一种基于采样保持的电荷泵锁相环锁定检测电路，其特征在于，包括：电压电压转换电路A、电压电压转换电路B、采样保持电路SH1、采样保持电路SH2和比较器。电荷泵锁相环中环路滤波器输出的控制电压作为锁定检测电路的输入，其分别连接到电压电压转换...

一种基于FPGA的可扩展CPU监控装置，I/O接口译码时序模块与CPU的I/O接口连接，解析来自CPU的指令并将指令相应地下发给ADC驱动时序模块、OC指令控制模块、1553B通信监控模块、1553B时序控制模块；ADC驱动时序模块根据...

本发明公开了一种用于FLASH冗余修复的地址译码控制电路，包含字线地址译码控制电路和字线冗余替换修复电路。本发明通过增加对字线地址译码器实施控制的电路结构，实现屏蔽存在缺陷存储单元的标准字线，同时利用冗余字线进行替换修复，完成修复后的存...

本发明提供了一种可校准输出失调的折叠插值架构ADC预放大阵列电路，该电路包括校准逻辑控制电路、基准参考电压DAC、校准电流舵DAC电路和预放大器阵列电路；预放大器阵列电路的每个放大器差分正输出端并联连接正输出端校准电阻、负输出端并联连接...

本发明公开了一种适用于多通道流水线ADC的高速低功耗差分运算放大器，包括：第一级放大器、交叉耦合负阻结构、第二级放大器、密勒补偿电路、共模反馈模块；其中，所述第一级放大器的信号输出端分别连接所述第二级放大器的输入端和所述交叉耦合负阻结构...

一种总剂量通用试验系统及方法，系统包括试验架、电源和PC机；试验架包括可移动卡槽、第一线缆接口、可拆式电压表、第二线缆接口、轨道；可移动卡槽安装在轨道上，可移动卡槽承载待测试验板，可移动卡槽能够沿轨道移动；第一线缆接口位于可移动卡槽远离...

本发明涉及基于自旋锁的多核处理器共享数据访问设计方法。本发明设计了两个4N位抗辐射加固原子锁寄存器，可以实现两个寄存器原子锁，每个寄存器可以分为高2N位和低2N位两个部分，其中低2N位保存正在申请该寄存器原子锁的处理器核的识别号CORE...

本发明涉及一种输出失调自校准的高增益低功耗比较器，它包括采样开关、预放大器、输出失调自校准单元和输出动态锁存器。本发明在传统比较器的基础上加入了输出失调自校准单元，主要由六个开关(SW5、SW6、SW7、SW8、SW9、SW10)、两个...

一种基于相位插值的抗辐照Serdes收发器CDR电路，摒弃传统的完全基于PLL结构的CDR电路，采用数据和边沿双高速采样器、抗辐照CDR状态机、高精度相位插值器和基于LC振荡器的通用PLL实现对0.5～12.5Gbps高速数据和时钟进行...

本发明涉及一种新型的精度可调的温度传感器电路，上电完成后，感温电路开始工作，产生与温度相关的电压VREF和VT，跟随器电路保证电压V1的温度特性与VT一致，实现电平移位。比较器电路在时钟控制下比较VREF和V2的电压值，输出对应的高低信...

本发明涉及一种基于虚拟仪器的数模转换器自动修调系统及修调方法，修调系统包括电源、码型发生器、万用表、待修调DAC评估板、上位机；待修调DAC评估板包括待修调DAC芯片、晶振、时钟源芯片、基准源电路、继电器。该修调方法通过上位机控制码型发...

一种低开销抗辐射存储单元版图结构，由两块半边基本单元版图模块拼接组成；每个半边基本单元版图模块中：第一P阱位于第一传输管和下拉管版图结构的一侧；第一传输管和下拉管版图结构的另一侧与第一上拉管版图结构紧贴；N阱位于第一上拉管版图结构和第二...

本发明涉及一种基于BiCMOS工艺的MLVDS接收器电路，包括共模变换电路、预放大电路、type1和type2控制电路、迟滞比较器电路和差分转单端电路。共模变换电路对宽共模范围的输入信号进行压缩处理；预放大电路识别并放大压缩后的差分信号...

本发明一种集成电路菊花链结构及失效定位方法，电路结构包括：塑封基板、基板布线、基板通孔、基板测试焊盘、BGA焊盘、芯片、芯片内布线、TSV通孔、芯片焊盘、倒装焊点。塑封基板正面设置若干基板布线和基板测试焊盘，基板布线连通基板上测试焊盘和...

本发明涉及一种PROM编程器，包括PC机、PROM编程板、PROM子板和程控电源。FPGA编程板设有FPGA芯片，电平转换芯片；FPGA通过电平转换芯片与PROM芯片进行数据交互，通过电平转换芯片的逻辑控制端对IO端口进行方向控制，实现...

一种电子器件外观检验治具及其检验方法，多层翻转复合结构(1)可拆卸安装在所述万向移动平台(2)上，多层翻转复合结构(1)包括至少二层翻转板；每层翻转板包括滑动限位区和放置功能区，放置能区设置网孔矩阵，所述网孔边缘铣圆角；上层翻转板的网孔...

本发明涉及一种微型变压器隔离层的制备方法，步骤包括：选用N型<100>双抛圆片为衬底；双抛圆片上蒸发一层铝，在铝层表面进行光刻，形成光刻图形；将光刻后的双抛圆片放入铝腐蚀液中进行腐蚀，去除双抛圆片表面的光刻图...

基于核范数最小化和机器学习的芯片缺陷检测方法及系统，方法包括步骤：对采集的芯片缺陷数据，使用基于核范数最小化的背景分离方法将图像前景和背景分离；通过霍夫曼变换识别出前景图像的焊盘位置，将其对应像素置0消除焊盘图像；使用腐蚀、膨胀等图像处...

本发明提供了一种SRAM型FPGA复杂IP核精准辐照评估方法，包括：(1)对重离子进行Geant4蒙特卡洛仿真；(2)对待测FPGA进行包含重离子物理特性的器件单元级TCAD仿真；(3)将仿真参数转化为spice网表，进行Pspice仿...

本发明提供一种应用于FPGA的高安全电路设计，包括鉴权电路、回读译码电路、寄存器控制电路三个模块。鉴权电路将对FPGA的加密码流进行身份验证，若鉴权失败，将通过逻辑运算控制WBSTAR寄存器读出的值为预设的值；或在鉴权失败后，破坏针对W...