The invention discloses a method to improve the good rate of the Chip patch on the spot, which includes the following steps: the system sets the wiring forbidden layer on the weld plate; the system sets the forbidden cloth area on the bottom of the device, the forbidden cloth area is used to automatically remove the residual copper foil and prohibit the residue of copper foil; the system is carried out according to the instruction of the user input. The patch. A system for improving the Chip chip placement rate of dispensing surfaces includes: a cloth prohibition module and a patch module. The method and system for improving the good rate of the Chip patch on the glue surface provided by the invention can make the plate automatically remove the residual copper foil and prohibit the residue of copper foil by setting the forbidden cloth area by the system. Compared with the current design method in the industry, the invention will not increase any additional cost, and will not form copper foil residue between Chip devices, such as laying copper, wiring and punching in the PCB design, thus improving the good rate of the adhesive patch. It is widely used in the field of PCB plate welding.
【技术实现步骤摘要】
一种提高点胶面Chip贴片良率的方法及系统
本专利技术涉及PCB板焊接领域,具体为提高点胶面Chip贴片良率的方法及系统。
技术介绍
CHIP是指片状电阻、电容类贴片元器件。随着电子产品的迅速发展,PCB正反面使用Chip贴片器件的数量越来越多,在贴片流程中,对Chip器件较少的面会先在Chip器件底部印上红胶,以便将贴上的Chip器件粘住,避免器件在回流焊接前脱落。由于Chip器件封装的焊盘之间会有较大的空隙,且正好处于器件底部,在PCB设计时经常会在焊盘之间的这个空隙处形成.铜箔残留或打上过孔,(软件自动布线时,在焊盘之间设置了铜箔走线和过孔,导致贴上红胶后,器件被抬高)而此类器件管脚一般都是与器件实体齐平,在印上红胶后会导致此处略高,从而将器件顶高,导致器件管脚与PCB上的焊盘图形无法有效焊接,形成虚焊。常规Chip器件焊盘之间有铜箔残留,如图1。因此,该技术有必要进行改进。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本专利技术的目的是提供一种可解决因PCB设计时在Chip器件的焊盘之间残留铜箔导致点胶后器件焊接不良的提高点胶面Chip贴片良率的方法及系统。本专利技术所采用的技术方案是:本专利技术提供一种提高点胶面Chip贴片良率的方法,其包括以下步骤:系统在焊盘上设置布线禁布层;系统在器件底部的焊盘上设置禁布区域,所述禁布区域用于自动清除铜箔残留、禁止铜箔残留;系统根据用户输入的指令进行贴片。作为该技术方案的改进,所述禁布区域置于相邻两焊盘之间。作为该技术方案的改进,所述禁布区域大小满足不小于相邻两焊盘之间的间隙大小。另一方面,本专利技术还提供一种提高点胶面 ...
【技术保护点】
1.一种提高点胶面Chip贴片良率的方法,其特征在于,其包括以下步骤:系统在焊盘上设置布线禁布层;系统在器件底部的焊盘上设置禁布区域,所述禁布区域用于自动清除铜箔残留、禁止铜箔残留;系统根据用户输入的指令进行贴片。
【技术特征摘要】
1.一种提高点胶面Chip贴片良率的方法,其特征在于,其包括以下步骤:系统在焊盘上设置布线禁布层;系统在器件底部的焊盘上设置禁布区域,所述禁布区域用于自动清除铜箔残留、禁止铜箔残留;系统根据用户输入的指令进行贴片。2.根据权利要求1所述的提高点胶面Chip贴片良率的方法,其特征在于:所述禁布区域置于相邻两焊盘之间。3.根据权利要求1所述的提高点...
【专利技术属性】
技术研发人员:杜正阔,贾首峰,
申请(专利权)人:深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,广州兴森快捷电路科技有限公司,宜兴硅谷电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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