缺陷检测系统及方法技术方案

一种用于检测被移送的光学薄膜的缺陷检测系统，包括光源、影像捕获设备及狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。

Defect detecting system and method

A defect detection system for detecting an optical film to be transferred includes a light source, an image capturing device, and a slit plate. The light source is arranged on one side of the optical film, and the image capturing device is arranged on the other side of the optical film. The slit plate has a slit which is arranged between the light source and the optical film so that incident light passes through the slit. Wherein, the image capturing device is offset from the extension line of the light source and the slit.

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测系统及方法
本专利技术是有关于一种光学检测系统及方法，且特别是有关于一种光学薄膜的缺陷的检测系统及方法。
技术介绍
随着科技的进步，对于液晶显示设备所运用的各种光学组件的要求亦高。然而，于光学元件的生产过程中，却容易因各种因素而产生瑕疵，进而降低显示质量。因此，在光学元件的生产系统中配置有缺陷的检测系统，以及早排除具有缺陷的光学元件。
技术实现思路
本专利技术有关于一种缺陷检测系统及方法，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线，当光线照射到光学薄膜上的凹凸缺陷时会产生散射，故偏移配置的影像捕获设备可接收凹凸缺陷所产生的散射光线，借以提升影像捕获设备所拍摄的缺陷区域的影像对比。根据本专利技术的一实施例，提出一种缺陷检测系统，用于检测被移送的一光学薄膜。缺陷检测系统包括一光源、一影像捕获设备以及一狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧。影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有一狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使一入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。其中，该入射光线垂直地射入该光学薄膜。其中，该狭缝的宽度为1.5～2.5毫米。其中，当该影像捕获设备的影像传感器对准于该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I0；当该影像捕获设备于平行该光学薄膜的移动方向上偏移自该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I1；其中，I1/I0为0.5～0.9能够观测该光学薄膜的一缺陷位置点。其中，该缺陷检测系统更包括：一移动单元，用以于平行该光学薄膜的移动方向上移动该影像捕获设备。根据本专利技术的另一实施例，提出一种用于检测被移送的一光学薄膜的缺陷检测方法。缺陷检测方法包括以下步骤。提供一光源，光源配置于光学薄膜的一侧。提供一影像捕获设备，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。提供一狭缝板，狭缝板具有一狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使一入射光线穿过狭缝。接着，使影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。其中，于提供该光源及该狭缝板的步骤中，使该入射光线垂直地射入该光学薄膜。其中，该狭缝的宽度为1.5～2.5毫米。其中，该缺陷检测方法更包括：提供一移动单元，该移动单元于该光学薄膜的移动方向上移动该影像捕获设备。其中，该缺陷检测方法更包括：提供一图像处理单元，该图像处理单元接收并处理该影像捕获设备所发送的影像信号；提供一周期信号产生单元，该周期信号产生单元依据该光学薄膜的移送速度发送一周期信号；以及提供一控制单元，该控制单元耦接于该图像处理单元，并接收来自该周期信号产生单元的该周期信号，以及对该影像捕获设备传输摄像信号。附图说明为了对本专利技术的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：图1绘示依照本专利技术一实施例的缺陷检测系统。图2绘示图1的缺陷检测系统的俯视图。其中，附图标记：10：光学薄膜11：辊轮12：图像处理单元13：控制单元14：周期信号产生单元100：缺陷检测系统110：光源110a：发光面120：影像捕获设备130：狭缝板130s：狭缝D1：移动方向P：区域LA：光轴Li：入射光线Ls：散射光线具体实施方式传统的缺陷检测系统利用光穿透的原理来检测异物缺陷。由于光学元件上的异物缺陷会遮蔽光，使拍摄的透射光图像检测出暗点，因此适合检测异物缺陷。然而，此种缺陷检测系统却不易检测出凹凸缺陷，即光学元件的厚度局部变化所造成的缺陷。本专利技术有关于一种缺陷检测系统及方法。请参照图1，其绘示依照本专利技术一实施例的缺陷检测系统100。缺陷检测系统100可用于检测被移送的光学薄膜10，光学薄膜10在生产在线经由辊轮11沿着一移动方向D1而被搬运，藉由缺陷检测系统100可实时辨别缺陷，以及早排除具有缺陷的部分。在一实施例中，本专利技术可用于检测光学薄膜卷材或片状光学薄膜。缺陷检测系统100可适用于各种光学薄膜。举例来说，光学薄膜10可为一单层或多层膜片，例如可为一偏光片、相位差膜、增亮膜或其他对光学的增益、配向、补偿、转向、直交、扩散、保护、防黏、耐刮、抗眩、反射抑制、高折射率等有所帮助的膜片；于前述偏光片的至少一面附着有保护薄膜的偏光板、相位差薄膜等；保护薄膜，材料例如可选自：纤维素系树脂、丙烯酸系树脂、非结晶性聚烯烃系树脂、聚酯系树脂、聚碳酸酯系树脂及其组合，但本揭露不限于这些薄膜。缺陷检测系统100包括一光源110以及一影像捕获设备120。可例如是荧光灯、金属卤素灯或LED灯，光源110具有一发光面110a。在一较佳的实施例中，光源110为LED灯。影像捕获设备120可为线扫描相机，其具有影像传感器IS，影像传感器IS例如是感光耦合元件(ChargeCoupledDevice,CCD)或是任何具有光电转换能力的元件。如图1所示，光源110和影像捕获设备120配置于被移送的光学薄膜10的相对二侧。具体而言，光源110从光学薄膜10的一侧照射光，而影像捕获设备120于光学薄膜10的另一侧接收穿透光学薄膜10的光线的透射光图像。本揭露中，光的照射角度并未特别限定。在一较佳的实施例中，光源110于光学薄膜10的一侧垂直地照射光，亦即，沿着光源110的发光面110a的光轴LA的入射光线Li垂直于光学薄膜10的表面照射。于此，所述的光轴LA为一条假想线，其为发光面110a的法线。在一实施例中，影像捕获设备120是正对着光学薄膜10的表面拍摄影像，也就是说，影像捕获设备120朝着平行于光源110的发光面110a的光轴LA的方向拍摄光学薄膜10，亦即影像捕获设备120并未呈倾斜的角度拍摄光学薄膜10。在一实施例中，缺陷检测系统100更具有一狭缝板130，狭缝板130可由金属、陶瓷或高分子材料所制成。在一较佳的实施例中，狭缝板130由金属所制成。狭缝板130配置于光源110与光学薄膜10之间，用以局限光线行进的角度。具体来说，狭缝板130具有一狭缝130s，且狭缝130s对准于光源110的发光面110a的光轴LA，以提高射入光学薄膜10的光线的指向性，让入射的光线较为笔直。在一较佳的实施例中，光源110的发光面110a的光轴LA与狭缝130s的中轴线(未标示)的延伸连线垂直于光学薄膜10的表面，以限制穿过狭缝130s的入射光线Li垂直于光学薄膜10的表面照射。然而，如图1所示，在本专利技术中，影像捕获设备120偏移自光源110与狭缝130s的延伸连线。也就是说，影像捕获设备120并未对准于光源110的发光面110a的光轴LA与狭缝130s的中轴线的延伸连线。即影像捕获设备120不位于发光面110a的光轴LA与狭缝130s的中轴线的延伸连线之上。具体来说，影像捕获设备120可在平行于光学薄膜10的移动方向D1上移动，例如可由一移动单元来控制影像捕获设备120的移动，以使影像捕获设备120偏移光源110与狭缝130s的延伸连线配置。所述移动单元例如是安装在影像捕获设备120的位置，其可经由手动调整的方式使影像捕获设备120移动；在另一实施例中，也可经由远程遥控的方式使影像捕获设备120进行机械式的移动，在此实施例中，可另外设置滑轨(未标示)等移动单元，在此不再赘述。而在移动影像捕获设备120时，可使影像捕获设备120往光学薄膜10的移动方向D1的上游侧移动，或是往光学薄膜10本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷检测系统，用于检测被移送的一光学薄膜，其特征在于，包括：一光源，配置于该光学薄膜的一侧；一影像捕获设备，配置于该光学薄膜的另一侧；以及一狭缝板，具有一狭缝，该狭缝板配置于该光源与该光学薄膜之间，以使一入射光线穿过该狭缝；其中，该影像捕获设备偏移自该光源与该狭缝的延伸连线。

【技术特征摘要】
2016.12.27 TW 1051434481.一种缺陷检测系统，用于检测被移送的一光学薄膜，其特征在于，包括：一光源，配置于该光学薄膜的一侧；一影像捕获设备，配置于该光学薄膜的另一侧；以及一狭缝板，具有一狭缝，该狭缝板配置于该光源与该光学薄膜之间，以使一入射光线穿过该狭缝；其中，该影像捕获设备偏移自该光源与该狭缝的延伸连线。2.根据权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，该入射光线垂直地射入该光学薄膜。3.根据权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，该狭缝的宽度为1.5～2.5毫米。4.根据权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，当该影像捕获设备的影像传感器对准于该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I0；当该影像捕获设备于平行该光学薄膜的移动方向上偏移自该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I1；其中，I1/I0为0.5～0.9能够观测该光学薄膜的一缺陷位置点。5.根据权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，更包括：一移动单元，用以于平行该光学薄膜的移动方向上移动该影像捕获设备。6.根据权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，更包括：一图像处理单元，接收并处理该影像捕获设备所发送的影像信号；一周期信号产生单元，依据该光学薄膜的移送速度发送一周期信号；以及一控制单元，耦接于该图像处理单元，并接收来自该周期信号产生单元的该周期信号，以及对该影像捕获设备传输摄像信...

【专利技术属性】
技术研发人员：林宽宏，吴柏徵，
申请(专利权)人：住华科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71