一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(61)和第二探头固定装置(62)。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低，使用方便。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种支撑装置，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。
技术介绍
用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。目前，非常需要一种能够用于校准瞬变电磁场的场均匀性的支架。·
技术实现思路
本技术的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。本技术提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架包括底座、转轴、圆拱形的第一拱衬、圆拱形的第二拱衬、第一测试杆、第二测试杆、第一旋钮、第二旋钮、第一探头固定装置和第二探头固定装置；所述底座的上表面设有凸起，所述转轴固定于所述凸起上，所述第一拱衬和所述第二拱衬设于所述底座的上表面，且所述凸起和所述转轴穿过所述第一拱衬和所述第二拱衬的中空部分，所述第一拱衬所在的平面和所述第二拱衬所在的平面分别与所述底座的上表面垂直；所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别与所述转轴铰接，且所述第一测试杆和所述第二测试杆分别能够绕所述转轴转动，所述第一拱衬被设置为穿过所述第一测试杆的底端的缺口，所述第二拱衬被设置为穿过所述第二测试杆的底端的缺口；所述第一拱衬上设有圆拱形的第一凹槽，所述第一旋钮上设有螺纹，所述第一测试杆底端的第二侧板上设有与所述第一旋钮配合的螺纹，所述第一旋钮穿过所述第一测试杆底端的第一侧板和所述第一凹槽与所述第一测试杆底端的第二侧板配合，通过旋紧所述第一旋钮能够使所述第一测试杆的位置固定；所述第二拱衬上设有圆拱形的第二凹槽，所述第二旋钮上设有螺纹，所述第二测试杆底端的第四侧板上设有与所述第二旋钮配合的螺纹，所述第二旋钮穿过所述第二测试杆底端的第三侧板和所述第二凹槽与所述第二测试杆底端的第四侧板配合，通过旋紧所述第二旋钮能够使所述第二测试杆的位置固定；所述第一探头固定装置设于所述第一测试杆上；所述第二探头固定装置设于所述第二测试杆上，所述第一探头固定装置能够沿所述第一测试杆自由滑动，所述第二探头固定装置能够沿所述第二测试杆自由滑动，所述第一探头固定装置上设有第三旋钮，所述第二探头固定装置上设有第四旋钮，通过旋紧所述第三旋钮能够使所述第一探头固定装置的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮能够使所述第二探头固定装置的位置固定。优选地，所述第一拱衬和所述第二拱衬上分别设有角度刻度。优选地，所述第一测试杆的底端设有第一角度观察窗，所述第二测试杆的底端设有第二角度观察窗。优选地，所述第一测试杆和所述第二测试杆上分别设有长度刻度。优选地，所述第一探头固定装置上设有第一长度观察窗，所述第二探头固定装置上设有第二长度观察窗。优选地，所述凸起呈圆拱形。本技术具有如下有益效果(I)当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度；(2)所述支架对探头的位置和角度的调节精度高；(3)所述支架制作成本低，使用方便。附图说明图I为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的示意图；图2为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一拱衬的不意图；图3为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二拱衬的不意图；图4为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一测试杆的侧视图；图5为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一测试杆的正视图；图6为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二测试杆的侧视图；图7为本技术实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二测试杆的正视图。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术的内容作进一步的描述。本实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架包括底座I、转轴2、圆拱形的第一拱衬31、圆拱形的第二拱衬32、第一测试杆41、第二测试杆42、第一旋钮51、第二旋钮52、第一探头固定装置61和第二探头固定装置62，如图I所示。底座I的上表面设有凸起7，转轴2固定于凸起7上，如图I所示。在本实施例中，凸起7呈例如圆拱形。第一拱衬31和第二拱衬32设于底座I的上表面，且凸起7和转轴2穿过第一拱衬31和第二拱衬32的中空部分，第一拱衬31所在的平面和第二拱衬32所在的平面分别与底座I的上表面垂直。第一测试杆41和第二测试杆42的底端分别呈“h”字形，如图4和图6所示。第一测试杆41和第二测试杆42的底端分别与转轴2铰接，且第一测试杆41和第二测试杆42分别能够绕转轴2转动。第一拱衬31被设置为穿过例如第一测试杆41的底端的缺口 412 ;第二拱衬32被设置为穿过例如第二测试杆42的底端的缺口422。第一拱衬31上设有圆拱形的第一凹槽311，如图I和图2所示。第一旋钮51上设有螺纹，第一测试杆41底端的第二侧板414上设有与第一旋钮51配合的螺纹。第一旋钮51穿过第一测试杆41底 端的第一侧板413和第一凹槽311与第一测试杆41底端的第二侧板414配合，通过旋紧第一旋钮51能够使第一测试杆41的位置固定。第二拱衬32上设有圆拱形的第二凹槽321，如图I和图3所示。第二旋钮52上设有螺纹，第二测试杆42底端的第四侧板424上设有与第二旋钮52配合的螺纹。第二旋钮52穿过第二测试杆42底端的第三侧板423和第二凹槽321与第二测试杆42底端的第四侧板424配合，通过旋紧第二旋钮52能够使第二测试杆42的位置固定。第一探头固定装置61设于第一测试杆41上；第二探头固定装置62设于第二测试杆42上，如图I所示。第一探头固定装置61能够沿第一测试杆41自由滑动；第二探头固定装置62能够沿第二测试杆42自由滑动。第一探头固定装置61上设有例如第三旋钮611 ;第二探头固定装置62上设有例如第四旋钮621，如图5和图7所示。通过旋紧第三旋钮611能够使第一探头固定装置61的位置固定；通过旋紧第四旋钮621能够使第二探头固定装置62的位置固定。在本实施例中，第一探头固定装置61用于固定例如测试探头81，第二探头固定装置62用于固定例如参考探头82。在本实施例中，第一拱衬31和第二拱衬32上分别设有角度刻度。如图5和图7所不，第一测试杆41的底端设有例如第一角度观察窗411,第二测试杆42的底端设有例如第二角度观察窗421，用于观察角度刻度值。第一测试杆41和第二测试杆42上分别设有长度刻度。第一探头固定装置61上设有第一长度观察窗612，第二探头固定装置62上设有第二长度观察窗622，用于观察长度刻度。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低，使用方便。应当理解，以上借助优选实施例对本技术的技术方案进行的详细说明是示意性的而非限制性的。本领域的普通技术人本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(61)和第二探头固定装置(62)；所述底座(1)的上表面设有凸起(7)，所述转轴(2)固定于所述凸起(7)上，所述第一拱衬(31)和所述第二拱衬(32)设于所述底座(1)的上表面，且所述凸起(7)和所述转轴(2)穿过所述第一拱衬(31)和所述第二拱衬(32)的中空部分，所述第一拱衬(31)所在的平面和所述第二拱衬(32)所在的平面分别与所述底座(1)的上表面垂直；所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)的底端分别与所述转轴(2)铰接，且所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)分别能够绕所述转轴(2)转动，所述第一拱衬(31)被设置为穿过所述第一测试杆(41)的底端的缺口(412)，所述第二拱衬(32)被设置为穿过所述第二测试杆(42)的底端的缺口(422)；所述第一拱衬(31)上设有圆拱形的第一凹槽(311)，所述第一旋钮(51)上设有螺纹，所述第一测试杆(41)底端的第二侧板(414)上设有与所述第一旋钮(51)配合的螺纹，所述第一旋钮(51)穿过所述第一测试杆(41)底端的第一侧板(413)和所述第一凹槽(311)与所述第一测试杆(41)底端的第二侧板(414)配合，通过旋紧所述第一旋钮(51)能够使所述第一测试杆(41)的位置固定；所述第二拱衬(32)上设有圆拱形的第二凹槽(321)，所述第二旋钮(52)上设有螺纹，所述第二测试杆(42)底端的第四侧板(424)上设有与所述第二旋钮(52)配合的螺纹，所述第二旋钮(52)穿过所述第二测试杆(42)底端的第三侧板(423)和所述第二凹槽(321)与所述第二测试杆(42)底端的第四侧板(424)配合，通过旋紧所述第二旋钮(52)能够使所述第二测试杆(42)的位置固定；所述第一探头固定装置(61)设于所述第一测试杆(41)上；所述第二探头固定装置(62)设于所述第二测试杆(42)上，所述第一探头固定装置(61)能够沿所述第一测试杆(41)自由滑动，所述第二探头固定装置(62)能够沿所述第二测试 杆(42)自由滑动，所述第一探头固定装置(61)上设有第三旋钮(611)，所述第二探头固定装置(62)上设有第四旋钮(621)，通过旋紧所述第三旋钮(611)能够使所述第一探头固定装置(61)的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮(621)能够使所述第二探头固定装置(62)的位置固定。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姚利军，沈涛，黄建领，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：实用新型
国别省市：