【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种支撑装置，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支 撑装置。
技术介绍
用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。目前，非常需要一种能够用于校准瞬变电磁场的场均匀性的支撑装置。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置。本技术提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置包括底座、转轴、主体架、第一旋转盘、第二旋转盘、第一探头固定装置和第二探头固定装置；所述底座包括固定盘、第一座臂和第二座臂，所述第一座臂和所述第二座臂被设置于同一平面内，且在该平面内所述第一座臂与所述第二座臂之间成一夹角，所述固定盘固定于所述第一座臂与所述第二座臂连接处的顶端，所述转轴固定于所述固定盘的中心位置；所述主体架包...
【技术保护点】
用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置，其特征在于，该支撑装置包括底座(1)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7)；所述底座(1)包括固定盘(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13)，所述第一座臂(12)和所述第二座臂(13)被设置于同一平面内，且在该平面内所述第一座臂(12)与所述第二座臂(13)之间成一夹角，所述固定盘(11)固定于所述第一座臂(12)与所述第二座臂(13)连接处的顶端，所述转轴(2)固定于所述固定盘(11)的中心位置；所述主体架(3)包括测试杆(31)、第一支杆(32)、第二支杆(...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄建领，沈涛，姚利军，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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