一种制备透射电镜试样的方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，属于材料分析测试领域。
技术介绍
目前，关于透射电镜的专利文献较多，比如申请号为CN200410009173.6的中国专利技术专利《一种方便实用的透射电镜试样双喷电解减薄仪》，在国产仪器的基础上进行了新的改进，装置透明，可完全看清试样表面和电解液的状态。再比如申请号为201210188529.1的中国专利技术专利《锈层粉末试样的透射电镜样品制备》，适合于锈层试样的制备。申请号为200910010849.6的中国专利技术专利《表层高残余应力样品横截面透射电镜试样的》中阐述了将试样减薄至30 μ m再进行离子减薄或双喷，这样往往会出现样品被瞬时穿孔或偏孔，给透射电镜观察带来困难。再比如申请号为200820108760.4的中国专利技术专利《一种透射电镜化学减薄夹具》所述，将样品磨至ΙΟΟμπι以下就进行电解抛光减薄，这样的实际操作会出现150nm左右的薄区很少，样品偏厚或减薄时间长等问题，无法随心所欲地进行电镜观察实验。诸多影响试样最终薄区厚度的因素中，减薄前试样原始厚度是主要因素。为此，本专利公开了，既保证了样品的最终厚度和薄区厚度，又可简化制样程序。
技术实现思路
本专利技术的目的是公开。实现本专利技术的技术方案如下所述，将线切割或机械锯切的薄片试样粘贴固定在高度为20-30mm,直径为35_50mm,由硬质合金制成的圆形试样台上,凝固后将试样磨制，首先手握粘贴好的试样台用粒度为200目的砂纸打磨试样表面，逐次更换更细粒度的砂纸。待试样表面出现边部打皱时便可在800目或更细的砂纸上进行轻微的打磨直至光亮，用刀片沿试样表面方向拆分试...
【技术保护点】
一种制备透射电镜试样的方法，其特征在于将线切割或机械锯切的薄片试样粘贴固定在试样台上，圆形试样台高度为20?30mm，直径为35?50mm，由硬质合金制成，首先手握粘贴好的试样台用粒度为200目的砂纸打磨试样表面，逐次更换较细粒度砂纸，待试样表面出现边部打皱时便可在800目或更细的砂纸上进行轻微的打磨直至光亮，用刀片沿试样表面方向拆分试样，直至试样从台上脱落。
【技术特征摘要】
1.一种制备透射电镜试样的方法，其特征在于将线切割或机械锯切的薄片试样粘贴固定在试样台上，圆形试样台高度为20-30mm,直径为35_50mm,由硬质合金制成,首先手握粘贴好的试样台用粒度为200目的砂纸打磨试样表面，逐次更换较细粒度砂纸，待...
【专利技术属性】
技术研发人员：高志国，高峰，宋冉臣，刘莉，史文义，寇莎莎，白雅琼，
申请(专利权)人：内蒙古包钢钢联股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
-
0来自[美国加利福尼亚州圣克拉拉县山景市谷歌公司] 2014年12月05日 19:22射电即射电天文学是通过观测天体的无线电波来研究天文现象的一门学科由于地球大气的阻拦从天体来的无线电波只有波长约1毫米到30米左右的才能到达地面迄今为止绝大部分的射电天文研究都是在这个波段内进行的射电天文学以无线电接收技术为观测手段观测的对象遍及所有天体从近处的太阳系天体到银河系中的各种对象直到极其遥远的银河系以外的目标射电天文波段的无线电技术到二十世纪四十年代才真正开始发展