本发明涉及半导体检测领域，尤其涉及一种半导体检测装置。本发明提供一种能够适用于不同厚度的适用性强的半导体检测装置。一种半导体检测装置，包括检测机体、移动板、显示灯、正极电板和负极电板等；检测机体的顶部上下滑动式连接有移动板，移动板的前侧...