测试和测量仪器上的多信号协方差和相关处理制造技术

本发明专利技术的实施例包括用于生成两个或更多信号的协方差和相关值的方法和仪器。所述协方差或相关值被用于比较所述两个信号的所关心的区间以及基于所述两个信号之间的相似性产生触发事件。参考信号被数字化并且被存储，以及随后被用作当与实时输入信号进行比较时的参考。生成所述输入信号和所述先前存储的参考信号的平均值，以致能够生成适当的协方差和相关值。阈值检测器检测所述协方差值和/或所述相关值何时超过特定的阈值，这能够致使所述测试和测量仪器被触发。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术的实施例包括用于生成两个或更多信号的协方差和相关值的方法和仪器。所述协方差或相关值被用于比较所述两个信号的所关心的区间以及基于所述两个信号之间的相似性产生触发事件。参考信号被数字化并且被存储，以及随后被用作当与实时输入信号进行比较时的参考。生成所述输入信号和所述先前存储的参考信号的平均值，以致能够生成适当的协方差和相关值。阈值检测器检测所述协方差值和/或所述相关值何时超过特定的阈值，这能够致使所述测试和测量仪器被触发。【专利说明】测试和测量仪器上的多信号协方差和相关处理
本专利技术的实施例涉及使多个信号相关，并且更特别地，涉及在测试和测量仪器上处理两个或更多信号的协方差和相关测量。
技术介绍
诸如高速数字示波器的现代的测试和测量仪器包括获取系统，所述获取系统捕捉与在测试中的输入电信号有关的测量数据。能够使用不同种类的标准来触发所述测试和测量仪器上的数据的获取。例如，触发能够基于输入信号与数字存储的图案的相似性。所述相似性可以与边沿、转换速率、偏差、不连续性等等相关。作为另一个例子，触发标准可能需要信号已满足先前针对特定的波形设定的标准。当前的用于将数据与固定的限度进行比较的方法能够建立大量的“门”，在其中在指定的时间处，所述信号必须位于所述门的边侧之间。通常，这需要所述信号的数字化以与所述门相比较。此外，必须知道从时钟边沿到所述“门”的定时以作出精确的判定。此外，关于数字电路的更困难的问题之一涉及异步系统中的时钟源。当两个或更多时钟源碰巧在相同的时间处同时地改变状态时，设定和保持的时间违反是不可避免的，并且许多数字电路将展现出亚稳定性，并且结果，可能产生归因于被设置为不与其他位良好地相关的值的位(因为传播延时中的微小差异)的根本上不正确的结果。这样的问题是难以解决的，因为通常不存在仅仅在两个时钟转变到一起时才触发的常规的装置。用于使两个不同的信号相关的可替代的方法可以使用激光图像比较或数字信号处理(DSP)变化，但是其固有地受到被用于实施的算法的速度以及可获得的时钟速率的限制。现有技术中的这样的限制阻止了系统以较高的频率运行，在其中，特定的信号区间周围的较高的分辨率将是所期望的。
技术实现思路
因此，存在对混合模拟/数字协方差和相关引擎(其适合于以高频率和较高分辨率运行，在其中标准的数字技术是极其困难的或不可能的)的需要。此外，所期望的是:提供用于处理一个固定的和一个时变的输入、允许与预定的值进行比较的设备和方法。另外，所期望的是:提供用于仅仅在两个时钟转变到一起时才触发的设备和方法。本专利技术的实施例解决了现有技术中的这些和其他限制。【专利附图】【附图说明】图1示出了包括根据本专利技术的实施例的协方差-相关逻辑的实例测试和测量仪器。图2A-2D示出了图1的协方差-相关逻辑的高等级框图。图3示出了图2A的协方差-相关逻辑的实例电路图。图4示出了图2B的协方差-相关逻辑的实例电路图。图5示出了图2B的协方差-相关逻辑的另一个实例电路图。图6示出了图2C的协方差-相关逻辑的实例电路图。图7示出了图2D的协方差-相关逻辑的实例电路图。图8示出了包括根据本专利技术的实施例的协方差-相关逻辑的实例串扰检测器仪器。根据下面参考附图进行的对示例实施例的详细描述，专利技术概念的前述和其他特征以及优点将变得更加显而易见。【具体实施方式】现在将对本专利技术的实施例进行详细地论述，其实例在附图中被示出。在下面的详细描述中，阐述了众多特定的细节以使得能够透彻理解专利技术概念。然而，应被理解的是:本领域技术人员可以在没有这些特定的细节的情况下实施所述专利技术概念。在其他情况下，没有详细地描述公知的方法、过程、部件、电路和网络以免不必要地使实施例的各方面变得模糊。将被理解的是:尽管术语第一、第二等等可以在此处被用于描述各种元件，这些元件不应由这些术语限制。这些术语仅仅被用于将一个元件与另一个元件区分开。例如，第一电路可以被称为第二电路，并且相似地，第二电路可以被称为第一电路，而不背离所述专利技术概念的范围。在此处，各种实施例的描述中使用的术语仅仅是为了描述特定的实施例的目的，并且不是意在限制所述专利技术概念。如在说明书和随附的权利要求中所使用的，单数形式“一个(a)”、“一个(an)”和“该(The)”意在也包括复数形式，除非上下文明确地指示别的方式。也将被理解的是:如此处所使用的术语“和/或”述及并且涵盖相关联的所列出的项中的一个或多个的任何和所有可能的组合。将进一步被理解的是:当在此说明书中被使用时，术语“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”指定所述的特征、整体、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但是不排除一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其群组的存在或添加。附图的部件和特征不一定被按比例绘制。图1示出了包括根据本专利技术的实施例的协方差-相关逻辑110的实例测试和测量仪器105。所述测试和测量仪器105可以是示波器、串扰检测器、逻辑分析器、频谱分析器、网络分析器等等。通常，为了一致性和解释的目的，所述测试和测量仪器105在此处被称为不波器。所述示波器105可以包括输入部分135，其接收在测试中的输入电信号140。所述输入部分135可以包括获取电路、放大器、转换器等等，并且可以经由线路130而被连接到存储器115上。所述存储器115能够存储与所述输入信号140相关的一个或多个获取记录。所述存储器115可以包括存储器控制器120，其控制到所述存储器115和来自所述存储器115的数字化的数据的写入和读取。所述存储器115可以是动态存储器、静态存储器、只读存储器、随机存取存储器或者任何其他合适种类的存储器。所述存储器115能够存储参考信号或其他预先记录的数字化的数据的数字表示，用于稍后与另一个输入信号相比较，如下面进一步描述的。所述输入部分135也可以经由线路145而被耦接到协方差-相关逻辑110，以致所述协方差-相关逻辑110能够接收所述输入信号140。所述协方差-相关逻辑110也可以经由线路125接收与来自所述存储器115的参考信号的预先记录的数字表示相关的数字化的数据。术语“协方差-相关逻辑”指的是用于产生与两个或更多信号相关的协方差和/或相关值的模拟电路、数字电路、硬件电路、固件、和/或软件、或其任何合适的组合。下面描述了所述协方差-相关逻辑110的示例实施例。所述协方差-相关逻辑110可以被耦接到触发器电路160，其可以基于至少部分地由所述协方差-相关逻辑110确定的标准来触发所述示波器105。处理器155可以被耦接到所述触发器电路160和显示器165上。所述处理器155可以协调所述输入135、所述协方差-相关逻辑110和所述触发器电路160之间的数据的处理，并且可以致使触发信息、波形信息和/或其他测量信息被显示在所述显示器165上。所述协方差-相关逻辑110能够将所述输入信号140与先前记录的数字化的信息125相比较，以确定所述输入信号140或其一些部分是否与先前针对与所述预先记录的数字化的信息125相关的波形设定的标准相匹配。如果存在匹配，或者换句话说，如果否则满足所述波形标准或其他预定的标准，则所述触发器电路160能够触发所述示波器105。换句话说，所述协方差-相关逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于使多个信号相关的方法，所述方法包括：通过测试和测量仪器的输入接收在测试中的信号；计算所述在测试中的信号的平均值；从存储器读取数字参考信号；将所述数字参考信号转换为所述参考信号的模拟表示；至少基于所述在测试中的信号、所述在测试中的信号的所述平均值以及所述参考信号生成第一信号；至少基于所述在测试中的信号和所述在测试中的信号的所述平均值生成第二信号；至少基于所述第一信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的协方差值；以及至少基于所述第一信号和所述第二信号产生所述在测试中的信号和所述参考信号之间的相关值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：DF希尔特纳，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US