本申请涉及一种用户画像构建方法、装置、计算机设备、存储介质和产品。所述方法包括：获取车辆在预设时间段内的运行数据；提取运行数据的特征；特征包括第一特征、第二特征、第三特征及第四特征；第一特征包括车辆在每一次驾驶过程的起始点的第一坐标信息...

本申请涉及一种数据库构建方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据；对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，得到多种电路外壳的目标图像数据。对多种电路外壳的目标图像数据进行...

本申请涉及一种器件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据检测图像的目标图像标识，确定待检测缺陷类型；并从各候选检测模型中选择出与待检测缺陷类型对应的目标检测模型；最后采用目标检测模型，对检测图像进行缺陷检测。本申请提供的器件...

本公开涉及一种SOI CMOS器件潜在缺陷测量方法、装置及设备。方法包括获取至少一个SOI CMOS器件的饱和漏极电流和关态漏极电流，根据饱和漏极电流和关态漏极电流的第一比较结果，判断SOI CMOS器件的漏极是否存在潜在损伤；获取至少...

本申请涉及一种扭矩试验装置，用于对封装器件进行扭矩试验，封装器件具有盖体与基板。其中，扭矩试验装置包括第一夹具、第二夹具、扭矩传感器及电机组件，第一夹具及第二夹具相对设置，且分别用于夹紧盖体与基板，电机组件与第一夹具相连接，电机组件用于...

本申请涉及一种剩余寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取目标产品所在实际环境的目标环境数据，所述目标产品的初始性能数据，以及所述目标产品在所述实际环境下的目标时长；将所述目标环境数据和所述目标时长和所述初始性能数据...

本申请涉及一种温度控制系统、方法及电子设备，包括：直流电源模块、第一温控组件、第二温控组件、第一反馈组件、第二反馈组件、运算放大器及控制模块；控制模块用于在直流电源模块启动预设时间后，获取第一电信号和第二电信号；根据第一电信号和第二电信...

本申请涉及一种PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：根据第一缺陷图像样本集以及每一缺陷图像样本的标注缺陷类型，对预设目标检测模型训练，直至预设目标检测模型收敛；将待检测PCB产品的待检测图像输入至...

本申请涉及一种电池健康状态预测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取各个车辆的历史运行数据，所述历史运行数据包括所述车辆的累计里程数据、所述车辆的车辆电池的历史充放电电流速率分布、所述车辆电池的历史充放电深度数据以及所述车...

本发明公开了基于设备状态和故障传递关系模型的系统状态评估方法，具体步骤如下：首先，以设备级状态监测参数为输入，利用专家知识对设备监测数据进行分析处理，评估设备状态；其次，构建装备系统逻辑架构模型、故障传递关系模型；然后，根据设备状态、系...

本申请涉及一种对抗样本生成方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：对目标样本添加扰动，得到所述目标样本对应的扰动样本；基于样本生成模型，根据所述扰动样本，生成对抗样本；其中，所述样本生成模型是所述目标客户端和其他客户端，对原始模...

本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下...

本申请涉及一种系统安全评估方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及系统安全技术领域。所述方法包括：确定待检测系统中至少一个系统阶段的安全影响因素；确定各系统阶段的安全影响因素对应的评分结果，其中，评分结果包括安全影响因素对应的至少一项评价...

本申请涉及一种器件缺陷长度确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取包括待识别器件的目标图像；识别所述目标图像中所述待识别器件的缺陷边界；确定所述缺陷边界中至少两个边界点在参考方向上的投影，得到相应边界点的投影点；所述参考...

本申请涉及一种数据缓冲区的管理方法、装置，方法包括：获取数据采集通道关联的缓冲区序列，缓冲区序列包括的多个缓冲区位于不同的连续地址空间内，不同数据采集通道的缓冲区序列中相同次序的缓冲区属于相同的连续地址空间；接收到数据采集通道关联的写操...

本申请涉及一种轴承状态预测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及核工程领域。所述方法包括：确定待检测轴承的使用周期，以及确定所述待检测轴承在所述使用周期的参考特征值；根据参考特征值，对初始特征变化函数进行参数更新，得到目标特征变化函数；...

本申请涉及一种光电极微探针及其制备方法。本申请的光电极微探针包括发光二极管结构。发光二极管结构包括蓝宝石衬底，以及依次层叠设置于蓝宝石衬底的表面上的分布式布拉格反射镜层、n型氮化镓层、量子阱层及p型氮化镓层。上述光电极微探针中，在传统的...

本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括：测试夹具，用于安装待测器件；网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值...

本申请涉及一种电路板的介电性能测试系统、方法和存储介质。所述系统包括：测试夹具，用于分别将多层电路板中各介质层单独接入测试环路，其中，所述测试环路由所述测试夹具、所述测试夹具夹持的介质层和网络分析仪组成；所述网络分析仪，用于在所述测试环...

本申请涉及一种非接触式板级时域低频富集电流信号的测量方法和装置。所述方法包括：获取仿真环境中仿真探头在全频段下的校准曲线，所述校准曲线包括全频段下各频率值对应的耦合系数、仿真环境中仿真探头激励端口的非归一化阻抗值；获取实际环境中的实际探...