述可调边界约束，以及所述可修改参数之间的所述互相约束，具体为：
5.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S4中，对每一个所述可修改参数进行归一化处理，具体为：
6.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S5中，设置对所述目标数据的所述仿真值和所述测量值进行比对的所述目标函数，以及依据所述目标函数对所述可修改参数进行敏感性检查，具体
7.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤S6中，在所述可调边界约束和所述互相约束的范围内，使用所述数值优化算法修改所述可修改参数，具体为：
8.一种用于执行如权利要求1-7任意一项所述的应用于集成电路器件的模型提参方法的应用于集成电路器件的模型提参系统，其特征在于，包括：
9.一种计算机设备，包括存储器和一个或多个处理器，所述存储器中存储有计算机代码，所述计算机代码被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机代码，当所述计算机代码被执行时，如权利要求1至7中任一项所述的方法被执行。
...【技术特征摘要】
1.一种应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤s1中，获取所述集成电路器件中需要进行模拟的所述曲线模型的所述目标数据，具体为：
3.根据权利要求2所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤s2中，获取在对所述曲线模型进行模型提参时所述可修改参数的组合，以及设置所述可修改参数的所述初始值，具体为：
4.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤s3中，为每一个所述可修改参数设置自身的所述可调边界约束，以及所述可修改参数之间的所述互相约束，具体为：
5.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法，其特征在于，在步骤s4中，对每一个所述可修改参数进行归一化处理，具体为：
6.根据权利要求1所述的应用于集成电路器件的模型提参方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：李永胜，石凯，王可亮，
申请(专利权)人：济南概伦电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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