安徽晶谷周界微电子股份有限公司专利技术

安徽晶谷周界微电子股份有限公司共有14项专利

  • 本实用新型公开了检测示波器用电线路束线装置,其包括示波器本体,所述示波器本体顶部的右侧固定安装有两个挂钩,所述挂钩的底部设置有束线装置主体,所述束线装置主体的顶部固定连接有挂环,所述挂环卡合与挂钩的内腔,所述束线装置主体的右侧转动连接有...
  • 本实用新型公开了防针脚折损的转换器转运包装结构,包括包装盒:所述包装盒的顶部设置有封盖,所述包装盒内腔的底部铺设有泡沫板,所述封盖的两侧均固定连接有固定板,所述固定板的内腔设置有固定组件,所述包装盒的内腔放置有底架。本实用新型通过底架和...
  • 本实用新型涉及一种可旋转调节的数字示波器,包括旋转台、固定底座与示波器本体,所述旋转台包括套台以及设置在所述套台内部的旋转杆、固定在所述旋转杆上的从动齿轮,所述从动齿轮侧面啮合连接主动齿轮,所述主动齿轮通过驱动杆与旋转把手相连接,所述驱...
  • 本发明涉及分立器件老化试验技术领域,具体涉及一种用于低功率分立器件的综合老化试验箱,包括试验箱底台,试验箱底台的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚,试验箱底台的上端固定有老化试验箱本体,老化试验箱本体包括上箱体和下箱体,上箱体的内部设有控...
  • 本发明涉及半导体芯片测试技术领域,具体涉及一种半导体三温测试生产线,包括低温测试线、高温测试线及控制柜,低温测试线与高温测试线并排设置,低温测试线包括第一底座,第一底座的上端面由前往后依次固定安装有上料台、低温试验箱及低温转接台,上料台...
  • 本发明涉及分立器件老化试验技术领域,具体涉及一种用于半导体分立器件的综合老化试验箱,包括试验箱底台,试验箱底台的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚,试验箱底台的上端固定有老化试验箱本体,老化试验箱本体包括上箱体和下箱体,上箱体的内部设有控...
  • 本发明涉及电容器老化测试技术领域,具体涉及一种电容器高温老化系统用批量化测试治具,包括底板,底板的上端面安装有若干个呈阵列分布的电容器夹持区,电容器夹持区包括前移动座、后移动座、金属导轨和轴承座;底板的下端面固定有一对滑座,一对滑座之间...
  • 本实用新型涉及一种人体静电测试检测装置,包括处理器、触摸面板、控制器、显示面板、识别单元、报警器、数据存储单元及电池,所述触摸面板采用静电亚导体材料制成,所述处理器包括依次连接的静电传感器、信号转换器以及MCU;所述识别单元与控制器电性...
  • 本实用新型涉及一种线缆绝缘电阻检测用便携式摇表,包括表体外壳,所述表体的上表面设置有表盘,在所述表体外壳的上表面的后端呈台阶状、且安装有接线柱,在所述表体外壳的后端设置有转动盖,所述转动盖可盖在所述接线柱上方,在所述表盘的上方设有连接在...
  • 本实用新型涉及一种电容器的外观缺陷检测拣选装置,包括机架、传送机构、图像检测机构、拣选回收机构、收集仓和控制机构,所述传送机构运转用于输送电容器,所述图像检测机构包括设置在所述传送机构上方的固定摄像设备与可滑动的移动摄像设备,所述图像检...
  • 本实用新型涉及一种口径可调型漏电检测仪,包括带磁环的检测夹和用于固定所述检测夹的本体,所述检测夹包括左右两个钳夹,所述左钳夹和右钳夹的内部均开设有自钳夹端部向内延伸的弧形槽孔,在左钳夹的左槽孔内安装有可移动的弧形导磁芯体,在所述左钳夹的...
  • 本实用新型涉及一种高效的两箱式冷热冲击试验箱,包括壳体、通过横隔板分隔形成的上侧热箱和下侧冷箱以及通过竖隔板分隔出的设备腔室,在所述热箱和冷箱的连接处通过穿过所述横隔板的隔板分隔形成试验箱,所述试验箱的一侧壁分别通过可远程操控的第一密封...
  • 本实用新型涉及一种可快速冷却的高温箱式电阻炉,包括箱体、加热炉、液压底座,所述加热炉通过多个液压底座固定在所述箱体内部,所述加热炉的一内侧壁安装有冷却氮气进气管道,所述冷却氮气进气管道穿过所述箱体的侧壁与外接氮源连接,在所述加热炉的侧壁...
  • 本实用新型涉及一种微电子器件散热器结构,包括导热板、散热组件以及散热机构,所述散热组件安装在所述导热板的下端,所述散热组件包括倾斜设置在两侧的散热架以及安装在所述散热架之间的多个散热片,所述散热片的宽度在其延伸方向逐渐减小,在所述散热片...
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