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三星电子株式会社专利技术
三星电子株式会社共有56801项专利
集成电路器件及其形成方法技术
提供了集成电路器件及其形成方法。集成电路器件可以包括基板和在基板上的晶体管堆叠,该晶体管堆叠包括第一晶体管和在第一晶体管上的第二晶体管。第一晶体管可以在基板和第二晶体管之间,第一晶体管可以包括第一源极/漏极区和第二源极/漏极区、在第一源...
制造半导体器件的方法技术
在一种制造半导体器件的方法中,穿过包括彼此相反的第一和第二表面的衬底的一部分形成对准标记,所述部分与衬底的第二表面相邻。在衬底的第二表面上形成包括栅极结构和源极/漏极层的晶体管。去除衬底的与衬底的第一表面相邻的部分以暴露对准标记。接触插...
具有电压调节功能的半导体器件制造技术
一种半导体器件,包括:电压钳位电路,包括在接收到具有第一电平的电压时操作的多个第一元件,并且被配置为通过调节以第二电平摆动的外部输入信号的电压来输出以第一电平摆动的钳位信号,其中第二电平大于第一电平的两倍;第一缓冲电路,被配置为缓冲钳位...
半导体存储器件制造技术
一种半导体存储器件包括:基板;在基板上的位线;字线,提供在位线上并且在平行于基板的顶表面的第一方向上间隔开;背栅电极,提供在字线当中的一对相邻的字线之间;有源图案,提供在背栅电极和所述一对相邻的字线之间;分别提供在有源图案上的接触图案;...
静电放电钳位电路制造技术
静电放电钳位电路包括:连接在第一和第二节点之间的电阻器;连接在第二和第三节点之间的第一电容器;连接在第四和第三节点之间的第二电容器;连接在第五和第三节点之间的第三电容器;基于第二节点的电压提供电源电压或第四节点的电压的第一反相器;基于第...
光源设备、包括该光源设备的测试系统及其操作方法技术方案
公开了一种包括光源设备的测试系统。该光源设备包括:第一光源,被配置为辐射第一光;多个中性密度(ND)滤光器,包括附接到第一光源并被配置为调整第一光的第一ND滤光器;光圈单元,包括多个光圈,被配置为调整从第一ND滤光器接收到的第一光;以及...
深度传感器制造技术
一种深度传感器包括:衬底,包括在第一方向上彼此相对的第一面和第二面;光电转换元件,设置在衬底中;以及第一抽头和第二抽头,连接到光电转换元件。第一抽头和第二抽头中的每一个包括:浮动扩散区,设置在衬底中;传输晶体管,连接到浮动扩散区;光电晶...
计算存储装置以及在计算存储装置中检测攻击者的方法制造方法及图纸
提供了计算存储装置(CSD)以及在CSD中检测攻击者的方法。所述方法包括:从用户装置接收计算存储(CS)请求;将CS请求识别为攻击:将用户装置的总攻击值与阈值进行比较,其中,总攻击值基于从用户装置接收到的攻击的数量;以及基于所述比较将用...
缺陷检测设备和方法技术
一种包括存储器和控制器的测试设备。存储器存储参考数据,该参考数据包括通过拍摄第一半导体样本上的参考图案而获得的参考图像、参考图案的第一高度、参考图案的第一阴影长度、以及表示第一高度和第一阴影长度之间的相关性的参考值。控制器接收通过拍摄在...
缺陷检测设备及其方法技术
一种缺陷检测设备,包括:存储器,被配置为存储指示电路图案和指示虚设图案的布局图像;以及控制器,包括被配置为学习布局图像的人工神经网络,该控制器被配置为:通过使用人工神经网络,基于通过拍摄晶片上的包括缺陷的区域所获得的检查图像,确定缺陷在...
多波长选择方法、重叠测量方法和半导体器件制造方法技术
提供了一种选择用于重叠测量的多波长、以准确地测量重叠的方法,以及使用多波长的重叠测量方法和半导体器件制造方法。选择用于重叠测量的多波长的方法包括:在设置的第一波长范围内的多个波长中的每一个波长,在晶片上的多个位置处测量重叠;从多个波长中...
图像传感器制造技术
示例实施例提供一种图像传感器,该图像传感器包括:像素阵列,其包括第一浮置扩散部和第二浮置扩散部,第一浮置扩散部和第二浮置扩散部被配置为存储由在第一方向上彼此相邻并由一个微透镜覆盖的第一相位检测像素和第二相位检测像素产生的电荷,并且该像素...
测试非易失性存储器装置的方法和非易失性存储器装置制造方法及图纸
提供了测试非易失性存储器装置的方法和非易失性存储器装置。在一种测试包括第一半导体层和在第一半导体层之前形成的第二半导体层的非易失性存储装置的方法中,在第二半导体层中设置电路元件,电路元件包括页缓冲器电路和与页缓冲器电路间隔开的至少一个驱...
半导体测量设备制造技术
公开了半导体测量设备。所述半导体测量设备包括:照明器,被配置为输出具有第一波长带的光和具有与第一波长带不同的第二波长带的光;载物台,测试对象被安置在载物台上;相机,被配置为接收从测试对象反射或散射或者透射通过测试对象的光;以及控制器,被...
存储装置及存储装置的操作方法制造方法及图纸
公开了一种存储装置及存储装置的操作方法。所述存储装置包括非易失性存储器件和存储控制器,所述存储控制器对所述非易失性存储装置执行读取操作,并且对在所述读取操作中读取的数据执行差错纠正操作。在所述差错纠正操作中,所述存储控制器估计所述读取数...
用于提供事件数据的存储设备和存储设备的操作方法技术
提供了一种用于提供事件数据的存储设备和存储设备的操作方法。该存储设备包括:非易失性存储器件,其包括多个存储块,每个存储块包括一个或更多个存储单元;组合集成电路,其包括温度传感器和存储器;以及控制器,其通过第一通道与组合集成电路连接,并控...
用于找出应用的插桩点之间的因果关系的方法和装置制造方法及图纸
公开了用于找出应用的插桩点之间的因果关系的方法和装置。一种电子装置包括:一个或多个处理器;存储器,存储指令,所述指令被配置为使得所述一个或多个处理器:在应用的相应任务中安装插桩点,插桩点包括安装在源任务中的源插桩点和安装在目标任务中的目...
存储器件、其操作方法以及存储器系统技术方案
提供了一种存储器件、其操作方法以及存储器系统。所述存储器件包括其中具有构成行的多条字线和多条列选择线的存储单元阵列。提供了刷新管理器,刷新管理器被配置为对所述存储单元阵列执行刷新操作。所述刷新管理器还被配置为:(i)初始化存储单元阵列的...
水平传感器制造技术
提供了一种被配置为检测衬底的高度水平的水平传感器、以及包括该水平传感器的衬底处理装置。该水平传感器包括:测量光源,被配置为朝向衬底照射测量光;棱镜,被配置为将测量光的反射光分成第一偏振光和第二偏振光,并在第一偏振光和第二偏振光之间产生第...
显示设备、电子设备及其操作方法技术
根据实施例,公开了一种显示设备、电子设备及其操作方法。公开的显示设备可包括:显示器;用于存储一个或多个指令的存储器;以及用于执行存储在存储器中的一个或多个指令的处理器,其中,处理器执行一个或多个指令以:接收针对与电子装置的连接的请求;通...
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