A nonvolatile memory device consisting of multiple planes. A nonvolatile memory piece includes a plurality of bit lines arranged in the first direction above the substrate; a storage unit array arranged between a substrate and a plurality of bit lines and a plurality of planes arranged along a second direction perpendicular to the first direction; a plurality of page buffer circuits between the substrate and the memory unit array; A plurality of contact welds set between the page buffer circuit and the memory unit array and suitable for connecting a plurality of bit lines to a plurality of page buffer circuits; and a plurality of route lines set at the same layer with a plurality of contact plates and extending along the second directions, wherein a plurality of contact plates are arranged to be distributed and along the third. At least two lines of two directions are overlapped, and multiple route lines are formed as a curved pattern to cross between the contact plates set up to overlap with different lines.
【技术实现步骤摘要】
包括多个平面的非易失性存储器件
各实施方式总体上涉及半导体存储器件,更具体地,涉及包括多个平面的非易失性存储器件。
技术介绍
半导体存储器件是使用诸如硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)和磷化铟(InP)的半导体实现的存储器件。半导体存储器件通常可分为易失性存储器件或非易失性存储器件。易失性存储器件是当电源中断时存储的数据被去除的存储器件。易失性存储器件的示例包括SRAM(静态随机存取存储器)、DRAM(动态RAM)和SDRAM(同步DRAM)。非易失性存储器件是即使在电源中断时仍保留存储在其中的数据的存储器件。非易失性存储器件的示例包括ROM(只读存储器)、PROM(可编程ROM)、EPROM(电可编程ROM)、EEPROM(电可擦除可编程ROM)、FLASH存储器、PRAM(相变RAM)、MRAM(磁RAM)、RRAM(电阻式RAM)和FRAM(铁电RAM)。
技术实现思路
在一个实施方式中,一种非易失性存储器件可以包括:多条位线,所述多条位线在基板上方沿第一方向布置;存储单元阵列,所述存储单元阵列设置在所述基板与所述多条位线之间并且包括沿与所述第一方向垂直的第二方向布置的多个平面;多个页面缓冲电路(pagebuffercircuit),所述多个页面缓冲电路设置在所述基板与所述存储单元阵列之间;多个接触焊盘,所述多个接触焊盘设置在所述页面缓冲电路与所述存储单元阵列之间并且适于将所述多条位线与所述多个页面缓冲电路电联接;以及多条路由线(routingline),所述多条路由线设置在与所述多个接触焊盘相同的层处,所述多条路由线沿所述第二方向延伸,其中,所 ...
【技术保护点】
1.一种非易失性存储器件,该非易失性存储器件包括:多条位线,所述多条位线在基板上方沿第一方向布置;存储单元阵列,所述存储单元阵列设置在所述基板与所述多条位线之间,所述存储单元阵列包括沿与所述第一方向垂直的第二方向布置的多个平面;多个页面缓冲电路,所述多个页面缓冲电路设置在所述基板与所述存储单元阵列之间;多个接触焊盘,所述多个接触焊盘设置在所述多个页面缓冲电路与所述存储单元阵列之间,所述多个接触焊盘适于将所述多条位线与所述多个页面缓冲电路电联接;以及多条路由线,所述多条路由线设置在与所述多个接触焊盘相同的层处,所述多条路由线沿所述第二方向延伸,其中,所述多个接触焊盘被设置为与沿所述第二方向布置的至少两条线交叠,并且所述多条路由线被形成为弯曲图案,以在被设置为与不同的线交叠的接触焊盘之间穿过。
【技术特征摘要】
2017.01.10 KR 10-2017-00034361.一种非易失性存储器件,该非易失性存储器件包括:多条位线,所述多条位线在基板上方沿第一方向布置;存储单元阵列,所述存储单元阵列设置在所述基板与所述多条位线之间,所述存储单元阵列包括沿与所述第一方向垂直的第二方向布置的多个平面;多个页面缓冲电路,所述多个页面缓冲电路设置在所述基板与所述存储单元阵列之间;多个接触焊盘,所述多个接触焊盘设置在所述多个页面缓冲电路与所述存储单元阵列之间,所述多个接触焊盘适于将所述多条位线与所述多个页面缓冲电路电联接;以及多条路由线,所述多条路由线设置在与所述多个接触焊盘相同的层处,所述多条路由线沿所述第二方向延伸,其中,所述多个接触焊盘被设置为与沿所述第二方向布置的至少两条线交叠,并且所述多条路由线被形成为弯曲图案,以在被设置为与不同的线交叠的接触焊盘之间穿过。2.根据权利要求1所述的非易失性存储器件,其中,所述多个接触焊盘分别与所述多条位线对应,并且分别与对应的位线交叠。3.根据权利要求1所述的非易失性存储器件,该非易失性存储器件还包括:外围电路,所述外围电路设置在所述基板与所述存储单元阵列之间,并且沿所述第二方向与所述多个页面缓冲电路并排布置;以及多个高速缓存缓冲器,所述多个高速缓存缓冲器设置在所述基板与所述存储单元阵列之间,并且沿所述第二方向与所述多个页面缓冲电路和所述外围电路并排布置,并且经由所述多条路由线与所述外围电路电联接。4.根据权利要求3所述的非易失性存储器件,其中,所述多个高速缓存缓冲器中的每一个沿所述第二方向与所述外围电路相邻地设置,在所述外围电路与高速缓存缓冲器之间设置有至少一个页面缓冲电路。5.根据权利要求3所述的非易失性存储器件,其中,所述多个页面缓冲电路分别与所述多个平面对应,其中,所述多个高速缓存缓冲器分别与所述多个平面对应,并且其中,所述多个高速缓存缓冲器中的每一个高速缓存缓冲器沿所述第二方向与和与所述每一个高速缓存缓冲器自身相同的平面对应的页面缓冲电路相邻地设置。6.根据权利要求5所述的非易失性存储器件,该非易失性存储器件还包括:多个开关电路,所述多个开关电路分别与所述多个平面对应,并且经由字线和多条选择线分别电联接到对应的平面;以及多个行解码器,所述多个行解码器分别与所述多个平面对应,并且经由与和所述多个行解码器自身相同的平面对应的多个开关电路分别电联接到对应的平面。7.根据权利要求6所述的非易失性存储器件,其中,所述多个页面缓冲电路中的每一个页面缓冲电路包括在物理上彼此分隔开的两个子页面缓冲电路,并且其中,包括在所述多个页面缓冲电路中的每一个页面缓冲电路中的所述子页面缓冲电路沿所述第一方向彼此相邻地设置,在所述子页面缓冲电路之间设置有与和所述子页面缓冲电路自身相同的平面对应的开关电路和行解码器。8.根据权利要求6所述的非易失性存储器件,其中,所述多个高速缓存缓冲器中的每一个高速缓存缓冲器包括在物理上彼此分隔开的两个子高速缓存缓冲器,并且其中,包括在所述多个高速缓存缓冲器中的每一个高速缓存缓冲器中的所述子高速缓存缓冲器沿所述第一方向彼此相邻地设置,在所述子高速缓存缓冲器之间设置有与和所述子高速缓存缓冲器自身相同的平面对应的开关电路和行解码器。9.根据权利要求3所述的非易失性存储器件,其中,所述外围电路包括:输入/输出电路,所述输入/输出电路适于将输入数据传送到所述多个高速缓存缓冲器或者将来自所述多个高速缓存缓冲器的输出数据传送到外部;控制逻辑,所述控制逻辑适于产生高速缓存输入/输出控制信号;以及列解码器,所述列解码器适于产生列解码信号。10.根据权利要求9所述的非易失性存储器件,其中,所述多条路由线包括:多条数据线,所述多条数据线电联接在所述输入/输出电路与所述多个高速缓存缓冲器之间,并且适于传送所述输入数据和所述输出数据;多条高速缓存输入/输出控制信号线,所述多条高速缓存输入/输出控制信号线电联接在所述控制逻辑与所述多个高速缓存缓冲器之间,并且适于将所述高速缓存输入/输出控制信号传送到所述多个高速缓存缓冲器;以及多条列解码信号线,所述多条列解码信号线电联接在所述列解码器与所述多个高速缓存缓冲器之间,并且适于将所述列解码信号传送到所述多个高速缓存缓...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴星来,金东赫,丁寿男,崔齐玹,
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国,KR
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