一种长波红外滤光片及其制备方法技术

技术编号:14406376 阅读:123 留言:0更新日期:2017-01-11 17:45
本发明专利技术公开了一种长波红外滤光片,其包括:基板和沉积在基板两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系,长波通膜系为:A/2.2(0.5LH0.5L)4L 1.8(0.5LH0.5L)8L 1.4(0.5LH0.5L)8L 0.8(0.5LH0.5L)41.4H 0.52L/S,短波通膜系为:A/1.8(0.5HL0.5H)11(0.5HL0.5H)121.5(0.5LH0.5L)7(0.5LH0.5L)100.85(0.5LH0.5L)10/S,膜系中的符号含义:A为空气,S为Ge基底,H为高折射率材料Ge,L为低折射率材料ZnS。本发明专利技术滤光片达到优良的技术指标,背景深度高,透射带的上升和下降沿陡度分别为2%和2.2%,通带10.3μm~11.3μm平均透过率达88%,截止带最大透过率小于1%,可起到限制光谱范围,抑制背景干扰,提高目标分辨率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学元件制备
,涉及一种可满足60K低温环境使用的10.3μm~11.3μm长波红外滤光片。
技术介绍
长波红外滤光片在光学分析仪器、光学探测器方面都有广阔的应用前景,主要用于对地成像观测和光谱分析监测,我国高分辨率对地观测系统重大专项,也对长波红外滤光片提出了研发需求。大视场红外多光谱扫描仪用长波红外滤光片滤光片,要求通带平均透过率高、抑制带截止深度深、通带波纹系数小、截止范围宽,可适用于60K低温和地面环境条件,具有高可靠性和高稳定性。由于长波红外滤光片是封装在探测器前使用,工作环境特殊,其需满足从低温极限值60K到高温极限值80℃的瞬间温度冲击,采用常规方法制备滤光片,会出现低温下滤光片中心波长漂移和膜层脱落的现象,低温短波红外窄带滤光片一直是光学薄膜研究的重点。
技术实现思路
(一)专利技术目的本专利技术的目的是:提供一种10.3μm~11.3μm长波红外滤光片,提高光谱扫描仪分辨率和成像质量。(二)技术方案为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种长波红外滤光片,其包括:基板2和沉积在所述基板2两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系,长波通膜系为:A/2.2(0.5LH0.5L)4L1.8(0.5LH0.5L)8L1.4(0.5LH0.5L)8L0.8(0.5LH0.5L)41.4H0.52L/S,短波通膜系为:A/1.8(0.5HL0.5H)11(0.5HL0.5H)121.5(0.5LH0.5L)7(0.5LH0.5L)100.85(0.5LH0.5L)10/S,膜系中的符号含义:A为空气,S为Ge基底,H为高折射率材料Ge,L为低折射率材料ZnS。其中,所述基板2选用直径为20mm、厚度为1mm±0.05mm的Ge基板,其表面光圈N≤2,局部光圈ΔN≤0.5,不平行度<20″,表面光洁度B=Ⅴ。本专利技术还提供了一种长波红外滤光片的制备方法,其包括以下步骤:S1:真空室清洁;S2:镀膜前基板清洗;S3:真空室准备在真空室电子枪坩埚内预置镀膜材料锗、硫化锌;S4:膜层镀制打开离子源,用离子束清洗基板;按照基板两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系结构,利用电子束蒸镀方法进行锗膜层沉积,利用离子束辅助的电子束蒸镀方法进行硫化锌膜层沉积。其中,所述步骤S4中,将锗和硫化锌交替蒸镀到基板表面时,锗膜沉积时,控制沉积速率0.5-0.8nm/s;硫化锌膜沉积时,离子源氩气气体流量18±2sccm,离子源束压180V~220V,离子源束流80V~110V,沉积速率0.5-0.8nm/s。其中,所述步骤S1中,用喷砂机清洗镀膜机真空室防护屏、电极、挡板和工装,然后用脱脂纱布蘸无水乙醇擦净真空室。其中,所述步骤S2中,依次用脱脂纱布和脱脂棉布蘸体积比为1:1的乙醇、乙醚混合溶液擦净基片表面。其中,所述步骤S3中,所述电子枪坩埚内预置锗、硫化锌的纯度不小于99.99%,其预置量为:1000mm镀膜机,锗、硫化锌分别为180g、220g。其中,所述步骤S4中,膜层镀制时,离子源采用氩气作为工作气体,工作气体纯度不小于99.995%,气体流量18sccm-22sccm。其中,所述步骤S4中,膜层镀制时,离子束清洗基板后,将基片加热到200±10℃,并保持1h。其中,还包括步骤S5:基板降温,在真空不低于2×10-3Pa,基板降温到80±8℃,关闭抽真空系统,真空室降到室温后取出滤光片。(三)有益效果上述技术方案所提供的长波红外滤光片,滤光片达到优良的技术指标,背景深度高,透射带的上升和下降沿陡度分别为2%和2.2%,通带10.3μm~11.3μm平均透过率达88%,截止带最大透过率小于1%,可起到限制光谱范围,抑制背景干扰,提高目标分辨率;滤光片性能稳定;滤光片制备工艺简单。附图说明图1为长波红外滤光片正面与反面膜层排列示意图,其中1面和3面分别沉积长波通和短波通膜系,2为基板。图2为本专利产品在低温(60K)下滤光片光谱透过率与波长的实例曲线。具体实施方式为使本专利技术的目的、内容和优点更加清楚,下面结合附图和实施例,对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。为克服现有技术中存在的技术问题,本专利技术通过设计、试验,研制出一种10.3μm~11.3μm红外滤光片,它以锗(Ge)为基底,锗(Ge)和硫化锌(ZnS)为膜层材料,采用真空薄膜沉积方法制备,制备滤光片通带范围10.3±0.05μm~11.3±0.05μm,平均透过率≥85%,10.3μm和11.3μm处陡度Δλ/λ0≤4%,在1μm~10μm和11.8μm~15μm波长范围内的最大透过率≤1%,带宽≥1.0μm,产品光学性能、膜层的物理强度和环境适应性满足实际使用要求。具体地,参照图1所示,本实施例长波红外滤光片包括基板2和沉积在基板2两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系,长波通膜系为:A/2.2(0.5LH0.5L)4L1.8(0.5LH0.5L)8L1.4(0.5LH0.5L)8L0.8(0.5LH0.5L)41.4H0.52L/S,短波通膜系为:A/1.8(0.5HL0.5H)11(0.5HL0.5H)121.5(0.5LH0.5L)7(0.5LH0.5L)100.85(0.5LH0.5L)10/S,膜系中的符号含义:A为空气,S为Ge基底,H为高折射率材料Ge,L为低折射率材料ZnS。进一步地,基板2选用直径为20mm、厚度为1mm±0.05mm的Ge基板,其表面光圈N≤2,局部光圈ΔN≤0.5,不平行度<20″,表面光洁度B=Ⅴ。上述长波红外滤光片沉积方法的具体步骤如下:第一步:真空室清洁用喷砂机清洗镀膜机真空室防护屏、电极、挡板和工装,清洗后,被清洗件表面不得有膜层附着,然后用脱脂纱布蘸无水乙醇擦净真空室。第二步:镀膜前清洗依次用脱脂纱布和脱脂棉布蘸体积比为1:1的乙醇、乙醚混合溶液擦净基片表面,并用“哈气法”检验基片表面,直至无油污、尘粒、擦痕为止。第三步:真空室准备将适量的镀膜材料锗、硫化锌放入电子枪坩埚内(对于1000mm镀膜机,锗、硫化锌分别为180g、220g),镀膜材料纯度不小于99.99%,用洗耳球吹基片表面,然后立即关闭真空室门。第四步:膜层镀制真空度不低于2×10-3Pa,打开旋转架开关,旋转工件架,打开烘烤,设定烘烤温度。再依次打开电子枪偏转电源、灯丝电源及高压枪。打开离子源,用离子束清洗基板5min,离子源采用氩气作为工作气体,工作气体纯度不小于99.995%,气体流量18sccm-22sccm,锗利用电子束蒸镀方法进行膜层沉积,硫化锌利用离子束辅助的电子束蒸镀方法进行膜层沉积。将基片加热到200±10℃,并保持1h。按设计膜系,将锗和硫化锌交替蒸镀到基板表面,镀膜材料沉积参数如下:(1)锗膜沉积调节电子枪电流,充分均匀预熔膜料,打开挡板,控制沉积速率0.5-0.8nm/s;此工艺参数能减少锗膜层吸收,提高滤光片透射性能,实现应力匹配,满足滤光片低温环境适应性。(2)硫化锌膜沉积离子源氩气气体流量18±2sccm,离子源束压180V~220V,离子源束流80V~110V,调节电子枪电流,充分均匀预熔膜料,打开挡板,沉积速率0.5-0.8nm/s;此工艺参数能提高硫化锌膜层稳定性,提高膜层聚集密度,实本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/20/201610974028.html" title="一种长波红外滤光片及其制备方法原文来自X技术">长波红外滤光片及其制备方法</a>

【技术保护点】
一种长波红外滤光片,其特征在于,包括:基板(2)和沉积在所述基板(2)两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系,长波通膜系为:A/2.2(0.5LH0.5L)4L 1.8(0.5LH0.5L)8L 1.4(0.5LH0.5L)8L 0.8(0.5LH0.5L)41.4H 0.52L/S,短波通膜系为:A/1.8(0.5HL0.5H)11(0.5HL0.5H)121.5(0.5LH0.5L)7(0.5LH0.5L)100.85(0.5LH0.5L)10/S,膜系中的符号含义:A为空气,S为Ge基底,H为高折射率材料Ge,L为低折射率材料ZnS。

【技术特征摘要】
1.一种长波红外滤光片,其特征在于,包括:基板(2)和沉积在所述基板(2)两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系,长波通膜系为:A/2.2(0.5LH0.5L)4L1.8(0.5LH0.5L)8L1.4(0.5LH0.5L)8L0.8(0.5LH0.5L)41.4H0.52L/S,短波通膜系为:A/1.8(0.5HL0.5H)11(0.5HL0.5H)121.5(0.5LH0.5L)7(0.5LH0.5L)100.85(0.5LH0.5L)10/S,膜系中的符号含义:A为空气,S为Ge基底,H为高折射率材料Ge,L为低折射率材料ZnS。2.如权利要求1所述的长波红外滤光片,其特征在于,所述基板(2)选用直径为20mm、厚度为1mm±0.05mm的Ge基板,其表面光圈N≤2,局部光圈ΔN≤0.5,不平行度<20″,表面光洁度B=Ⅴ。3.一种权利要求1或2所述长波红外滤光片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:真空室清洁;S2:镀膜前基板清洗;S3:真空室准备在真空室电子枪坩埚内预置镀膜材料锗、硫化锌;S4:膜层镀制打开离子源,用离子束清洗基板;按照基板两侧表面上的长波通膜系和短波通膜系结构,利用电子束蒸镀方法进行锗膜层沉积,利用离子束辅助的电子束蒸镀方法进行硫化锌膜层沉积。4.如权利要求3所述的长波红外滤光片的制备方法,其特征在于,所述步骤S4中,将锗和硫化锌交替蒸镀到基板表面时,锗膜沉...

【专利技术属性】
技术研发人员:宗杰王珊珊杨明
申请(专利权)人:天津津航技术物理研究所
类型:发明
国别省市:天津;12

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