【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种芯片测试装置,具体涉及一种基于石墨烯卷的芯片测试插槽。
技术介绍
芯片测试插槽是测试高集成度芯片的一种关键设备,而芯片测试插槽的的关键组成器件是几十个甚至上百个导电弹簧。导电弹簧主要有4种不同类型的金属弹簧和1种非金属弹簧。基于这些导电弹簧的芯片测试插槽可以快速有效地测试各类芯片。目前国际市场上提供芯片测试插槽的公司主要包括美国Mill-Max,IronwoodElectronics,AMPInc.和ARIESElectronics,Inc.、英国Thomas&Betts、日本山一电机株式会社(YamachiElectronics)和恩普乐斯(Enplas)、以及新加坡BeCe公司。然而,这些产品都只适合测试低频低速芯片,部分产品也不能工作于高温。随着芯片的工作频率、运行速度、以及工作温度的提高,这些导电弹簧分别存在插入损耗迅速增大、弹性不够、不耐高温、或易于脱落等严重缺陷。
技术实现思路
本技术的目的在于:针对高速高频芯片的测试需求,克服现有技术的不足,提出了一种基于石墨烯卷的芯片测试插槽。本技术的理论依据在于:石墨烯材料既是目前最薄也是最强韧的材料,断裂度比钢材要高200度;也具有很好的弹性,拉伸度可达自身尺寸的20%;同时是目前自然界发现的导电导热性最强的一种纳米材料。本技术的技术方案为:一种基于石墨烯卷的芯片测试插槽,包括一个基于石墨烯卷的导电弹簧,包括一个金属外盒,还包括一个介质板。基于石墨烯卷的导电弹簧是所述芯片测试插槽的核心器件。石墨烯卷是由石墨烯 ...
【技术保护点】
一种基于石墨烯卷的芯片测试插槽,其特征在于:所述芯片测试插槽包括一个基于石墨烯卷的导电弹簧(1),包括一个金属外盒(2),还包括一个介质板(3)。
【技术特征摘要】
1.一种基于石墨烯卷的芯片测试插槽,其特征在于:所述芯片测试插槽包括一个基于石墨烯...
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