基于平台系统的检测方法技术方案

本发明专利技术实施例涉及一种基于平台系统的检测方法,包括：将X光机平台设置在系统底板的第一导轨上；将探测器平台设置在第二导轨上；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间；驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质。

Platform based system detection method

The embodiment of the invention relates to a detection method, based on the platform system includes: the X machine platform is arranged on the first floor of the rail system; the detector platform is arranged on the second guide rails; filter placed between the platform and the erection of X ray detector platform; X machine drive platform on the first rail movement to the working position; and drive the detector platform in second rail movement to the working position; adjusting the X machine platform position, adjust the filter frame, the X - X shooting position, filter frame inserted in the center of the additional filter and detector receiving X ray position on the same line of light; X ray generating initial X ray beam X; initial beam subjected to additional filter filtration, to remove the lower than the first threshold energy X-ray detector; after filtering X ray photon detector in crystal deposition An electrical signal is generated through an electronic device to obtain the energy spectrum data; the adjustment of the tube voltage and the additional filtering yield different radiations.

【技术实现步骤摘要】
基于平台系统的检测方法
本专利技术涉及一种辐射监测
，尤其涉及一种基于平台系统的检测方法。
技术介绍
自原子弹试验成功，核能的应用得到广泛普及，涉及军事、医疗、能源等方面。导致环境中人工放射性提高，接触电离辐射的工作人员的辐射防护和安全也越来越得到关注。因此，环境核辐射监测势在必行。环境核辐射监测是指对核设施周围环境中已存在的辐射水平、环境介质中放射性核素的含量，以及为评价公众剂量所需的环境参数、社会状况进行的监测。平台系统用于辐射仪表的检定、校准与检测，常用于工业无损检测等领域。为了得到准确的检测结果，需要对平台系统进行校准，但现有平台系统的检测方法的操作过程复杂，很难通过简单操作就实现放射源、附加滤波片及仪表的三点一线，尤其是在放射源放置于较长导轨上行程可变情况下，更是不易实现，无法达到平台系统要求的精度，因而会影响到检测效果和准确度。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种基于平台系统的检测方法，操作简单，能够达到平台系统要求的精度，从而提高测量结果的准确度。为实现上述目的，本专利技术提供了一种基于平台系统的检测方法，所述基于平台系统的检测方法包括：将X光机平台设置在平台系统的系统底板的第一导轨上；其中，X光机平台上架设有X光机；将探测器平台设置在系统底板的第二导轨上；其中，探测器平台上架设有探测器；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间，滤波架上插接有附加滤波片；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；其中，所述能谱数据为光子能量与光子数的对应关系；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质；其中，所述辐射质包括平均能量、谱分辨率、第一半值层和同质系数。优选的，在所述将X光机平台设置在于所述平台系统的系统底板的第一导轨上之前，所述方法还包括：将所述系统底板放置在屏蔽箱内,通过所述屏蔽箱屏蔽宇宙射线。优选的，所述调节所述X光机平台的位置具体为：开启所述X光机平台上的激光校准器，发射激光；其中，所述第一X射线束与所述激光的出射方向平行；调节所述X光机平台的升降装置，使所述激光校准器发射的激光射向所述探测器平台的激光接收器；调节所述X光机平台的俯仰台和旋转台，使所述激光校准器发射的激光射至所述激光接收器的中心。进一步优选的，所述调整所述滤波架具体为：转动所述滤波架，使所述激光校准器发射的激光射向所述滤波架；其中，所述滤波架包括支撑杆和连接部；并且，调节所述支撑杆的高度，旋转所述支撑杆的角度，使激光校准器发射的激光射向所述滤波架的预定位置，使所述X光机的X光出射位置、所述滤波架上插接的附加滤波片中心和所述探测器的接收X射线位置在同一直线上。进一步优选的，所述俯仰台包括第一台面、第二台面和俯仰调节螺栓；所述第一台面通过所述俯仰调节螺栓架设于所述第二台面的上方；所述调节X光机平台的俯仰台具体为：旋转所述俯仰调节螺栓，使所述第一台面根据所述俯仰调节螺栓转动产生相应倾斜。进一步优选的，所述旋转台包括旋转驱动电机、固定部和旋转盘；所述旋转盘设置于所述固定部上；所述调节X光机平台的旋转台具体为：所述旋转驱动电机接收旋转信号，驱动所述旋转盘在所述固定部上旋转。优选的，所述第一导轨包括固定平台、两条轨道、第一滑块和丝杠；所述两条轨道平行设置于所述固定平台上；所述丝杠设置于所述两条轨道中间，并平行于所述两条轨道；所述第一滑块设置于所述丝杠上并与所述X光机平台的底部相连；所述控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置具体为：所述第一电机接收第一位移信号，驱动所述丝杠转动，带动所述第一滑块沿所述丝杠运动至工作位置。优选的，所述调节附加过滤具体为：更换附加滤波片。优选的，所述调节管电压具体为：改变所述初始X射线束的强度和平均能量。本专利技术实施例提供的基于平台系统的检测方法，操作简单，能够达到平台系统要求的精度，从而提高测量结果的准确度。附图说明图1为本专利技术实施例提供的平台系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的X光机平台的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的基于平台系统的检测方法流程图。具体实施方式下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。本专利技术实施例提供的基于平台系统的检测方法，执行于平台系统中，所述平台系统包括系统底板、X光机平台、放射源平台、探测器平台和滤波架，通过简单的操作能够实现平台系统中的X光机平台、探测器平台和滤波架之间的位置校准。为了更好的理解本专利技术实施例提供的检测方法，首先，对平台系统的结构进行介绍，如图1所示，平台系统包括：系统底板1、X光机平台2、放射源平台3、探测器平台4和滤波架5。系统底板1具有第一导轨11、第二导轨12和第三导轨13，第三导轨13的长度与第一导轨11的长度相等,且第三导轨13平行于第一导轨11设置；第二导轨12垂直于第一导轨11和第三导轨13，且设置在第一导轨11和第三导轨13的一端；第二导轨12的长度大于第一导轨11和第三导轨13之间的间距。如图2所示，第一导轨11包括固定平台111、两条轨道112、第一滑块(图中未示出)和丝杠113；两条轨道112平行安装在固定平台111的上；丝杠113位于两条轨道112中间，并平行于两条轨道112，由第一电机14驱动转动；第一滑块设置在丝杠113上，随丝杠113的转动沿丝杠113运动。其中，第一导轨11、第二导轨12和第三导轨13结构相同，第二导轨12由第二电机(图中未示出)驱动，第三导轨由第三电机(图中未示出)驱动。X光机平台2的结构具体如图2所示，包括第一移动平台21和X光机22，第一移动平台21滑设在第一导轨11上，沿第一导轨11方向运动；X光机22设置在第一移动平台21上，产生水平出射的X射线束。第一底座211的底面两侧设有两排第二滑块2111，每排可以设有两个第二滑块2111，所述两排第二滑块2111滑分别滑设在第一导轨11的两条轨道112上，并且两排第二滑块2111之间的距离与两条轨道112之间的距离相等；第一底座211的底面与第一滑块固定连接。当X光机平台2需要沿第一导轨11方向调整位置时，可以通过第一电机14驱动丝杠113转动，带动第一滑块沿丝杠113运动，从而实现第一底座211沿第一导轨11运动。滑轨212，安装在第一底座211上，与第一导轨11的方向垂直。第二底座213，平行第一底座211并滑设在滑轨212上，由滑移电机15驱动，沿滑轨212方向运动，即沿垂直第一导轨11方向运动；第二底座213上设置有多个第一固定柱2131，第一固定柱2131为圆柱型，多个第一固定柱2131分别设置在第二底座213的两侧。升降装置214，设置在第二底座213上；升降装置214包括升降驱动电机2141、升降驱动杆2142和升降平台2143；升降平台2143具有第一螺纹孔；具体的，第一螺纹孔位于升降平台2143的中心，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于平台系统的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：将X光机平台设置在平台系统的系统底板的第一导轨上；其中，X光机平台上架设有X光机；将探测器平台设置在系统底板的第二导轨上；其中，探测器平台上架设有探测器；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间，滤波架上插接有附加滤波片；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；其中，所述能谱数据为光子能量与光子数的对应关系；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质；其中，所述辐射质包括平均能量、谱分辨率、第一半值层和同质系数。

【技术特征摘要】
1.一种基于平台系统的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：将X光机平台设置在平台系统的系统底板的第一导轨上；其中，X光机平台上架设有X光机；将探测器平台设置在系统底板的第二导轨上；其中，探测器平台上架设有探测器；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间，滤波架上插接有附加滤波片；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；其中，所述能谱数据为光子能量与光子数的对应关系；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质；其中，所述辐射质包括平均能量、谱分辨率、第一半值层和同质系数。2.根据权利要求1所述的基于平台系统的检测方法，其特征在于，在所述将X光机平台设置在于所述平台系统的系统底板的第一导轨上之前，所述方法还包括：将所述系统底板放置在屏蔽箱内,通过所述屏蔽箱屏蔽宇宙射线。3.根据权利要求1所述的基于平台系统的检测方法，其特征在于，所述调节所述X光机平台的位置具体为：开启所述X光机平台上的激光校准器，发射激光；其中，所述第一X射线束与所述激光的出射方向平行；调节所述X光机平台的升降装置，使所述激光校准器发射的激光射向所述探测器平台的激光接收器；调节所述X光机平台的俯仰台和旋转台，使所述激光校准器发射的激光射至所述激光接收器的中心。4.根据权利要求3所述的基于平台系统的检测方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴金杰，周振杰，廖振宇，余继利，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11