本发明专利技术提出一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，校正定位机构包括基准板、压紧板和驱动装置；检验机构包括检验触动部和电路及状态标示部；检验触动部包括运动芯子、上限导电触头和下限导电触头；运动芯子的非检验端配设有抵顶弹簧；电路及状态标示部包括上限导电回路及下限导电回路。如此，本发明专利技术突破传统同类检测装置的构造形式，若工件凸起的高度超出上限高度，上限状态标示装置标示工件凸起超出上限高度；若工件凸起的高度低于下限高度，下限状态标示装置标示工件凸起低于下限高度；若上限、下限状态标示装置均不工作，标示工件凸起的高度符合。与现有技术相比，本发明专利技术可直接标示工件凸起的高度的状态，直接高效，实用性强。
【技术实现步骤摘要】
一种检验工件的凸起高度的检验装置
本专利技术涉及工件凸起高度的检验、检测装置领域，具体涉及一种直接高效检验工件的凸起高度的新型检验装置。
技术介绍
目前市场上有很多产品均设有凸起结构，如在IML(模内镶件注塑)产品表面通过热熔方法安装铜螺母形成的凸起结构，在实际生产加工过程中，因铜螺母到基准面(凸起结构所基于的平面)的高度要求非常严格，通常上下偏差分别为+0.1mm和-0.1mm，公差仅为0.2mm，所以很难通过目测进行检验。通常采用的现有方法是使用专门的高精度检测设备和限度规进行检测，前者是根据测量数值结果判断凸起高度是过高、过低或符合标准，有具体数值，测量精确，但是在实际情况下，并不需要知道凸起高度的确切数值，只需判断凸起高度的状态(过高、过低或符合标准)，需要人们进行间接判断，测量过程和判断结果的输出繁琐、周期长，效率低，难于批量检测，且设备成本高，实用性差；后者因结构上的缺陷，而只能测量整个产品(如IML产品)的总高度(包括产品的厚度和凸起的高度)，测量方法不直接，结果受到产品厚度误差影响大，最终检验结果误差大、不稳定。鉴于此，本案专利技术人对上述问题进行深入研究，遂有本案产生。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可直接标示工件的凸起的高度是否超出上限和下限高度，以及符合标准的状态的检验工件的凸起高度的新型检验装置，结构新颖合理，操作简便，直接高效，稳定可靠，尤其利于批量检验，实用性强。为了达到上述目的，本专利技术采用这样的技术方案：一种检验工件的凸起高度的检验装置，包括对工件进行校正定位的校正定位机构，和直接检验工件凸起的高度的检验机构；所述校正定位机构包括抵顶于工件上凸起所在的正面的基准板，压紧于工件背面的压紧板，和驱动压紧板对工件进行压紧的驱动装置；所述检验机构包括检验触动部，和电路及状态标示部；所述检验触动部包括检验端对应抵顶于工件凸起端部的运动芯子，上限导电触头，和下限导电触头；所述运动芯子的非检验端配设有抵顶弹簧；所述运动芯子具有与所述上限导电触头相对应的上限触头，和与所述下限导电触头相对应的下限触头；所述电路及状态标示部包括由所述上限导电触头和上限触头触发的上限导电回路，及由所述下限导电触头和下限触头触发的下限导电回路；所述上限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出上限的上限状态标示装置，所述下限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出下限的下限状态标示装置。上述运动芯子竖向设置，检验端朝上，非检验端朝下，两端之间形成有凸块，此凸块的上边缘作为上述下限触头，下边缘作为上述上限触头；上述下限导电触头设于所述下限触头的上方，上述上限导电触头设于所述上限触头的下方；且所述凸块的上边缘至所述下限导电触头的距离与下边缘至所述上限导电触头的距离之和为工件凸起高度的公差。上述上限导电触头包括两个相离的上限触点导电块，作为上述上限导电回路的开关触点，上述上限触头对应两所述上限触点导电块的间隙设置，作为两所述上限触点导电块的触发开关；上述下限导电触头包括两个相离的下限触点导电块，作为上述下限导电回路的开关触点，上述下限触头对应两所述下限触点导电块的间隙设置，作为两所述下限触点导电块的触发开关。多个上述检验触动部与工件的多个凸起一一对应设置。上述驱动装置的伸缩驱动杆的端部设有与上述压紧板相平行的顶板，所述顶板与所述压紧板之间平衡张设有多个压紧弹簧。上述顶板向下设有导向杆，上述压紧板滑动套设于所述导向杆上。上述导向杆为螺杆头朝下，上端具有外螺纹并与上述顶板螺接的螺杆，多个所述螺杆均布于所述顶板上；上述压紧板通过套孔匹配滑动套设于所述螺杆头上方，且所述套孔的下端口形成有完全容置所述螺杆头的凹槽。上述运动芯子呈方柱状，上述检验触动部包括水平设置的导向板，所述导向板形成有供各上述运动芯子一一对应匹配穿过的导向孔。上述基准板形成有多个一一匹配容置工件的多个凸起的透孔；上述运动芯子的检验端设有由所述透孔的下端向上伸入与工件的凸起的端部相抵顶接触的端头。上述驱动装置配设有驱动支架；上述检验触动部配设有壳体；所述驱动支架包括与上述基准板连接在一起的底板、分设于工件两侧并与底板连接在一起的竖向支板，和水平横设于两竖向支板上的横板，所述底板形成有对应容置所述基准板的容置通口；所述驱动装置设于所述横板上方，上述伸缩驱动杆由上至下贯穿所述横板与上述顶板连接，所述顶板向上设有多个驱动导向杆，所述横板形成有供多个所述驱动导向杆一一匹配穿过的驱动导向孔；所述壳体包括上壁、底壁和侧壁；所述上壁设于所述底板和上述导向板之间，并形成有供上述运动芯子穿过的通孔；所述底壁设于上述检验触动部下方，上述抵顶弹簧的下端抵顶于所述底壁的上表面；所述侧壁围设于所述上壁和底壁之间；上述电路及状态标示部配设有外壳，与所述侧壁连接。采用上述技术方案后，本专利技术的检验工件的凸起高度的新型检验装置，突破传统同类检测装置的构造形式，在检验工件时，将工件适当置于基准板和压紧板之间，运行校准定位机构，在驱动装置的驱动下，使压紧板将工件压紧在基准板上，以进行校准定位，同时检验机构运行，在抵顶弹簧的弹性抵顶作用下，检验触动部的运动芯子的检验端对应抵顶于工件凸起的端部，若工件凸起的高度超出工件凸起的上限(最大极限尺寸)的高度，在工件凸起的驱动下，抵顶弹簧回缩，运动芯子的上限触头会与上限导电触头电接触，触发上限导电回路导通，上限状态标示装置标示工件凸起超出上限高度；若工件凸起的高度低于工件凸起的下限(最小极限尺寸)的高度，在抵顶弹簧弹性抵顶作用下，运动芯子的下限触头会与下限导电触头电接触，触发下限导电回路导通，下限状态标示装置标示工件凸起低于下限高度；若工件凸起的高度符合标准，即在工件凸起的上限高度和下限高度之间，运动芯子处于悬浮状态，即运动芯子的上限触头和下限触头既不与上限导电触头电接触，也不与下限导电触头电接触，上限导电回路和下限导电回路均不导通，上限状态标示装置和下限状态标示装置均不工作，以此标示工件凸起的高度为标准高度。与现有技术相比，本专利技术的检验工件的凸起高度的新型检验装置，其可直接标示工件的凸起的高度是否超出上限和下限高度，以及符合标准的状态，结构新颖合理，操作简便，直接高效，稳定可靠，尤其利于批量检验，实用性强。附图说明图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术另一角度的结构示意图；图3为本专利技术第一种局部状态结构示意图；图4为本专利技术第二种局部状态结构示意图；图5为本专利技术第三种局部状态结构示意图；图6为本专利技术第四种局部状态结构示意图；图7为图6的平面结构示意图。图中：11-基准板12-压紧板13-驱动装置131伸缩驱动杆14-顶板15-压紧弹簧16-导向杆17-驱动支架171-底板172-竖向支板173-横板18-驱动导向杆2-检验触动部21-运动芯子211-上限触头212-下限触头213-端头22-上限导电触头221-上限触点导电块23-下限导电触头231-下限触点导电块24-抵顶弹簧25-导向板26-壳体261-上壁262-底壁263-侧壁31-上限状态标示装置32-下限状态标示装置33-外壳4-工件41-凸起具体实施方式为了进一步解释本专利技术的技术方案，下面通过具体实施例进行详细阐述。本专利技术的一种检验工件的凸起高度的检验装置，如图1-7所示，包括对工件4进行校正定位本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检验工件的凸起高度的新型检验装置，其特征在于：包括对工件进行校正定位的校正定位机构，和直接检验工件凸起的高度的检验机构；所述校正定位机构包括抵顶于工件上凸起所在的正面的基准板，压紧于工件背面的压紧板，和驱动压紧板对工件进行压紧的驱动装置；所述检验机构包括检验触动部，和电路及状态标示部；所述检验触动部包括检验端对应抵顶于工件凸起端部的运动芯子，上限导电触头，和下限导电触头；所述运动芯子的非检验端配设有抵顶弹簧；所述运动芯子具有与所述上限导电触头相对应的上限触头，和与所述下限导电触头相对应的下限触头；所述电路及状态标示部包括由所述上限导电触头和上限触头触发的上限导电回路，及由所述下限导电触头和下限触头触发的下限导电回路；所述上限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出上限的上限状态标示装置，所述下限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出下限的下限状态标示装置。
【技术特征摘要】
1.一种检验工件的凸起高度的检验装置，其特征在于：包括对工件进行校正定位的校正定位机构，和直接检验工件凸起的高度的检验机构；所述校正定位机构包括抵顶于工件上凸起所在的正面的基准板，压紧于工件背面的压紧板，和驱动压紧板对工件进行压紧的驱动装置；所述检验机构包括检验触动部，和电路及状态标示部；所述检验触动部包括检验端对应抵顶于工件凸起端部的运动芯子，上限导电触头，和下限导电触头；所述运动芯子的非检验端配设有抵顶弹簧；所述运动芯子具有与所述上限导电触头相对应的上限触头，和与所述下限导电触头相对应的下限触头；所述电路及状态标示部包括由所述上限导电触头和上限触头触发的上限导电回路，及由所述下限导电触头和下限触头触发的下限导电回路；所述上限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出上限的上限状态标示装置，所述下限导电回路中串联有标示工件凸起高度超出下限的下限状态标示装置；上述运动芯子竖向设置，检验端朝上，非检验端朝下，两端之间形成有凸块，此凸块的上边缘作为上述下限触头，下边缘作为上述上限触头；上述下限导电触头设于所述下限触头的上方，上述上限导电触头设于所述上限触头的下方；且所述凸块的上边缘至所述下限导电触头的距离与下边缘至所述上限导电触头的距离之和为工件凸起高度的公差。2.根据权利要求1所述的一种检验工件的凸起高度的检验装置，其特征在于：上述上限导电触头包括两个相离的上限触点导电块，作为上述上限导电回路的开关触点，上述上限触头对应两所述上限触点导电块的间隙设置，作为两所述上限触点导电块的触发开关；上述下限导电触头包括两个相离的下限触点导电块，作为上述下限导电回路的开关触点，上述下限触头对应两所述下限触点导电块的间隙设置，作为两所述下限触点导电块的触发开关。3.根据权利要求1-2中任一项所述的一种检验工件的凸起高度的检验装置，其特征在于：多个上述检验触动部与工件的多个凸起一一对应设置。4.根据权利要求3所述的一种检验工件的凸起高...
【专利技术属性】
技术研发人员：王亚榆，谭永帅，林克军，
申请(专利权)人：福建省石狮市通达电器有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35
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