一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，所述测试系统包括：进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、可编程控制器PLC和工控机；该测试系统采用二组以上垂直升降的多IC卡读写卡座作为进卡机构，相邻连接在一条搬送IC卡的轨道上；一个收废卡槽，用来收取IC卡芯片测试不成功的卡片；对测试或个人化成功的IC卡通过搬运机构进入与水平送卡轨道相垂直的自动收卡皮带转动的平台。该测试系统可最大限度地减少手工测试带来的人为错误，控制误判率在千分之三以下，大大提高了劳动生产率、自动化程度高、成本低。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，所述测试系统包括：进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、可编程控制器PLC和工控机；该测试系统采用二组以上垂直升降的多IC卡读写卡座作为进卡机构，相邻连接在一条搬送IC卡的轨道上；一个收废卡槽，用来收取IC卡芯片测试不成功的卡片；对测试或个人化成功的IC卡通过搬运机构进入与水平送卡轨道相垂直的自动收卡皮带转动的平台。该测试系统可最大限度地减少手工测试带来的人为错误，控制误判率在千分之三以下，大大提高了劳动生产率、自动化程度高、成本低。【专利说明】一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统
本技术涉及非接触式IC卡的测试相关
，尤其涉及一种平行双垂直升降式多读写卡座并行的接触式与非接触式IC卡芯片测试(个人化)设备。
技术介绍
目前ISO标准接触与非接触IC卡已被广泛应用在交通卡、门禁控制卡、移动通信卡、银行卡等领域；同时，在应用前各类接触或非接触IC卡都必须被写入数据，这些数据可以是某一类卡相同的数据，也可以是某一类卡中每张卡有不一样的数据(称个人化数据)。目前对这些数据的写入分两种方法:I)、用单一读写卡器以人工的方式一张一张的写入；专利技术人发现这种方式的缺点在于:劳动力强度大，数据漏写与写错经常发生。2)、采用国外进口的多个读写卡座以圆盘进卡并行自动测试接触式与非接触式IC卡芯片(个人化)设备；专利技术人人发现这种方式的缺点在于:多个读写卡座圆盘进卡并行自动测试接触式与非接触式IC卡芯片(个人化)设备，制造商已经申请了多重专利保护，所以这设备销售价格高，从二百多万人民币到六，七百万人民币不等，国内的IC卡生产厂家难以承受这样的价格。
技术实现思路
本技术的目的在于，克服现有技术的上述不足，提供一种自动化程度高、价格便宜、误判率低的具有 升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统。为达上述目的，本技术提供了一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其包括:进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、收废卡气缸、可编程控制器PLC和工控机；所述水平运动伺服电机，分别与所述进卡槽、所述水平送卡轨道和所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下从所述进卡槽获取存储的多个待测试的IC卡，并驱动所述水平送卡轨道运送所述多个待测试的IC卡；所述至少两个垂直升降多卡槽结构，分别与所述工控机连接，并且通过所述垂直运动丝杠连接至所述垂直运动伺服电机,用于在所述垂直运动伺服电机和所述垂直运动丝杠的带动下作垂直升降运动，从所述水平送卡轨道中依次获取待测试的IC卡；每个垂直升降多卡槽结构上设置有垂直分布的多个嵌入式IC卡读写机，所述多个嵌入式IC卡读写机分别通过串口与所述工控机相连接，每个嵌入式IC卡读写机对其内的IC卡进行读写卡操作； 所述垂直运动伺服电机，与所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下驱动所述垂直运动丝杠带动所述至少两个垂直升降多卡槽结构作升降运动；所述工控机，与所述PLC连接，用于监视与控制PLC的运行状态，控制所述IC卡读写机对待测试的IC卡进行测试处理，向所述PLC发送对于每一待测试的IC卡的测试结果信号;所述PLC，分别与所述工控机、所述垂直运动伺服电机、所述水平运动伺服电机、所述收废卡气缸连接，用于控制所述水平送卡轨道的运行，并控制所述至少两个垂直升降多卡槽结构中多个IC卡读写机按先进先出顺序对多个待测试的IC卡进行测试，实时采集所述工控机发送的测试结果信号，将测试成功的卡由所述水平运动伺服电机驱动所述水平送卡轨道存放入所述成品卡收卡槽，并启动所述收废卡气缸将测试失败的卡存放入所述废卡槽。作为优选地，所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，还可包括:触摸LCD显示屏，与所述PLC连接，用于显示所述PLC的运行状态。作为优选地，所述成品卡收卡槽是设置于所述水平送卡轨道的终点，与所述水平送卡轨道垂直。作为优选地，所述垂直升降多卡槽结构上垂直分布有多个卡座，每个卡座上设置一个IC卡读写机。作为优选地，所述IC卡可为接触式或者非接触式IC卡。作为优选地，所述串口可以是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。作为优选地，所述至少两个垂直升降多卡槽结构互相平行。本技术的上述技术方案的有益技术效果在于:该测试或数据个人化设备是采用垂直升降平台，每个垂直升降平台包含有垂直分布的多个嵌入式IC读写机，从而解决了在一条生产线上使用多个读写机而使生产线的长度过长的问题，在本技术这种垂直升降平台节约了搬送IC卡线的长度。本技术实施例还很好地解决了在并行的二个或以上的垂直升降多卡座进卡系统中的先进先出的问题。【专利附图】【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例的一种平行双垂直升降式多读写卡座IC卡芯片测试系统的总体结构示意图；图2为本技术实施例的垂直升降多卡槽结构的示意图。【具体实施方式】为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术实施例的测试系统采用二组以上(可以是一组或多组)垂直升降的多IC卡读写卡座(后称垂直升降多卡槽结构、垂直升降台，每组垂直升降台可以包含一个以上的卡座)作为进卡机构，相邻连接在一条搬送IC卡的轨道(水平送卡轨道)上；其还具有一个进卡槽，以及在二组垂直升降台后面某一位置放置的一个收废卡槽(或平台)，用来收取IC卡芯片测试不成功的卡片；对测试或个人化成功的IC卡通过搬运机构(如皮带和伺服电机)进入与水平送卡轨道相垂直的由自动收卡皮带转动的平台。图1为本技术实施例的一种平行双垂直升降式多读写卡座IC卡芯片测试系统的总体结构示意图。如图1所示，该测试系统100包括:进卡槽102、水平运动伺服电机104、水平送卡轨道106、至少两个垂直升降多卡槽结构108、垂直运动伺服电机110、垂直运动丝杠112、工控机114、可编程控制器PLC116、成品卡收卡槽118和废卡槽120 ；水平运动伺服电机104，分别与进卡槽102、水平送卡轨道106和PLC116连接，用于在PLC116的控制下从进卡槽102获取存储的多个待测试的IC卡，并驱动水平送卡轨道106运送多个待测试的IC卡；至少两个垂直升降多卡槽结构108，分别与工控机114连接，并且通过垂直运动丝杠112连接至垂直运动伺服电机110，用于在垂直运动伺服电机110和垂直运动丝杠112的带动下作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：忻伟，
申请(专利权)人：上海聚硕科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：