本发明提供光调制器和光调制器阵列，其中，光调制器(1A)包括：基体层(10)；在基体层(10)上形成的金属反射层(20)；在反射层(20)上形成的非线性光学晶体的调制层(25)；和导电图案层(30)，其包含在第1方向上周期性地排列并且按...

光导(30)具备透光性构件(31)。透光性构件(31)包括：光入射的光入射面(32)；设置在透光性构件(31)的光入射面(32)的相反侧，出射光的光出射面(33)；与光入射面(32)相对，将从光入射面(32)入射的光作为平行光反射的抛物...

本发明的光检测器(1A)具备：第1导电型半导体层(2)；半导体光吸收层(3)，其设置在第1导电型半导体层(2)上；散射体(4)，其以与半导体光吸收层(3)相接的方式，以入射光(I)的波长以下的宽度(W)设置，并且通过使入射光(I)散射而...

本发明的光纤激光装置具备由偏振保持光纤构成的第1光纤(30)、第2光纤(40)及第3光纤(50)。第1光纤(30)具有至少1个第1部分(31)、及与第1部分(31)交互地配置的至少2个第2部分(32)。相邻的第1部分(31)与第2部分(...

光电阴极(4)包括设置在透光性基板(21)与光电转换层(24)之间的光透射性导电层(22)，光透射性导电层(22)由含碳的构成材料形成，该构成材料的拉曼光谱具有D1谱带的峰P1、G谱带的峰P2、2D1谱带的峰P3和(D1+G)谱带的峰P...

本发明的激光加工装置具备：光源，其输出激光；空间光调制器，其用于将从所述光源输出的所述激光根据调制图案调制并输出；聚光透镜，其用于将从所述空间光调制器输出的所述激光聚光于对象物而在所述对象物形成聚光斑；移动部，其用于使所述聚光斑相对于所...

异物检查装置(1)包括：对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S)照射X射线(L1)的X射线照射部(6)；检测透过了检查对象物(S)的X射线(L1)，输出基于检测结果的X射线图像数据的X射线检测部(7)；对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S...

本公开提供了一种光干涉断层摄影成像系统，包括：光源；透镜，用于将光源发出的光转换为平面波；分束器，用于将平面波分成第一部分和第二部分；成像透镜，用于使平面波的第一部分聚焦到对象，并且使来自焦平面的对象光成像到图像传感器的平面；以及参照光...

本发明的观察装置(1)具备：光源部(10)、照射光学系统(20)、成像光学系统(30)、调制部(40)、摄像部(50)、解析部(60)、分束器(71、72)、和反射镜(73、74)。解析部(60)基于摄像面的干涉光的强度图像的时间序列数...

本发明的激光加工方法具备：激光加工工序，其中，对包含第1面和所述第1面的相反侧的第2面的对象物，以所述第1面为入射面而将激光聚光并形成所述激光的聚光斑，并且使所述聚光斑相对于所述对象物相对移动，从而进行所述对象物的激光加工，在所述对象物...

激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有空间光调制器和使由空间光调制器调制后的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制，该第1控制利用空间光调制器调制激光，以使激光分束成多束加工光，并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向垂直...

激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有空间光调制器和使由空间光调制器调制后的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制，该第1控制利用空间光调制器调制激光，以使激光分束成多束加工光，并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向垂直...

本发明的半导体构件的制造方法具备：激光加工工序，对包含半导体的对象物形成激光的聚光斑，并且从与所述对象物的所述激光的入射面交叉的Z方向观察沿着圆形状地延伸的线使所述聚光斑相对于所述对象物相对移动，从而沿着所述线在所述对象物形成改性区域及...

激光加工装置包括照射部和控制部。照射部具有：空间光调制器和将由空间光调制器调制了的激光聚光于对象物的聚光部。控制部执行第1控制，该第1控制通过空间光调制器来调制激光，以使激光分束成多束加工光、并且多束加工光的多个聚光点在与激光的照射方向...

本发明的时间测量装置(10)具备：数字计数器(20)，其根据时钟信号而输出计数信号；多个TAC电路(12)(TAC电路12a～12j)，其输入有检测器(4)中检测的检测信号、及时钟信号，并输出与检测信号及时钟信号间的时间相对应的测量信号...

在噪声推算步骤S2中，推算包含沿着第1方向延伸的线状的噪声的对象图像中包含的噪声图像。此时，使用包含表示对对象图像进行了第2方向的微分处理和第1方向的低频分量提取处理的结果与对噪声图像进行了第2方向的微分处理和第1方向的低频分量提取处理...

本发明的闪烁体面板具备：支撑体；形成在支撑体上，并且由柱状晶体构成的闪烁体层；和至少覆盖闪烁体层的保护膜。闪烁体层中包含碘化铯作为基材并且包含铈作为活化剂。化铯作为基材并且包含铈作为活化剂。化铯作为基材并且包含铈作为活化剂。

本发明的时间测量装置(10)具备：TAC电路(12)；测量用闸极(11)，其设置于检测器(4)及TAC电路(12)之间，设为使检测信号向TAC电路(12)方向通过的第1状态、或不使检测信号向TAC电路(12)方向通过的第2状态；控制部(...

本发明的光电面(1)具有窗材(2)、包括光入射面(3a)及电子放射面(3b)的光电转换层(3)、以及设于电子放射面(3b)的碳层(4)。以及设于电子放射面(3b)的碳层(4)。以及设于电子放射面(3b)的碳层(4)。

本发明的一实施方式的半导体检查方法包含以下步骤：通过对半导体器件扫描激光，对激光的每一照射位置，取得表示与激光的照射相应的半导体器件的电信号的特性的特性信息，基于每一照射位置的特性信息，产生半导体器件的第1图案图像；基于半导体器件的布局...