一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法技术

技术编号:14136377 阅读:241 留言:0更新日期:2016-12-10 04:55
本发明专利技术公开一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法,包括以下步骤,A、测量谐振器的相频曲线图,并找到相频曲线图中的零相位点,即得到并联谐振角频率ωa和串联谐振角频率ωr;B、谐振器串联一个电容CL,并测量其相频曲线图,得到串联电容CL后的并联谐振角频率ωA和串联谐振角频率ωR;C、通过上述四个频率值和公式得到谐振器的静态电容C0、动态电容C1、动态电感L1和动态电阻R1。本发明专利技术与通常方法近似计算得到的L1、C1、C0相比,本方法计算的L1、C1、C0没有理论误差,同时本方法还得到了R1,从而实现了通过频率测量所有等效参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子
,特别涉及一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法
技术介绍
石英晶体的等效电路可以用BVD(Butterworth-Van Dyke)模型表示。目前有一些方法可以计算石英晶体的等效参数,最常用的是串联负载电容法。石英晶体的BVD等效电路模型如图1所示,其中L1、C1和R1分别是石英晶体谐振器的动态电感、动态电容和动态电阻,C0是石英晶体谐振器的静态电容。目前一般常用的串联负载电容法是通过测试不带串联电容的串联谐振频率fr和加了串联电容后的串联谐振频率fR,根据公式进行近似计算得到C1和C0。现有的测量石英晶体等效参数的方法,理论上都有近似,只适合于高Q值的谐振器。并且不能测量全部4个参数L1、C1、R1和C0。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种不存在任何的近似,即使在Q值低的情况下也不会出现理论误差,而且可以测量全部4个参数的石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法,包括以下步骤,A、测量谐振器的相频曲线图,并找到图中的零相位点,即得到并联谐振角频率ωa和串联谐振角频率ωr;B、谐振器串联一个电容CL,并测量其相频曲线图,得到串联电容CL后的并联谐振角频率ωA和串联谐振角频率ωR;C、通过上述四个频率值和下式得到谐振器的静态电容C0、动态电容C1、动态电感L1和动态电阻R1; C 0 = C L ω R 2 ω A 2 - ω r 2 ω a 2 ( ω A 2 + ω R 2 - ω a 2 - ω r 2 ) 2 - 1 ( ω R 2 ω A 2 ω r 2 ω a 2 - 1 ) - 1 ]]> C 1 = ( ω R 2 ω A 2 ω r 2 ω a 2 - 1 本文档来自技高网...
一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法

【技术保护点】
一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法,其特征在于,包括以下步骤,A、测量谐振器的相频曲线图,并找到相频曲线图中的零相位点,即得到并联谐振角频率ωa和串联谐振角频率ωr;B、谐振器串联一个电容CL,并测量其相频曲线图,得到串联电容CL后的并联谐振角频率ωA和串联谐振角频率ωR;C、通过上述四个频率值和下式得到谐振器的静态电容C0、动态电容C1、动态电感L1和动态电阻R1;C0=CLωR2ωA2-ωr2ωa2(ωA2+ωR2-ωa2-ωr2)2-1(ωR2ωA2ωr2ωa2-1)-1]]>C1=(ωR2ωA2ωr2ωa2-1)(C0+CL)]]>L1=1ωrωaC11+C1C0]]>R1=L12L1C1+1L1C0-ωa2-ωr2]]>式中:CL为串联电容,单位F;C0为静态电容,单位F;C1为动态电容,单位F;L1为动态电感,单位H;R1为动态电阻,单位Ω。...

【技术特征摘要】
1.一种石英晶体谐振器等效电路参数的测量方法,其特征在于,包括以下步骤,A、测量谐振器的相频曲线图,并找到相频曲线图中的零相位点,即得到并联谐振角频率ωa和串联谐振角频率ωr;B、谐振器串联一个电容CL,并测量其相频曲线图,得到串联电容CL后的并联谐振角频率ωA和串联谐振角频率ωR;C、通过上述四个频率值和下式得到谐振器的静态电容C0、动态电容C1、动态电感L1和动态电阻R1; C 0 = C L ω R 2 ω A 2 - ω r 2 ω a 2 ( ω A 2 + ω R 2 - ω a 2 - ω r 2 ) 2 - 1 ( ω R 2 ω A 2 ω r 2 ...

【专利技术属性】
技术研发人员:王艳谌海云刘东
申请(专利权)人:西南石油大学
类型:发明
国别省市:四川;51

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