【技术实现步骤摘要】
本申请涉及计算机，特别是涉及一种数据库构建方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
1、随着信息技术的快速发展，电子元器件产能扩增、产线增加，未来将会有越来越多微型化、集成化的元器件(或者简称为集成电路)进入电子产品以及通信系统中，其质量和可靠性水平会直接影响产品功能的实现。因此，对集成电路外观缺陷进行检测是非常重要的环节。
2、相关技术中，通常采用机器学习的方法来训练外观缺陷检测模型，以用于集成电路的外观缺陷检测。但是，相关技术中用于训练的外观缺陷图像数据库通常是为了满足个别研究机构的具体需求而创建的，其适用性较低，从而使得基于该外观缺陷图像数据库训练得到的缺陷检测模型的检测准确性不高。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高缺陷图像数据库的适用性的数据库构建方法、装置、计算机设备和存储介质。
2、第一方面，本申请提供了一种数据库构建方法，方法包括：
3、根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据；
4、对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，得到多种电路外壳的目标图像数据；
5、对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息；其中，缺陷标注信息包括：缺陷类型信息和缺陷图标信息；
6、根据多种电路外壳的目标图像数据以及对应的缺陷标注信息，得到缺陷图像数据库。
7、在其中一个实施例中，预设缺陷特征信息用于
8、获取至少一个图像采集设备采集的多种电路外壳的图像采集数据；
9、根据预设缺陷特征信息从多种电路外壳的图像采集数据中筛选出具有预设缺陷特征的多种电路外壳的原始图像数据。
10、在其中一个实施例中，预设缺陷特征信息用于指示多种预设缺陷特征，根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，包括：
11、根据预设缺陷特征信息从第三方获取具有预设缺陷特征的多种电路外壳的原始图像数据。
12、在其中一个实施例中，对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息，包括：
13、对于各电路外壳的目标图像数据，基于图像标注页面显示目标图像数据对应的目标图像；
14、接收缺陷标注指令，其中，缺陷标注指令中包括缺陷标注信息。
15、在其中一个实施例中，上述方法还包括：
16、根据缺陷图像数据库对初始缺陷检测模型进行模型训练和模型测试，得到目标缺陷检测模型。
17、在其中一个实施例中，上述方法还包括：
18、根据目标缺陷检测模型对缺陷图像数据库进行数据准确性验证，得到验证结果；其中，验证结果用于指示缺陷图像数据库的数据准确性。
19、在其中一个实施例中，对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息之前，上述方法还包括：
20、对于各电路外壳的目标图像数据，根据目标图像数据的图像尺寸信息和预设图像尺寸信息，对目标图像数据进行图像归一化处理，得到处理后的目标图像数据。
21、第二方面，本申请提供了一种数据库构建装置，装置包括：
22、获取模块，用于根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据；
23、处理模块，用于对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，得到多种电路外壳的目标图像数据；
24、标注处理模块，用于对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息；其中，缺陷标注信息包括：缺陷类型信息和缺陷图标信息；
25、确定模块，用于根据多种电路外壳的目标图像数据以及对应的缺陷标注信息，得到缺陷图像数据库。
26、第三方面，本申请提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时以实现上述第一方面的方法的步骤。
27、第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面的方法的步骤。
28、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面的方法的步骤。
29、上述数据库构建方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，并对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，得到多种电路外壳的目标图像数据。进一步地，对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息，并根据多种电路外壳的目标图像数据以及对应的缺陷标注信息，得到缺陷图像数据库；其中，缺陷标注信息包括：缺陷类型信息和缺陷图标信息。相对于相关技术中外观缺陷图像数据库通常是为了满足个别研究机构的具体需求而创建的方式，本申请实施例通过根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，可以准确地筛选出具有缺陷特征的图像数据，收集不同类型的电路外壳的原始图像数据，有利于提高图像数据库的准确性和可靠性。通过对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，可以得到优化后的目标图像数据，有利于提高缺陷标注和分析的效率。通过对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，可以将图像中的缺陷区域准确地标记出来，有利于后续的算法能够更准确地定位和识别不同类型的缺陷。进一步地，通过根据多种电路外壳的目标图像数据以及对应的缺陷标注信息，得到缺陷图像数据库，由于缺陷图像数据库中包含多种类型的电路外观缺陷图像，因此可以满足大多数研究机构的具体需求，其适用性较高，从而有利于提高基于该缺陷图像数据库训练得到的缺陷检测模型的电路外壳缺陷检测和分析的准确性。
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1.一种数据库构建方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设缺陷特征信息用于指示多种预设缺陷特征，所述根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设缺陷特征信息用于指示多种预设缺陷特征，所述根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，包括：
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到所述多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息，包括：
5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到所述多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息之前，所述方法还包括：
8.一种数据库构建装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种计算
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任意一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种数据库构建方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设缺陷特征信息用于指示多种预设缺陷特征，所述根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设缺陷特征信息用于指示多种预设缺陷特征，所述根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据，包括：
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到所述多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息，包括：
5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：赵玥，罗军，王之哲，庞水全，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
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