【技术实现步骤摘要】
—种晶片上的芯片结构
本技术涉及一种芯片结构,属于半导体
。
技术介绍
在半导体器件制造过程中,通常会对保持在晶片状态下的半导体器件做多次检查,即使多次检查,也会把含有缺陷的误当做没有缺陷的芯片登记,传送到后续的装配步骤。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种易于与基准芯片分辨的芯片结构。为实现上述目的,本技术采用如下技术方案:一种晶片上的芯片结构,包括衬底,在所述衬底上设置有布线层;在所述布线层上设置有钝化膜;在所述钝化膜中部开有孔,形成焊盘,所述焊盘贯穿钝化膜与布线层衔接。此芯片结构由于与基准芯片结构不同,即使使用传统的图像识别处理器,也能很容易的区分处理。本技术的优点是:易于识别。【附图说明】图1是本技术结构示意图;图2是本技术实施例结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图1对本技术做进一步详述:一种晶片上的芯片结构,包括衬底1,在所述衬底I上设置有布线层2 ;在所述布线层上设置有钝化膜3 ;在所述钝化膜中部开有孔,形成焊盘4,所述焊盘4贯穿钝化膜3与布线层2衔接。所述钝化膜3由绝缘膜的单层或多层制得。如图2,一种晶片上的芯片结构,包括衬底 ...
【技术保护点】
一种晶片上的芯片结构,包括衬底(1),其特征在于:在所述衬底(1)上设置有布线层(2);在所述布线层上设置有钝化膜(3);在所述钝化膜中部开有孔,形成焊盘(4),所述焊盘(4)贯穿钝化膜(3)与布线层(2)衔接。
【技术特征摘要】
1.一种晶片上的芯片结构,包括衬底(I),其特征在于:在所述衬底(I)上设置有布线层(2);在所述布线层上设置有钝化膜(3);在所述钝化膜中部开有孔,形成焊盘(4),所述焊盘(4)贯穿钝化膜(3)与布线...
【专利技术属性】
技术研发人员:洪元本,彭成炫,
申请(专利权)人:江西省一元数码科技有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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