多位错误的有效错误校正的电路、方法和非瞬时存储媒介技术
【技术实现步骤摘要】
多位错误的有效错误校正
一些实施例涉及用于错误校正和/或错误检测的电路。一些实施例涉及用于错误 校正和/或错误检测的方法。一些实施例涉及任意3位的校正。
技术介绍
错误检测和校正或者错误控制是可以使得能够在不可靠的通信信道和/或不可 靠的数据存储装置上进行数字数据的可靠递送的技术。错误检测和校正属于信息理论和编 码理论的领域，并在计算机科学和电信中得到应用。许多通信信道和/或数据存储器可能 遭受信道噪声和干扰，且因此可能在从源到接收器的传输/存储期间引入错误。错误检测 技术可以允许检测这样的错误，同时错误校正可以使得能够进行原始数据的重构。可以例 如以特定长度的二进制字的形式提供待传输或存储的数据。 已知的是，在特定长度的二进制序列或二进制字中使用BCH代码通过组合错误 校正电路来校正个随机1位错误、2位错误和随机3位错误，如例如在Okano，H.和 Imai,H.的AconstructionmethodofhighspeeddecodersusingROM'sfor Bose-Chadhuri-HocquenghemandReedSolomonCodes，'（IEEETrans.Comp.C36 (10) 1165-1175，1987)中描述的。 当BCH代码用在Galois域6F(2)上时，则/?彡2-1且错误校验子s可以由3?个 分量组成，其中第一?个分量可以形成子校验子A，第二《个分量形成子校验子&，且第三 ?个分量形成子校验子%，如在使用BCH代码时常见的。如果考虑总奇偶性，则错误校验子 仍可以包含应由...
【技术保护点】
一种用于对在n位数二进制字v’=v’1,…,v’n中的位的至少1位、2位和3位错误进行错误校正的电路SK，所述错误由来自在Galois域GF(2m) 上的二进制BCH代码C的n位数码字的位错误产生，其中m ≥ 4，其中所述代码C包括至少d ≥ 7的码距离，其中所述BCH代码C包括H矩阵H，使得所述H矩阵的第一m行形成子矩阵H1，所述H矩阵的第二m行形成第二子矩阵H3，以及所述H矩阵的另外的m行形成第三子矩阵H5，其中：以及其中适用，α是在其矢量表示中作为m分量二进制列矢量的Galois域GF(2m)的元素，且αj的相应指数j将被解释为以2m ‑ 1为摸，且n ≤ 2m ‑ 1适用，所述电路包括：校验子生成器Synd，其被配置成确定错误校验子s，其中s的第一m个分量形成m分量子校验子s1，s的第二m个分量形成第二m分量子校验子s3，以及s的另外m个分量形成第三子校验子s5，其中s1 = H1 ·v’, s3 = H3 · v’ 以及s5 = H5 · v’适用，多个子电路，其中对于遭受n位数二进制字v’=v’1,...,v’n的可能错误校正的每个位vi’，存在子电路SKi，所述子电路SK...
【技术特征摘要】
2013.08.02 US 13/9580471. 一种用于对在位数二进制字Z …，中的位的至少1位、2位和3位错误 进行错误校正的电路娜，所述错误由来自在Galois域6F(2)上的二进制BCH代码C的/? 位数码字v = Vl,...&的位错误产生，其中彡4,其中所述代码C包括至少d彡7的码距 离，其中所述BCH代码C包括H矩阵//，使得所述H矩阵的第一 m行形成子矩阵0，所述H矩 阵的第二?行形成第二子矩阵私，以及所述H矩阵的另外的《行形成第三子矩阵//5，其中： w I = …i-i:i = (/.4 …，的:1 以及 = (/4,.…/C 其中适用，a是在其矢量表示中作为《分量二进制列矢量的Galois域6F(2)的元素，且 的相应指数J将被解释为以2m- 1为摸，且< 2 - 1适用，所述电路包括： 校验子生成器其被配置成确定错误校验子&其中s的第一 m个分量形成《分量 子校验子的第二《个分量形成第二《分量子校验子&，以及s的另外《个分量形成第 三子校验子A，其中 s' 二 H' ? v，，sz 二 ? V' 以及 _s5 =巧? 适用， 多个子电路，其中对于遭受位数二进制字，的可能错误校正的 每个位r/，存在子电路5^.，所述子电路5尤被配置成使得它根据下列关系式从中间值 jwp2w2,2%形成校正值Av;,所述中间值2叫,ZwpEw2, Z，对于遭受可能错误校正的 所有位位置是相等的：以及所述中间值根据所述子校验子?&来确定，使得 在1位错误或2位错误或3位错误的情况下，下列情况适用：当错误出现在所述位位 直2中时z_ = ，以及当没有错误出现在所述位位直2中时 z = (zj, z2,... zm) ^ (〇,0.... 〇)； 其中，为了确定中间值ZwpEwpZi,和2,，均存在一个子电路SZwQ，SZw1;SZw 2和 ，所述子电路均被配置成使得它为遭受所述字y的可能错误校正的每个位位置从所 述子校验子?七提供所述相同的中间值以及 组合电路》/7,被配置成以分量方式将遭受可能错误校正的位与由所述子电路 提供的对应校正值A%组合成可能校正后的位。2. 根据权利要求1所述的电路，其中所述组合电路Kh被配置成使得它将遭受可能错 误校正的位与由所述子电路51提供的对应校正值么巧组合成可能校正后的位'，其 中所述组合是异或运算，且〃严=4 ? 适用。3. 根据权利要求1所述的电路，其中所述子电路5Z%，5^，5^2和5^3被配置成使 得所述子电路5Z%，52^和根据所述子校验子&，&和&来提供所述中间值，适用，其中运算+是在所述Galois域中的对应元素的加法，其在矢量表示中对 应于所述对应的?分量二进制矢量的所述分量方式异或组合，且运算?是在所述Galois域 以(2〇中的所述乘法的所述运算。4. 根据权利要求3所述的电路，其中用于提供中间值的子电路至少部分地被联合地实 现。5. 根据权利要求1所述的电路，其中所述子电路5Z%，5^，5^2和5^3被配置成使 得所述子电路5Z%，5^，和提供所述中间值适用，其中'是对于所述子校验子&& ^的所有值不等于0的因子，其中所述运算 +是在GaloiS域6F(2?)中的所述对应元素的所述加法，其在所述矢量表示中对应于所述对 应的m分量二进制矢量的所述分量方式异或组合，且所述运算?是在所述Galois域6F(2) 中的所述乘法的所述运算。6. 根据权利要求1所述的电路，其中所述子电路5Z%，52^，被配置成使 得所述子电路5Z%，5^，5^2和5^3根据所述子校验子?5^，a来提供所述中间值适用，且+是在所述Galois域中的所述对应元素的所述加法，其在所述矢量表 示中对应于所述对应的《分量二进制矢量的所述分量方式异或组合，且所述运算?是在所述 Galois域中的所述乘法的所述运算。7. 根据权利要求6所述的电路，其中用于提供中间值的子电路至少部分地被联合地实 现。8. 根据权利要求1所述的电路，其中所述位的所述奇偶性由所述错误校 验子的至少一个分量确定。9. 根据权利要求8所述的电路，其中所述H矩阵包括行的子集，使得属于行的该子集的 所述H矩阵的每列的所述相应分量包括奇数数量的1。10. 根据权利要求9所述的电路，其中行的所述子集包括一个单个行。11. 根据权利要求1所述的电路，其中错误检测电路存在。12. 根据权利要求11所述的电路，其中所述错误检测电路指示i位错误是否针对至少 一个e !...
【专利技术属性】
技术研发人员：C巴达克，M格泽尔，T柯恩，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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