The invention discloses a P type crystal silicon front gate line of the back contact cell structure and making method, from top to bottom comprises: a transparent conductive film, antireflection film, passivation film, positive N layer, P type substrate, a passivation film, metal back layer and the back electrode, P type crystal silicon chip. Through hole, the through hole is arranged in the through hole for connecting the battery positive and negative electrode on the back of the N layer is arranged on the surface according to local area distribution rules of heavily doped N+ graphics, transparent conductive film in turn through the anti reflection film and passivation film with positive local heavy doping zone N+ and the through-hole electrode contact, electronic guide to the back of the battery positive together, through the back metal layer passivation film and P type silicon substrate forming local ohmic contact, and connect the battery anode and cathode on the back of. The utility model avoids the shielding of the front metal electric shield, reduces the consumption of the silver paste in the process of the battery manufacture, and prevents the leakage of the electrode after winding through the passivation film on the back, thereby greatly improving the conversion efficiency of the P type crystalline silicon battery.
【技术实现步骤摘要】
一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构及制作方法
本专利技术属于太阳能电池
,特别涉及一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构及制作方法。
技术介绍
自1954年第一块太阳能电池在贝尔实验室诞生以来,晶体硅太阳能电池得到了广泛的应用,转换效率不断提升,生产成本持续下降。目前,晶体硅太阳能电池占太阳能电池全球市场总额的90%以上,晶体硅电池片的产线转换效率目前已突破21%,全球年新增装机容量约70GW且增速明显,与火力发电的度电成本不断缩小,在未来几年有望与之持平。晶体硅太阳能电池作为一种清洁能源在改变能源结构、缓解环境压力等方面的重要作用日益凸显。P型晶体硅电池由于生产工艺成熟、制造成本低,在目前及今后相当长的一段时间内仍占据绝大部分市场份额。P型晶体硅太阳能电池要想继续保持竞争力、获得更大的发展与应用,必须进一步提高转换效率,同时降低生产成本。PERC技术着眼于电池的背面,利用钝化大大降低了背面的复合速度,该技术近年来在P型晶体硅电池中逐步得到大规模应用,使多晶和单晶电池的效率分别提升0.5%和1%以上。虽然PERC技术极大的提高了电池的背面性能,但是对电池的正面无显著改善,尤其是电池的正面电极,目前主要采用丝网印刷的方式形成近百条细栅和若干条主栅,此工序造成电池片表面5%~7%的面积形成对光的遮挡,使P型PERC电池的效率优势未能充分发挥。MWT电池技术主要解决的是电池正面的光遮挡问题,在硅片上打孔,利用过孔电极将正面细栅线收集的电流导至电池的背面。MWT电池技术虽然减少了电池正面主栅电极的光遮挡面积,但电池正面的细栅线仍有约3%的光遮挡面积, ...
【技术保护点】
一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,P型晶体硅片从上而下依次包括:透明导电膜(1)、减反射膜(2)、正面钝化膜(3)、N型层(4)、P型基体(6)、背面钝化膜(7)、金属层(8)和背面正极(9),其中,所述P型晶体硅片上设有通孔,所述通孔内设置有用于连接电池正面负极和背面负极的过孔电极(10),所述N型层(4)的表层设有按规则图形分布的局部重掺杂N+区(5),所述背面钝化膜(7)包括第一背面钝化膜(7‑1)和第二背面钝化膜(7‑2),所述透明导电膜(1)依次穿透所述减反射膜(2)和正面钝化膜(3)与所述局部重掺杂N+区(5)及所述过孔电极(10)顶端电接触构成电池负极,所述透明导电膜(1)用于将电池正面汇集的电子经过所述过孔电极(10)导至电池的背面,所述金属层(8)穿透所述第一背面钝化膜(7‑1)和第二背面钝化膜(7‑2)与所述P型硅基体(6)形成局部欧姆接触,并与背面正极(9)连接在一起构成电池正极。
【技术特征摘要】
1.一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,P型晶体硅片从上而下依次包括:透明导电膜(1)、减反射膜(2)、正面钝化膜(3)、N型层(4)、P型基体(6)、背面钝化膜(7)、金属层(8)和背面正极(9),其中,所述P型晶体硅片上设有通孔,所述通孔内设置有用于连接电池正面负极和背面负极的过孔电极(10),所述N型层(4)的表层设有按规则图形分布的局部重掺杂N+区(5),所述背面钝化膜(7)包括第一背面钝化膜(7-1)和第二背面钝化膜(7-2),所述透明导电膜(1)依次穿透所述减反射膜(2)和正面钝化膜(3)与所述局部重掺杂N+区(5)及所述过孔电极(10)顶端电接触构成电池负极,所述透明导电膜(1)用于将电池正面汇集的电子经过所述过孔电极(10)导至电池的背面,所述金属层(8)穿透所述第一背面钝化膜(7-1)和第二背面钝化膜(7-2)与所述P型硅基体(6)形成局部欧姆接触,并与背面正极(9)连接在一起构成电池正极。2.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述通孔大小相同,在厚度方向贯通所述P型晶体硅片,且等行距等列距阵列排布,单个所述通孔的直径为100~500um,所述通孔的排布数量为4×4~10×10个。3.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述局部重掺杂N+区(5)阵列排布在所述N型层(4)上,每个所述局部重掺杂N+区(5)的方阻为20~60Ω/□。4.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述局部重掺杂N+区(5)阵列图形为类一维图形、二维图形或类一维图形与二维图形的组合,所述类一维图形为线段、虚线段、弧线或栅线状;所述二维图形为:圆形、椭圆形、纺锤形、环形、多边形、多角形或扇形。5.根据权利要求4所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述类一维图形的线宽为20~200um,长度为0.05~1.5mm;同一行中相邻两个线形的间距为0.5~2mm,同一列中相邻两个线形的间距为0.5~2mm;所述二维几何图形的尺寸均为20~200um,相邻两个图形中心距为0.5~2mm。6.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述透明导电膜(1)为ITO薄膜、AZO薄膜、GZO薄膜、FTO薄膜、IWO薄膜和石墨烯薄膜中的一种或多种叠层构成,厚度为50~500nm。7.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述过孔电极(10)与所述金属层(8)之间设置有绝缘隔离(11),所述绝缘隔离(11)的厚度为0.5~3mm。8.根据权利要求1所述的一种无正面栅线的P型晶体硅背接触电池结构,其特征在于,所述正面钝化膜(3)为氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、非晶硅中的一种或多种叠层构成,厚度为5~50nm,所述减反射膜(2)为氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、氧化钛、碳化硅中的一种或多种叠层构成,厚度为50~100nm,所述第一背面钝化...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵科雄,
申请(专利权)人:乐叶光伏科技有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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