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本实用新型提供一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，所述测试系统包括：进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、可编程控制器PLC和工控机；该测试系...
该专利属于上海聚硕科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海聚硕科技有限公司授权不得商用。

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