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ICT半导体集成电路测试有限公司专利技术
ICT半导体集成电路测试有限公司共有44项专利
一种用于带电粒子束装置的物镜制造方法及图纸
本发明提供了一种用于带电粒子束装置的改进物镜。该物镜包括一个磁透镜,用于产生一个第一磁场将带电粒子束聚焦在样品上。而且,通过提供至少一个附加线圈配置,一个偏转装置被集成到磁透镜中,产生一个第二磁场用于使带电粒子束偏转。因此,第二磁场通过...
带电粒子束设备的光学柱制造技术
一种用于检查样品(14)的带电粒子束设备的小型化光学柱。该柱包括一个带电粒子源(2),用于提供一个带电粒子束(10);一个透镜系统,用于引导带电粒子束(10)自源(2)到样品(14)上;及一个外罩(40),在运行期间该外罩被置为束流加强...
用于离子源的发射器及其制造方法技术
提供一种用于离子源的发射器,尤其用于液态金属合金离子源(LMAIS)。该发射器包括二元合金PrSi作为源材料。
用于离子源的发射器及其生产方法技术
本发明提供了一种用于液态金属离子源的发射器(100),所述发射器包括导线(100),所述导线包括:基本弯曲的部分(115)和表面(120);其中,导线表面(120)至少一部分(125)在所述基本弯曲的部分(115)处变尖以形成发射器尖端...
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