【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、半导体芯片测试一般需要经历多个测试，如ws(wafer sort，晶圆测试)，封装后的ft(final test，成品测试)，以及系统级的slt(system level test，芯片系统级别测试)。其中ws和ft测试都要使用ate(automatic test equipment，自动化测试设备)来完成测试验证任务。随着半导体芯片的快速发展，芯片设计越来越复杂，一个soc(system-on-chip，系统级芯片，又称为片上系统，其中包含完整系统并嵌入软件的全部内容，是一个具有专用目标的集成电路)芯片可以包含几十个功能模块，都要在ws和ft阶段完成电性和功能测试。
2、由于芯片市场竞争激烈，要求产品从研发到上市的时间也越来越短，例如ate测试需要在有限的时间内完成复杂芯片所有功能模块的开发和验证。对于ate测试程序开发，现有业界普遍做法是在公共的开发环境中，第一个ip模块(intellectual property module，一种预先设计好的可能已经过验证的具有某种确定功能的集成电路、器件或部件)开发者完成对应模块调试后，另一个ip模块开发者才可以开始调试下一模块，采用依次轮流调试的方式完成测试程序的验证开发，导致测试程序开发耗时较长。
技术实现思路
1、为了解决现有的芯片测试程序生成效率低的问题，本申请提供一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质。
...【技术保护点】
1.一种芯片测试程序生成方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述基于待测功能模块列表，为所述待测功能模块列表中的各待测功能模块创建对应的测试程序开发仓库，包括：
3.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中，包括：
4.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中，包括：
5.如权利要求1或4所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中之后，所述方法包括：
6.如权利要求5所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述基于至少两个待测功能模块各自的测试程序，生成所述芯片的测试程序，包括：
7.一种芯片测试程序生成方法，其特征在于，包括：
8.如权利要求7所述的芯片测试
9.一种芯片测试程序生成装置，其特征在于，包括：
10.如权利要求9所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，所述创建单元具体用于基于待测功能模块列表，在指定项目目录下，为所述待测功能模块列表中的各待测功能模块，批量创建对应的测试程序开发仓库。
11.如权利要求9所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，所述保存单元包括：
12.如权利要求9所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，所述保存单元具体用于：
13.如权利要求9或12所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，还包括标签单元，用于在获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中之后，接收对所述测试程序开发仓库中保存的待测功能模块的测试程序的标签设置。
14.如权利要求13所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，所述程序生成单元包括：
15.一种芯片测试程序生成装置，其特征在于，包括：
16.如权利要求15所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，还包括模块程序标签单元，用于将待测功能模块的测试程序上传至对应的测试程序开发仓库中之后，对上传至所述测试程序开发仓库中的待测功能模块的测试程序设置标签。
17.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述权利要求1-8中任一项所述的芯片测试程序生成方法。
18.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述权利要求1-8中任一项所述的芯片测试程序生成方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试程序生成方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述基于待测功能模块列表，为所述待测功能模块列表中的各待测功能模块创建对应的测试程序开发仓库，包括：
3.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中，包括：
4.如权利要求1所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中，包括：
5.如权利要求1或4所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述获取各待测功能模块的测试程序，并将各待测功能模块的测试程序保存至对应的测试程序开发仓库中之后，所述方法包括：
6.如权利要求5所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述基于至少两个待测功能模块各自的测试程序，生成所述芯片的测试程序，包括：
7.一种芯片测试程序生成方法，其特征在于，包括：
8.如权利要求7所述的芯片测试程序生成方法，其特征在于，所述将待测功能模块的测试程序上传至对应的测试程序开发仓库中之后，还包括：
9.一种芯片测试程序生成装置，其特征在于，包括：
10.如权利要求9所述的芯片测试程序生成装置，其特征在于，所述创建单元具体用于基于待测功能模块列表，在指定项目目录下，为所述待测功能模块列表中的各待测功能模块，批量创建对应的测试程序开发仓库。
11.如权利要求9所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：章晨杰，张清华，刘翔，
申请(专利权)人：海光信息技术成都有限公司，
类型：发明
国别省市：
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