驱动芯片的传递交接平台的自动测量方法、设备技术

本发明专利技术提供了一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量设备的检测方法，所述自动检测设备包括：平台、预定位吸嘴、反转吸嘴、传感器和反射片，其中，所述传感器与所述反转吸嘴的一侧固定，所述反射片固定在所述预定位吸嘴的一侧且所述反射片位于所述传感器的下面，所述方法包括如下步骤：自动测量设备控制光源向所述反射片发出光线；所述传感器检测该反射片的测量值；自动测量设备依据反射片的材质确定测量值与高度的变化曲线；自动测量设备从该变化曲线中查询出该测量值对应的高度值；自动测量设备依据该高度值判断该传递交接平台是否能够通过检测。本发明专利技术提供的技术方案具有成本低的优点。

【技术实现步骤摘要】
驱动芯片的传递交接平台的自动测量方法、设备
本专利技术涉及电子芯片技术，尤其涉及一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量方法、设备。
技术介绍
传递交接平台的高度检测为现有的驱动芯片传递交接平台的常规检测项目,现有的驱动芯片(英文:DriveIC)传递时，使用厚薄规测量各吸嘴间交接平台(Gap)的高度，现有的检测方式为检测人员目测的方式，此受制于检测人员的经验和水平，不仅成本高，且检测标准不统一，影响检测结果。
技术实现思路
本专利技术的目的之一提供一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量方法、设备，实现平台高度的自动检测，无需人工参与，所以成本低，检测结果准确。根据本专利技术的一个方面，提供了一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量设备的检测方法，所述自动检测设备包括：平台、预定位吸嘴、反转吸嘴、传感器和反射片，其中，所述预定位吸嘴放置在所述平台上,所述反转吸嘴固定设置在所述平台的上端,所述平台转动时带动所述预定位吸嘴移动至所述反转吸嘴的正下方所述传感器与所述反转吸嘴的一侧固定，所述反射片固定在所述预定位吸嘴的一侧且所述反射片位于所述传感器的下面，所述方法包括如下步骤：自动测量设备控制光源向所述反射片发出光线；所述传感器检测该反射片的测量值；自动测量设备依据反射片的材质确定测量值与高度的变化曲线；自动测量设备从该变化曲线中查询出该测量值对应的高度值；自动测量设备依据该高度值判断该传递交接平台是否能够通过检测。可选的，所述反射片的最高高度与所述预定位吸嘴的最高高度相同。可选的，所述方法还包括：如检测不通过，则依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测。可选的，所述依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测具体包括：如高度值比预设高度值小，则控制反转吸嘴向上移动，每移动一次，传感器测量一次得到第一测量值，依据第一测量值得到第一高度，如第一高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向上移动并进行高度测量步骤直至移动后的测量值对应的高度值与该预设高度相同。可选的，所述依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测具体包括：如高度值比预设高度值大，则控制反转吸嘴向下移动，每移动一次，传感器测量一次得到第二测量值，依据第二测量值得到第二高度，如第二高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向下移动并进行高度测量步骤直至移动后的测量值对应的高度值与该预设高度相同。另一方面，提供一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量设备，所述设备包括：平台、预定位吸嘴、反转吸嘴，其特征在于，设备所述设备还包括：传感器和反射片，其中，所述预定位吸嘴放置在所述平台上,所述反转吸嘴固定设置在所述平台的上端,所述平台转动时带动所述预定位吸嘴移动至所述反转吸嘴的正下方；所述传感器固定在所述反转吸嘴的一侧，所述反射片固定在所述预定位吸嘴的一侧且所述反射片位于所述传感器的下方，所述设备还包括处理单元，用于控制光源向所述反射片发出光线；所述传感器，用于检测该反射片的测量值；所述处理单元，用于依据反射片的材质确定测量值与高度的变化曲线，从该变化曲线中查询出该测量值对应的高度值；依据该高度值判断该传递交接平台是否能够通过检测。可选的，所述反射片的最高高度与预定位吸嘴的最高高度相同。可选的，所述处理单元，还用于如检测不通过，则依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测。可选的，所述处理单元，具体用于如高度值比预设高度值小，则控制反转吸嘴向上移动，每移动一次，传感器测量一次得到第一测量值，依据第一测量值得到第一高度，如第一高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向上移动并进行高度测量步骤直至移动后的测量值对应的高度值与该预设高度相同。可选的，所述处理单元，具体用于如高度值比预设高度值大，则控制反转吸嘴向下移动，每移动一次，传感器测量一次得到第二测量值，依据第二测量值得到第二高度，如第二高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向下移动并进行高度测量步骤直至移动后的测量值对应的高度值与该预设高度相同。本领域普通技术人员将了解，虽然下面的详细说明将参考图示实施例、附图进行，但本专利技术并不仅限于这些实施例。而是，本专利技术的范围是广泛的，且意在仅通过后附的权利要求限定本专利技术的范围。附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1为现有技术的平台测量设备的结构示意图；图2-1为根据本专利技术一个优选实施例的平台测量设备的结构示意图；图2-2为根据本专利技术一个优选实施例的平台测量设备的结构示意图；图3为本专利技术一个优选实施例提供的检测方法的流程图；图4-1为玻璃反射片的拟合线图；图4-2为抛光铜片反射片的拟合线图；图4-3为平台与传感器的测量值相关性曲线图。具体实施方式在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。在上下文中所称“计算机设备”，也称为“电脑”，是指可以通过运行预定程序或指令来执行数值计算和/或逻辑计算等预定处理过程的智能电子设备，其可以包括处理器与存储器，由处理器执行在存储器中预存的存续指令来执行预定处理过程，或是由ASIC、FPGA、DSP等硬件执行预定处理过程，或是由上述二者组合来实现。计算机设备包括但不限于服务器、个人电脑、笔记本电脑、平板电脑、智能手机等。后面所讨论的方法(其中一些通过流程图示出)可以通过硬件、软件、固件、中间件、微代码、硬件描述语言或者其任意组合来实施。当用软件、固件、中间件或微代码来实施时，用以实施必要任务的程序代码或代码段可以被存储在机器或计算机可读介质(比如存储介质)中。(一个或多个)处理器可以实施必要的任务。这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本专利技术的示例性实施例的目的。但是本专利技术可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。应当理解的是，虽然在这里可能使用了术语“第一”、“第二”等等来描述各个单元，但是这些单元不应当受这些术语限制。使用这些术语仅仅是为了将一个单元与另一个单元进行区分。举例来说，在不背离示例性实施例的范围的情况下，第一单元可以被称为第二单元，并且类似地第二单元可以被称为第一单元。这里所使用的术语“和/或”包括其中一个或更多所列出的相关联项目的任意和所有组合。这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。还应当提到的是，在一些替换实现方式中，所提到的功能/动作可以按照不同于附图中标示的顺序发生。举例来说，取决于所涉及的功能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量设备的检测方法，其特征在于，所述自动检测设备包括：平台、预定位吸嘴、反转吸嘴、传感器以及反射片；其中，所述预定位吸嘴放置在所述平台上,所述反转吸嘴固定设置在所述平台的上端,所述平台转动时带动所述预定位吸嘴移动至所述反转吸嘴的正下方；所述传感器与所述反转吸嘴的一侧固定，所述反射片固定在所述预定位吸嘴的一侧且所述反射片位于所述传感器的下面，所述方法包括如下步骤：自动测量设备控制光源向所述反射片发出光线；所述传感器检测该反射片的测量值；自动测量设备依据反射片的材质确定测量值与高度的变化曲线；自动测量设备从该变化曲线中查询出该测量值对应的高度值；自动测量设备依据该高度值判断该传递交接平台是否能够通过检测。

【技术特征摘要】
1.一种驱动芯片的传递交接平台的自动测量设备的检测方法，其特征在于，所述自动检测设备包括：平台、预定位吸嘴、反转吸嘴、传感器以及反射片；其中，所述预定位吸嘴放置在所述平台上,所述反转吸嘴固定设置在所述平台的上端,所述平台转动时带动所述预定位吸嘴移动至所述反转吸嘴的正下方；所述传感器与所述反转吸嘴的一侧固定，所述反射片固定在所述预定位吸嘴的一侧且所述反射片位于所述传感器的下面，所述方法包括如下步骤：自动测量设备控制光源向所述反射片发出光线；所述传感器检测该反射片的测量值；自动测量设备依据反射片的材质确定测量值与高度的变化曲线；自动测量设备从该变化曲线中查询出该测量值对应的高度值；自动测量设备依据该高度值判断该传递交接平台是否能够通过检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射片的最高高度与所述预定位吸嘴的最高高度相同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：如检测不通过，则依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测具体包括：如高度值比预设高度值小，则控制反转吸嘴向上移动，每移动一次，传感器测量一次得到第一测量值，依据第一测量值得到第一高度，如第一高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向上移动并进行高度测量步骤直至移动后的测量值对应的高度值与该预设高度相同。5.根据权利要求3其特征在于，所述依据高度值控制所述反转吸嘴向上或向下移动直至该传递交接平台通过检测具体包括：如高度值比预设高度值大，则控制反转吸嘴向下移动，每移动一次，传感器测量一次得到第二测量值，依据第二测量值得到第二高度，如第二高度与预设高度值相同，则停止移动，否则再次向下移动并进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：张光辉，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，重庆惠科金渝光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44