仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质。其中该种仿真电路耗时统计方法根据每个电路层级的电路物理量变化情况与待仿真电路整体的电路物理量变化情况，获取对应的电路层级的仿真耗时。通过本申请提出的技术方案，能够统计集成电路中不同层次器件占用的仿真时间，方便开发者对于集成电路中每个功能模块的仿真耗时进行估计，进而给出针对性的优化方案，实现对于集成电路设计效率的提升，具有可推广价值。具有可推广价值。具有可推广价值。

【技术实现步骤摘要】
仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及电路仿真
，具体地，公开了一种仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]集成电路仿真是集成电路设计中的重要步骤之一，是为了验证集成电路设计的逻辑和电路功能正确与否，以确保电路设计的准确性，而集成电路仿真是集成电路设计流程中的一个主要耗时的过程之一，是左右集成电路设计周期的一个重要影响因素之一，提高集成电路仿真速度可以有效地缩短集成电路的设计周期，进一步的降低集成电路产品的设计成本并提高产品的竞争力。
[0003]集成电路仿真要对集成电路网表上的每一个仿真时间点进行仿真计算，传统的集成电路仿真方法往往是在时间维度上作为一个整体，逐个进行仿真时间点，也就是说，将待仿真集成电路作为一个整体的电路仿真时间窗口，从整个电路仿真时间窗口的起始时间点开始，顺序进行仿真计算，直至到达整个电路仿真时间窗口的终止时间点就结束电路仿真，这样整个电路的仿真时间为整个电路仿真时间窗口内各个仿真时间点所用的时间之和。
[0004]而随着集成电路的功能日益复杂，其电路的规模也日益庞大，如何提高集成电路仿真的速度成为一个研究热点，而提高集成电路的仿真速度首先需要对待仿真电路中不同电路层次和器件对应的仿真时间进行预先获取和优化，目前现有技术中并无法获取集成电路中各个电路层次对应的仿真时间。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的上述问题，本申请提供了一种仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质。具体的，本申请的第一方面提供了一种仿真电路耗时统计方法，包括：
[0006]对待仿真电路进行层级划分，划分得到若干电路层级；
[0007]对待仿真电路进行电路仿真，并获取电路仿真的仿真时长；
[0008]在电路仿真的过程中，对每个电路层级与待仿真电路整体的电路物理量变化情况进行记录；
[0009]根据每个电路层级的电路物理量变化情况与待仿真电路整体的电路物理量变化情况，获取对应的电路层级的仿真耗时。
[0010]在上述第一方面的一种可能的实现中，每个电路层级对应相对独立的功能特征及结构，包括若干电路节点以及若干电路器件；
[0011]每个电路节点对应若干所属的电路器件。
[0012]在上述第一方面的一种可能的实现中，电路物理量变化情况包括每个电路层级对应的电压变化情况、电流变化情况、功率变化情况中的一种或多种。
[0013]在上述第一方面的一种可能的实现中，在电路仿真的过程中对每个电路层级与待仿真电路整体的电路物理量变化情况进行记录包括：
[0014]获取待仿真电路中的全部电路节点以及电路器件的电压变化总数。
[0015]获取每个电路层级中的电路节点以及电路器件的电压变化数量。
[0016]在上述第一方面的一种可能的实现中，在获取电压变化数量的过程中，还包括：
[0017]在电路仿真过程中，在电路节点发生电压变化的情况下，对电路节点所属的电路器件进行计数；
[0018]在电路仿真过程完成后，根据电路器件的累积计数情况获得电压变化数量。
[0019]在上述第一方面的一种可能的实现中，电压变化总数为全体电路层级对应的电压变化数量之和。
[0020]在上述第一方面的一种可能的实现中，根据下式获取对应的电路层级的仿真耗时：
[0021][0022]其中，t为电路层级对应的仿真耗时，N为电路层级对应的电路物理量变化数量，M为待仿真电路整体的电路物理量变化总数，T为电路仿真的仿真时长。
[0023]本申请的第二方面提供了一种仿真电路耗时统计系统，应用于前述第一方面提供的仿真电路耗时统计方法，该种仿真电路耗时系统包括；
[0024]划分单元，用于对待仿真电路进行层级划分，划分得到若干电路层级；
[0025]仿真单元，用于对待仿真电路进行电路仿真，并获取电路仿真的仿真时长；
[0026]计数单元，用于在电路仿真的过程中，对每个电路层级与待仿真电路整体的电路物理量变化情况进行记录；
[0027]耗时获取单元，用于根据每个电路层级的电路物理量变化情况与待仿真电路整体的电路物理量变化情况，获取对应的电路层级的仿真耗时。
[0028]本申请的第三方面提供了一种仿真电路耗时统计设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现前述第一方面提供的仿真电路耗时统计方法。
[0029]本申请的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，该种计算机可读介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现前述第一方面提供的仿真电路耗时统计方法。
[0030]与现有技术相比，本申请具有如下的有益效果：
[0031]通过本申请提出的技术方案，能够统计集成电路中不同层次器件占用的仿真时间，方便开发者对于集成电路中每个功能模块的仿真耗时进行估计，进而给出针对性的优化方案，实现对于集成电路设计效率的提升，具有可推广价值。
附图说明
[0032]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0033]图1根据本申请实施例，示出了一种仿真电路耗时统计方法的流程示意图；
[0034]图2根据本申请实施例，示出了一种仿真电路耗时统计系统的结构示意图；
[0035]图3根据本申请实施例，示出了一种仿真电路耗时统计设备的结构示意图；
[0036]图4根据本申请实施例，示出了一种计算机可读存储介质的结构示意图。
具体实施方式
[0037]下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术，但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本专利技术的保护范围。
[0038]在本文中使用的术语“包括”及其变形表示开放性包括，即“包括但不限于”。除非特别申明，术语“或”表示“和/或”。术语“基于”表示“至少区域地基于”。术语“一个示例实施例”和“一个实施例”表示“至少一个示例实施例”。术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”。术语“第一”、“第二”等等可以指代不同的或相同的对象。下文还可能包括其他明确的和隐含的定义。
[0039]针对现有技术中存在的上述问题，本申请提供了一种仿真电路耗时统计方法、系统、设备及存储介质，能够实现对于集成电路中不同层次器件占用的仿真时间的直接获取。以下将结合实施例对本申请提供的技术方案进行阐释和说明。
[0040]具体地，在本申请的一些实施例中，图1示出了一种仿真电路耗时统计方法的流程示意图。如图1所示，具体可以包括：
[0041]步骤101：对待仿真电路进行层级划分，划分得到若干电路层级。其中，每个电路层级对应相对独立的功能特征及结构，包括若干电路节点以及若干电路器件，每个电路节本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种仿真电路耗时统计方法，其特征在于，所述方法包括；对待仿真电路进行层级划分，划分得到若干电路层级；对所述待仿真电路进行电路仿真，并获取所述电路仿真的仿真时长；在所述电路仿真的过程中，对每个所述电路层级与所述待仿真电路整体的电路物理量变化情况进行记录；根据每个所述电路层级的电路物理量变化情况与所述待仿真电路整体的电路物理量变化情况，获取对应的所述电路层级的仿真耗时。2.如权利要求1所述的仿真电路耗时统计方法，其特征在于，每个所述电路层级对应相对独立的功能特征及结构，包括若干电路节点以及若干电路器件；每个所述电路节点对应若干所属的所述电路器件。3.如权利要求1所属的仿真电路耗时统计方法，其特征在于，所述电路物理量变化情况包括每个所述电路层级对应的电压变化情况、电流变化情况、功率变化情况中的一种或多种。4.如权利要求2所述的仿真电路耗时统计方法，其特征在于，在所述电路仿真的过程中对每个所述电路层级与所述待仿真电路整体的电路物理量变化情况进行记录包括：获取所述待仿真电路中的全部所述电路节点以及所述电路器件的电压变化总数。获取每个所述电路层级中的所述电路节点以及所述电路器件的电压变化数量。5.如权利要求4所述的仿真电路耗时统计方法，其特征在于，在获取所述电压变化数量的过程中，还包括：在所述电路仿真过程中，在所述电路节点发生电压变化的情况下，对所述电路节点所属的所述电路器件进行计数；在所述电路仿真过程完成后，根据所述电路器件的累积计数情况获得所述电压变化数量。6.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊雪松，方军，李义辉，
申请(专利权)人：济南概伦电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：