发光器件测试一体机制造技术

本发明专利技术公开了一种发光器件测试一体机，包括机座和安装座，所述安装座沿其长度方向依次设有用于检验发光件束腰半径的近场测试组件、用于测试发光件发散角的远场测试组件和用于测试发光件波长亮度的积分球，所述机座上设有用于承载发光件的载片台、用于与发光件电极接触的测试针、以及用于驱动所述安装座沿其长度方向移动的第一驱动机构，将发光件安装在载片台后，使发光件的电极与测试针相接触，第一驱动机构驱动安装座在机座上沿安装座长度方向移动，使近场测试组件、远场测试组件和积分球分别正对载片台上发光件进行测试，以便对发光件的多种光参数进行测试；根据需要发光件的光参数测试种类，在安装座上依次安装不同的测试组件，省时省力。

Led testing machine

【技术实现步骤摘要】
发光器件测试一体机
本专利技术涉及发光件检测
，更具体地说，它涉及一种发光器件测试一体机。
技术介绍
现有发光件测试系统中，通过测试针接触发光件相应的电极，施加相应的电流后，点亮发光件，对其光参数进行检测，光参数的测试包括几个关键的参数，如光功率波长、远场发散角、近场光斑情况、近场束腰半径等。发光件测试系统中的载片台用于承载被测发光件，光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数，发光件的光参数需要不同的光参数测试装置进行测试，现有技术中，将被测发光件安装在不同的光参数测试装置下方再进行测试，费时费力。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本专利技术的目的是提供发光器件测试一体机，解决了被测发光件光参数测试费时费力的问题。本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种发光器件测试一体机，包括机座和安装座，所述安装座沿其长度方向依次设有用于检验发光件束腰半径的近场测试组件、用于测试发光件发散角的远场测试组件和用于测试发光件波长亮度的积分球，所述机座上设有用于承载发光件的载片台、用于与发光件电极接触的测试针、以及用于驱动所述安装座沿其长度方向移动的第一驱动机构。通过采用上述技术方案，将发光件安装在载片台后，使发光件的电极与测试针相接触，第一驱动机构驱动安装座在机座上沿安装座长度方向移动，使近场测试组件、远场测试组件和积分球分别正对载片台上发光件进行测试，以便对发光件的多种光参数进行测试；根据需要发光件的光参数测试种类，在安装座上依次安装不同的测试组件，避免多次将发光件安装在不同载片台上费时费力的情况。优选的，所述第一驱动机构包括设于所述机座上的固定板、设于所述固定板上的第一丝杆以及驱动所述第一丝杆转动的第一电机，所述安装座滑移连接于所述固定板上，所述第一丝杆的螺母座与所述安装座相连接；所述机座上设置有用于容置所述积分球的让位缺口。通过采用上述技术方案，第一电机能驱动丝杆转动，丝杆的螺母座带动安装座在固定板上滑移，带动固定于安装座上的测试组件移动，从而实现调节不同测试组件对发光件进行光参数测试；第一丝杆的传动效率及精度较高，从而通过第一电机、第一丝杆带动安装座移动的方式较为精准和稳定。优选的，所述固定板上设有滑轨，所述安装座上设有在所述滑轨上滑移的滑块。通过采用上述技术方案，滑块与滑轨滑移配合，增加了安装座滑移的稳定性。优选的，所述固定板上设有多个光电传感器，所述安装座上设有用于隔挡所述光电传感器所发射光源以感应所述安装座位置的挡片；多个所述光电传感器分别与所述近场测试组件、所述远场测试组件、所述积分球相对应。通过采用上述技术方案，在进行安装座的移动时，当安装座上的挡片经过光电传感器时，挡片隔挡住光电传感器所发射光源以感应挡片的位置，从而感应安装座的位置；当挡片隔挡住不同的光电传感器时，可精准的让不同测试组件与载片台正对齐，便于测试组件对载片台上的发光件进行测试。优选的，所述远场测试组件与所述积分球之间设有用于观察所述测试针与发光件电极接触的观察视觉系统。通过采用上述技术方案，视觉观察，使对应的测试针能接触到待测发光件的相应电极，从而在外加电流时点亮发光件，便于对发光件进行相关参数的测试。优选的，所述机座上设有驱使所述载片台与所述测试针相互靠近以使得所述测试针与发光件电极接触的控制系统。通过采用上述技术方案，控制系统控制载片台或者测试针运动，使测试针和载片台相互靠近，从而使测试针与发光件的电极接触，便于测试组件获得导通后发光件的光参数；测试针与发光件的电极接触的过程，可以单独驱使测试针运动，也可单独驱使载片台运动，当然也可以使两者同时运转实现相互靠近。优选的，所述近场测试组件包括物镜、近场相机、驱动所述近场相机靠近或远离所述物镜的第二驱动机构以及驱动所述物镜、所述近场相机和所述第二驱动机构靠近或远离所述载片台的第三驱动机构。通过采用上述技术方案，第三驱动机构驱动近场相机和物镜靠近或者远离载片台，使物镜运动至焦距位，将导通发光体的光斑情况通过物镜放大反应到近场相机上，并通过近场相机内的软件采集光斑信息进行收集分析；第二驱动机构驱动近场相机靠近或者远离物镜，从而采集到若干个位置的光参数，通过近场相机内的软件进行图像分析，并找出其最小处，即可得到该发光件的束腰半径。优选的，所述远场测试组件包括远场相机、驱动所述远场相机靠近或远离所述载片台的第四驱动机构。通过采用上述技术方案，第四驱动机构驱动远场相机靠近或远离载片台，在两个稍远位置上采集到发光件导通时发光面的信息，并记录下上述两个位置的高度差，从而计算出其发光面边缘的夹角，即可得到该发光件的发散角。综上所述，本专利技术具有以下有益效果：将发光件安装在载片台后，使发光件的电极与测试针相接触，第一驱动机构驱动安装座在机座上沿安装座长度方向移动，使近场测试组件、远场测试组件和积分球分别正对载片台上发光件进行测试，以便对发光件的多种光参数进行测试；根据需要发光件的光参数测试种类，在安装座上依次安装不同的测试组件，避免多次将发光件安装在不同载片台上费时费力的情况。附图说明图1是本专利技术实施例的结构示意图；图2是本专利技术实施例中第一驱动机构与安装座的结构示意图；图3是本专利技术实施例中近场测试组件的结构示意图；图4是本专利技术实施例中远场测试组件的结构示意图。图中：1、机座；2、安装座；3、近场测试组件；31、物镜；32、近场相机；331、第二丝杆；332、第二电机；333、连板；341、第三丝杆；342、第三电机；343、连杆；344、第一安装板；4、远场测试组件；41、远场相机；421、第四丝杆；422、第四电机；423、连接块；424、第二安装板；5、积分球；6、载片台；7、测试针；8、第一驱动机构；81、固定板；82、第一丝杆；83、第一电机；9、让位缺口；10、滑轨；11、吹气件；12、光电传感器；13、挡片；14、观察视觉系统；15、控制系统。具体实施方式以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明。一种发光器件测试一体机，如图1所示，包括机座1，机座1包括第一台面以及与第一台面间隔布置的第二台面，第一台面的面积大于第二台面的面积，且第一台面位于第二台面的正下方。其中，第二台面开有贯穿其上下表面的让位缺口9，让位缺口9呈圆形状；第二台面位于让位缺口9处安装有四个测试针7和吹气件11，四个测试针7向下弯折且在让位缺口9的圆心处靠拢，吹气件11的出气口朝向测试针7的针尖处；位于第一台面和第二台面之间安装有载片台6，载片台6上用于承载被测发光件，载片台6可沿竖向轴向方向自由旋转。机座1上安装有驱使载片台6与测试针7相互靠近以使得测试针7与发光件电极接触的控制系统15，控制系统15控制载片台6或者测试针7运动，使测试针7和载片台6相互靠近，从而使测试针7与发光件的电极接触；测试针7与发光件的电极接触的过程，可以单独驱使测试针7运动，也可单独驱使载片台6运动，当然也可以使本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光器件测试一体机，其特征是：包括机座(1)和安装座(2)，所述安装座(2)沿其长度方向依次设有用于检验发光件束腰半径的近场测试组件(3)、用于测试发光件发散角的远场测试组件(4)和用于测试发光件波长亮度的积分球(5)，所述机座(1)上设有用于承载发光件的载片台(6)、用于与发光件电极接触的测试针(7)、以及用于驱动所述安装座(2)沿其长度方向移动的第一驱动机构(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种发光器件测试一体机，其特征是：包括机座(1)和安装座(2)，所述安装座(2)沿其长度方向依次设有用于检验发光件束腰半径的近场测试组件(3)、用于测试发光件发散角的远场测试组件(4)和用于测试发光件波长亮度的积分球(5)，所述机座(1)上设有用于承载发光件的载片台(6)、用于与发光件电极接触的测试针(7)、以及用于驱动所述安装座(2)沿其长度方向移动的第一驱动机构(8)。


2.根据权利要求1所述的发光器件测试一体机，其特征是：所述第一驱动机构(8)包括设于所述机座(1)上的固定板(81)、设于所述固定板(81)上的第一丝杆(82)以及驱动所述第一丝杆(82)转动的第一电机(83)，所述安装座(2)滑移连接于所述固定板(81)上，所述第一丝杆(82)的螺母座与所述安装座(2)相连接；所述机座(1)上设置有用于容置所述积分球(5)的让位缺口(9)。


3.根据权利要求2所述的发光器件测试一体机，其特征是：所述固定板(81)上设有滑轨(10)，所述安装座(2)上设有在所述滑轨(10)上滑移的滑块。


4.根据权利要求3所述的发光器件测试一体机，其特征是：所述固定板(81)上设有多个光电传感器(12)，所述安装...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振辉，王业文，颜华江，杨波，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44