【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种支撑装置,特别涉及一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架。
技术介绍
校准瞬变电磁场的场均匀性时,通常需要应用校准系统来测试多个位置点。校准瞬变电磁场的场均匀性时,不但需要支架支撑和固定测试探头,而且需要通过支架调节测试探头的位置。具体地,校准瞬变电磁场的场均匀性时,通常需要通过调节支架来改变探头的高度,甚至需要通过移动支架实现探头位置的改变。现有技术中的支架在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便,校准速度缓慢。 目前,非常需要一种用于快速校准瞬变电磁场的场均匀性的新型支架。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架。本专利技术提供的用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架包括支撑杆、定位环、旋转盘、旋钮和测试杆,所述定位环设于所述支撑杆的顶端,所述定位环的内周侧设有多个凹槽,所述定位环的中心设有至少ー个连接键,每个所述连接键的一端与所述旋钮固接,每个所述连接键的另一端与定位键铰接,所述旋转盘的ー侧设有外径小于所述定位环内径的凸缘,所述凸缘上设有与所述定位键配合的缺ロ,所述旋转盘的设有所述凸缘的一侧的中心设有转轴,所述凸缘穿进所述定位环,且所述定位键能够穿过所述缺ロ,所述旋钮安装于所述转轴上,且所述旋钮能够绕所述转轴转动,所述测试杆固接于所述旋转盘的与所述凸缘相対的ー侧,所述测试杆上设有至少ー个探头固定装置。优选地,所述连接键的一端设有第一螺孔,所述旋钮上设有与所述第一螺孔配合的第二螺孔,所述连接键通过所述第一螺孔和所述第二螺孔与所述旋钮固接。优选地,所述连接键的另一端设有不带螺纹的通孔,所述 ...
【技术保护点】
用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架,其特征在于,该支架包括支撑杆(1)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5),所述定位环(2)设于所述支撑杆(1)的顶端,所述定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21),所述定位环(2)的中心设有至少一个连接键(22),每个所述连接键(22)的一端与所述旋钮(4)固接,每个所述连接键(22)的另一端与定位键(23)铰接,所述旋转盘(3)的一侧设有外径小于所述定位环(2)内径的凸缘(31),所述凸缘(31)上设有与所述定位键(23)配合的缺口(32),所述旋转盘(3)的设有所述凸缘(31)的一侧的中心设有转轴(33),所述凸缘(31)穿进所述定位环(2),且所述定位键(23)能够穿过所述缺口(32),所述旋钮(4)安装于所述转轴(33)上,且所述旋钮(4)能够绕所述转轴(33)转动,所述测试杆(5)固接于所述旋转盘(4)的与所述凸缘(31)相对的一侧,所述测试杆(5)上设有至少一个探头固定装置(51)。
【技术特征摘要】
1.用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架,其特征在于,该支架包括支撑杆(I)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5),所述定位环(2)设于所述支撑杆(I)的顶端,所述定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21),所述定位环(2)的中心设有至少ー个连接键(22),每个所述连接键(22)的一端与所述旋钮(4)固接,每个所述连接键(22)的另一端与定位键(23)铰接,所述旋转盘(3)的一侧设有外径小于所述定位环(2)内径的凸缘(31),所述凸缘(31)上设有与所述定位键(23)配合的缺ロ(32),所述旋转盘(3)的设有所述凸缘(31)的ー侧的中心设有转轴(33),所述凸缘(31)穿进所述定位环(2),且所述定位键(23)能够穿过所述缺ロ(32),所述旋钮(4)安装于所述转轴(33)上,且所述旋钮(4)能够绕所述转轴(33)转动,所述测试杆(5)固接于所述旋转盘(4)的与所述凸缘(31)相对的ー侧,所述测试杆(5)上设有至少ー个探头固定装置(51)。2.根据权利要求I所述的用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架,其特征在于,所述连接键(22)的一端设有第一螺孔(221),所述旋钮(4...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚利军,沈涛,黄建领,
申请(专利权)人:北京无线电计量测试研究所,
类型:发明
国别省市:
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