本申请涉及一种缓存数据预取方法、处理器及电子设备，属于计算机领域。该缓存数据预取方法包括：在缓存数据预取过程中，获取预取数据的预取准确率；基于所述预取准确率判断是否需要从当前预取模式切换至其他预取模式；在为是时，从当前预取模式切换至其他...

本申请的实施例公开了一种PCIe完成超时错误处理方法及控制单元，涉及计算机及集成电路等领域，为提高数据传输的可靠性。所述超时错误控制单元，包括：检测模块，用于检测目标PCIe链路的状态是否异常；还用于检测目标PCIe链路的缓存单元中是否...

本发明实施例提供一种总线协议验证方法、系统及相关设备，其中，所述方法，包括：获取响应数据，所述响应数据由总线协议的待测设计在对应激励请求的作用下产生，且所述激励请求基于符合总线协议的请求信息获得；在确定所述响应数据为验证任务所需时，确定...

本申请公开了一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。所述方法包括：基于待测功能模块列表，为待测功能模块列表中的各待测功能模块创建对应的测试程序开发仓库；其中，各待测功能模块为同一芯片上的待测功能模块；基...

本申请的实施例公开了一种半导体产品物料清单生成方法、装置及电子设备，涉及半导体制造技术领域，为便于提高半导体制造厂商生产效率而发明。所述方法，包括：接收工程变更信息以及所述工程变更信息所应用的应用场景信息；所述应用场景信息包括预设的生产...

本公开的至少一实施例提供了用于数据通路的操作方法、计算装置及存储介质。该用于数据通路的操作方法包括：基于对对象指令进行解码而得到的提示信号，将对象指令中的源操作数寄存器的标志信息赋值给对象指令中的目的操作数寄存器，其中，标志信息用于指示...

本申请提供一种低压差线性稳压器及控制方法、电池管理系统、电子设备，涉及电子电路的技术领域。低压差线性稳压器，包括：开关阵列、模数转换电路、下冲检测器、控制器，模数转换电路的输入端与开关阵列的输出端连接，模数转换电路被配置为将开关阵列的输...

本发明实施例公开的芯片插座安装接触电阻测试装置及方法，涉及半导体测试技术领域，包括：测试主板，至少布设有第一走线、第二走线及第三走线；测试基板，至少布设四个管脚，并通过第四走线互联，所述第三管脚与第四管脚通过第五走线互联；芯片插座，位于...

本发明实施例公开的芯片连接器的高频电气特性测试装置及方法，涉及半导体测试技术领域，包括：测试主板，布设有多个第一信号线；测试基板，布设有第二信号线；待测连接器，位于测试主板和测试基板之间并包括多个连接件；其中，两个第一信号线的一端分别与...

本申请实施例提供一种带宽参数设置方法、芯片设计方法、装置及相关设备，所述带宽参数设置方法用于设置包括IP源端、目的端以及连接IP源端和目的端的总线通路的IP系统的带宽参数，包括：调用预构建的至少指示IP系统的多种带宽参数之间的变化关系的...

本公开提供一种用于验证分支预测模块的随机指令生成方法

本申请提供一种电源质量检测器、芯片及电源质量检测系统，涉及芯片领域，电源质量检测器包括：模数转换器，模数转换器包括信号输入端与信号输出端，所述信号输入端与待测电源的电压输出端连接，所述模数转换器用于获取所述待测电源输出的电压信号；缓存器...

本发明实施例提供一种接口协议转换验证系统及方法、电子设备及存储介质，其中，所述接口协议转换验证系统，包括：接口桥接器，用于将待转换接口协议对应的待转换接口信息转换为待验证接口信息；接口信息获取模块，用于获取待验证接口信息和目标接口协议对...

本申请提供一种测试结构、晶粒、硅晶元、芯片及系统，涉及半导体器件领域。测试结构包括：触点、多路选择器和多个金属凸点；所述触点用于与测试设备电连接；不同所述金属凸点用于分别与被测晶圆的不同被测结构电连接；所述触点通过所述多路选择器与所述金...

本申请提供一种电流检测电路、方法、芯片、电子部件及电子设备，电流检测电路包括：与待检测的数字电路的电流特性一致的取样电路；电流输入装置，与取样电路连接，以向取样电路输出电流；比较器，分别与取样电路和待检测的数字电路的供电电源连接，以比较...