温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明实施例涉及一种基于平台系统的检测方法,包括：将X光机平台设置在系统底板的第一导轨上；将探测器平台设置在第二导轨上；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间；驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，驱动探测器平台在第二导轨上运动...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。