一种用于频率信号发生芯片的修调装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，高速计数电路输出的计数值传递给2选1电路；2选1电路的一端连接集成电路自动测试设备，另一端连接修调译码电路；修调译码电路连接修调控制电路，修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。利用本发明专利技术，可以实现实时频率测试和修调，可多路并行测试，满足高速低成本的量产测试要求。

【技术实现步骤摘要】
一种用于频率信号发生芯片的修调装置
本专利技术涉及一种用于频率信号发生芯片的修调装置，属于集成电路测试

技术介绍
在混合集成电路的设计中，特别是振荡器、V/F转换器和多媒体芯片中，常常需要有输出频率信号的管脚。这些管脚因为使用材料的差别、生产工艺的影响，会造成芯片的实际输出参数与设计者仿真设计的期望值存在较大偏差，特别是电阻值、电容值的偏差可达10％。为了降低成本、确保输出参数的可靠性，很多新出品的芯片内部设计了修调电路，即在出厂前对芯片内部的电阻值或电容值进行微调(即修调)。通过修调电路的处理，可以使芯片的实际输出参数符合预期的范围。修调电路的种类虽然较多，但出于成本等方面的考虑，大多数芯片厂商都采用熔丝修调。它的基本原理是在待修调的熔丝两端施加一个合适修调的电压差(该数值一般由设计公司设定)，进而产生一段时间(如十几毫秒)的大电流或大电压值，从而熔断熔丝。熔丝相当于一个开关，通过修调来改变开关状态，即可增大或者减小通路电阻/电容，使最终的电阻或电容特性达到符合设计要求的精确值。熔丝修调因工艺简单、速度快，被广泛用于混合集成电路的测试中。但在熔丝修调过程中，某段熔丝一旦熔断，其电路阻值就会发生变化，并且不可恢复，因此熔丝修调中最重要的工作就是准确计算测量值与预期值的差，并准确判断需要修调的熔丝段。在实践中，熔丝修调往往存在精度不易控制，测试效率低等缺陷。在申请号为201310567758.9的中国专利申请中，公开了一种熔丝修调电路，包括开关控制模块、修调值载入模块、熔丝熔断控制模块以及修调模块，修调模块包括PMOS管、第一电阻、熔丝、NMOS管、第二电阻以及D触发器，其中：PMOS管的源极与稳压电源连接，PMOS管的栅极与开关控制模块连接，PMOS管的漏极与第一电阻的一端连接，第一电阻的另一端与熔丝的一端连接，熔丝的另一端与NMOS管的源极连接，NMOS管的栅极与熔丝熔断控制模块连接，NMOS管的漏极接地，第二电阻的一端与NMOS管的源极连接，第二电阻的另一端接地，D触发器的CP端口与修调值载入模块连接，D端口与NMOS管的源极连接。该技术方案的特点是在晶圆封装好后再进行修调，从而降低成本，并提高修调精度。另一方面，针对频率信号发生芯片的修调测试需要频率测试模块和修调模块两个核心组件。其中，频率测试模块负责对修调前后的芯片管脚输出的频率信号进行检测。为了保证频率测试的可靠性，通常需要频谱分析仪等设备，但该类设备成本较高、结构复杂且通道少，在量产测试中效率较低。现有的集成电路自动测试设备(简称为ATE，下同)具有数据采集和分析功能，但采样频率较低。受此限制，只能通过多次扫描的方法才能完成频率信号发生芯片的采集，不但增加了测试时间，而且对噪声信号的处理能力也比较差。修调模块一般需要测试数据经ATE计算后才能完成修调动作，不能实时完成，因此修调效率较低，不能满足量产测试的要求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种面向频率信号发生芯片的修调装置。为实现上述专利技术目的，本专利技术采取下述技术方案：一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；所述高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，所述高速计数电路输出的计数值传递给所述2选1电路；所述2选1电路的一端连接所述集成电路自动测试设备，另一端连接所述修调译码电路；所述修调译码电路连接所述修调控制电路，所述修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。其中较优地，所述集成电路自动测试设备通过修调电源向所述修调控制电路供电。其中较优地，当所述频率输出信号的测试频率在规定范围内时，所述2选1电路将测试结果发送给所述集成电路自动测试设备，否则将测试结果发送给修调译码电路。其中较优地，所述高速计数电路利用锁相环产生采样信号，对待修调的频率输出信号进行扫描；所述高速计数电路一方面利用频段配置好的滤波电路去除低频噪声叠加对采样的影响，另一方面利用高频信号计数器计算给定阈值内的高频噪声个数，通过差分电路扣除高频噪声计数。其中较优地，所述高速计数电路将采样值传递给所述修调译码电路，所述修调译码电路产生与被测频率对应的修调代码，根据所述修调代码的内容和所述集成电路自动测试设备发出的修调类型代码结合，产生修调控制代码。其中较优地，所述高速计数电路包括主计数器、高频信号计数器、差分器和除法器；其中，所述主计数器和所述高频信号计数器连接所述差分器；所述差分器连接所述除法器以产生输出的采样值。其中较优地，所述主计数器的计数值和所述高频信号计数器的计数值分别输入所述差分器中，所述差分器的输出值为二者差值。其中较优地，所述修调译码电路接收所述高速计数电路的最终输出值，通过比较器确定该最终输出值所处的代码段，并根据预存的修调代码数值选通译码电路，启动所述修调控制电路。其中较优地，所述修调控制电路由通道选择继电器阵列、串并转换继电器阵列及修调电源组阵列组成；其中，所述通道选择继电器阵列连接所述串并转换继电器阵列，并由所述修调电源组阵列提供修调电源。其中较优地，所述修调电源组阵列接收所述集成电路自动测试设备的电源控制信号，所述通道选择继电器阵列通过继电器矩阵连接修调电源和每个所述修调管脚，所述串并转换继电器阵列通过继电器矩阵切换修调控制通道与GND，以适应串行修调或并行修调的需求。与现有技术相比较，本专利技术所提供的修调装置可以设定高频和低频噪声滤波窗口，将频率信号转换为修调信号。修调信号经修调译码电路、修调控制电路将频率信号测试和电路修调结合起来，由ATE实现整个修调过程的统一管理。利用本专利技术，可以实现实时频率测试和修调，可多路并行测试，满足高速低成本的量产测试要求。附图说明图1为本专利技术所提供的修调装置的整体连接框图；图2为带有滤波电路的高速计数电路的一个实施例框图；图3为修调控制电路的内部连接框图；图4为修调控制电路的实施例示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术的
技术实现思路
做进一步的详细说明。集成电路自动测试设备是进行芯片功能测试、直流参数测试和测试进程管理的基本设备。它由程控电源模块、精密电压电流测量模块、高速图形发生模块、管脚电路模块和外部接口模块组成。其中，程控电源模块为待测芯片提供电源信号，高速图形发生模块根据需要发出预定速率的测试图形，管脚电路模块用于提供激励向量和接受响应向量，精密电压电流测量模块可以根据外部修调电路的需要提供修调所需的电压源或电流源，外部接口模块用于实现对外部修调电路的继电器矩阵控制。本专利技术针对频率信号发生芯片进行批量化修调测试的实际需求，提供了一种可与ATE紧密结合，实现快速测试频率输出信号，并实时完成修调处理的修调装置。在图1所示的一个实施例中，该修调装置由带有滤波电路的高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路组成。在实际使用时，该修调装置与ATE连接，由ATE提供电源信号和输入输出控制信号。其中，ATE连接带有滤波电路的高速计数电路，向其输入寄存器输入信号。该带有滤波电路的高速计数电路一方面连接待测芯片，以便对待测芯片的频率输出信号进行采样，另一方面连接2选1电路，以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；所述高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，所述高速计数电路输出的计数值传递给所述2选1电路；所述2选1电路的一端连接所述集成电路自动测试设备，另一端连接所述修调译码电路；所述修调译码电路连接所述修调控制电路，所述修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。

【技术特征摘要】
1.一种用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；所述高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出信号，所述高速计数电路输出的计数值传递给所述2选1电路；所述2选1电路的一端连接所述集成电路自动测试设备，另一端连接所述修调译码电路；所述修调译码电路连接所述修调控制电路，所述修调控制电路通过修调控制通道连接待测试的频率信号发生芯片的修调管脚。2.如权利要求1所述用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于：所述集成电路自动测试设备通过修调电源向所述修调控制电路供电。3.如权利要求1所述用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于：当所述频率输出信号的测试频率在规定范围内时，所述2选1电路将测试结果发送给所述集成电路自动测试设备，否则将测试结果发送给修调译码电路。4.如权利要求1所述用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于：所述高速计数电路利用锁相环产生采样信号，对待修调的频率输出信号进行扫描；所述高速计数电路一方面利用频段配置好的滤波电路去除低频噪声叠加对采样的影响，另一方面利用高频信号计数器计算给定阈值内的高频噪声个数，通过差分电路扣除高频噪声计数。5.如权利要求1所述用于频率信号发生芯片的修调装置，其特征在于：所述高速计数电路将采样值传递给所述修调译码电路，所述修调译码电路产生与被测频率对应的修调代码，根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：高剑，冯建科，郭士瑞，张东，李杰，蒋常斌，于明，
申请(专利权)人：北京自动测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11