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北京无线电计量测试研究所专利技术
北京无线电计量测试研究所共有1863项专利
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统技术方案
本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置制造方法及图纸
本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置,该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头...
用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统技术方案
本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4),支架(1)包括底座(11)、角度调节装置(12)和测试杆(13),第一探头(3)和第二探头(4)分别固定于测试杆(...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术
本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(6...
一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术
本实用新型公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括支撑杆(1)、安装座(2)、旋转环(3)、定位环(4)、旋转盘(5)、旋钮(6)和测试杆(7),安装座(2)设于支撑杆(1)的顶端,定位环(4)的一侧设有第一凸缘(41...
用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架制造技术
本实用新型公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架,该支架包括支撑杆(1)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5),定位环(2)设于支撑杆(1)的顶端,定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21),定位环(2)的中心...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置制造方法及图纸
本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,该支撑装置包括底座(1)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7);所述底座(1)包括固定盘(11)、第一座臂...
一种新型低频圆锥波纹透镜喇叭天线制造技术
本实用新型公开了一种低频圆锥波纹透镜喇叭天线,包括馈电装置、波纹喇叭装置、透镜装置,所述波纹喇叭装置由多个圆锥波纹模块组合而成。该装置降低了天线加工难度、加工周期和加工成本,更使得成品率大大提高;解决了直接整体圆锥波纹喇叭天线的难题;在...
一种仰角可调的辐射计定标源制造技术
本实用新型涉及一种仰角可调的辐射计定标源,该定标源包括辐射体、机壳、金属罩和控温体,该定标源还包括用于放置辐射体的固定架和用于驱动机壳旋转的驱动部件,所述固定架设置在机壳内且与该机壳连接,所述驱动部件设置在机壳的两侧且与该机壳连接。辐射...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置制造方法及图纸
本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置,该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头固定...
用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架制造技术
本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架,该支架包括支撑杆(1)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5),定位环(2)设于支撑杆(1)的顶端,定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21),定位环(2)的中心设有...
一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术
本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括支撑杆(1)、安装座(2)、旋转环(3)、定位环(4)、旋转盘(5)、旋钮(6)和测试杆(7),安装座(2)设于支撑杆(1)的顶端,定位环(4)的一侧设有第一凸缘(41),...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术
本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(61)...
快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统技术方案
本发明公开了一种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统,该方法包括如下步骤:选定矩形校准平面的顶点为测量点;将转轴(2)置于校准平面的中心,通过调节定位装置(4)使得测试杆(3)被限定在校准平面内,通过选择测试杆(3)的长度使得探头(6...
一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统技术方案
本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)和至少一个探头(3),支架(1)包括支撑杆(11)、安装座(12)、旋转环(13)、定位环(14)、旋转盘(15)、旋钮(16)和测试杆(17),测...
用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统技术方案
本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4),支架(1)包括底座(11)、角度调节装置(12)和测试杆(13),第一探头(3)和第二探头(4)分别固定于测试杆(13...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统技术方案
本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(...
用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型系统技术方案
本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)和至少一个探头(3),支架(1)包括支撑杆(11)、定位环(12)、旋转盘(13)、旋钮(14)和测试杆(15),测试杆(15)上设有至少一个探...
用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术
本发明提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括底座(1)、角度调节装置(2)和测试杆(3);底座(1)包括两个支撑臂(11)和固定盘(14),两个支撑臂(11)互成90度角且与固定盘(14)固接,每个支撑臂(11)靠近固定盘...
一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置制造方法及图纸
本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,该支撑装置包括底座(1)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7);所述底座(1)包括固定盘(11)、第一座臂(1...
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