本实用新型公开了一种集成电路测试系统的数字测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、光耦矩阵、测试系统接口和电阻电容矩阵，光耦矩阵一方面连接测试系统接口和芯片转接卡座，另一方面连接电阻电容矩阵。该测试模块可以实现根据不同待测芯片的测试规范，...

本实用新型公开了一种集成电路测试系统的运放测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、辅助运放测试回路、光耦矩阵和测试系统接口，光耦矩阵一方面连接芯片转接卡座和测试系统接口，另一方面连接辅助运放测试回路。该测试模块与集成电路测试系统相互配合，...

本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法及系统。该方法对基于高速串行链路连接的第一适配器和第二适配器，进行诊断和校准；诊断校准完成后，通过第一适配器逐个获得每个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量，并基于高速串行链路将测试激励矢量压缩...

本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块。该时间沿校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接配置...

本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块。该PMU校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、光耦矩阵和精密电阻矩阵。通过主控制器控制光耦矩阵逐个从每组的多个精密测量单元同步获取电压或电流，将所获...

本实用新型公开了一种实验室设备前端智能信息采集系统。该系统包括传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元和供电单元；其中，传感器单元采集实验室设备供电线路的电流信息、温湿度信息，并传输至节点数据采集单元；节点数据采集单元对接收到的数据进...

本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中，该循环冗余校验方法包括如下步骤：将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列；分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校...

本发明公开了一种实验室设备前端智能信息采集系统。该系统包括传感器单元、节点数据采集单元、无线传输单元和供电单元；其中，传感器单元采集实验室设备供电线路的电流信息、温湿度信息，并传输至节点数据采集单元；节点数据采集单元对接收到的数据进行采...

本发明公开了一种液晶屏显示驱动芯片测试方法，包括芯片设计与可测试性设计、芯片加工、WAT测试、晶片测试、封装、封装测试和大规模流片生产；本发明的优点在于：能够针对LCD Driver芯片高精度、高频、低振幅电压供给能力和海量的模拟输出引...

本发明公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通...

本发明公开了一种主动式测试向量匹配方法，包括如下步骤：S1，设计DSP的测试程序，通过程序配置器将DSP的测试程序固化到芯片中；S2，自动测试设备通过异步串行通信方式与DSP连接，向DSP发送匹配控制字；根据匹配控制字，使芯片到达唯一对...

本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所述母板上后，通过...

本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置，包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置，所述检测装置入口端还连接有数字采样器；本实用新型的优点在于：能够满足显示色彩的深度比较高、驱动电压的测试精度比较高的测试，可以...

本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，高速计数电...

一种数模转换器全码测试模块和测试系统。该模块包括：码型发生器，用于产生数模转换器的输入数码，包括：计数器，计数输出，作为数模转换器的输入数码；第一存储器，存储有控制计数器的指令文件,所述指令文件可被图形向量文件调用；波形分析模块，用于测...

本发明公开了一种射频信号测试方法，确定射频信号阅读器在信号周期内的占空比，对该周期内的正脉冲进行分解，将该正脉冲分解为阶梯状脉冲，所述阶梯状脉冲沿时间轴的正向由低至高渐进上升，还包括如下步骤：将RFID的基本信息写入电子标签，产生符合I...

本发明提供一种航天用集成电路极限应力强度的快速评价方法。所述方法包括：温度步进应力试验、快速温变应力试验、振动步进应力试验、温度和振动综合应力试验。所有试验的整个过程中均对待评价样品的功能进行测试，并记录故障现象。在对待评价样品施加温度...

本发明涉及一种海洋环境条件下塑封集成电路可靠性快速评价方法，所述方法包括：对所述样品施加电压应力、施加温度应力、施加水汽、施加大气压力，通过X射线照相对所述样品进行内部缺陷检查，对所述样品进行测试，判断是否满足产品性能、功能指标要求。本...

一种驱动放大电路，包括：用于放大来自信号输入端(IN1)的输入信号的主运算放大器(U3)，用于生成偏置电流的偏置电流单元(U501)，偏置电流单元(U501)包括第一运算放大器(U1)，第一运算放大器(U1)的输出端连接到所述主运算放大...

本实用新型公开了一种数字集成电路测试适配器，用于ICN83系列集成电路芯片的测试。该数字集成电路测试适配器中，主机板具有与集成电路测试系统的机头相对应的形状；主机板为多层板，设有独立的电源层和地层，地层位于主机板的中间位置；在电源层和地...