多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法技术

本发明专利技术涉及元器件可靠性技术领域，具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为：1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，获得该电容器电容量退化线性曲线；2、根据退化数据，获得在预设时间内电容量的退化量；3、根据退化线性方程，获得电容量达到电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，并拟合获得时间-温度曲线；4、利用步骤3中获得的时间-温度曲线线性方程，获得常温下电容器电容量达到步骤2中电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，从而判断步骤2中获得该电容器电容量退化量所需时间的合理性。本发明专利技术可在高温点加速条件下，在较短的时间内获得准确的贮存试验结果，且在实际条件下可实施。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于元器件可靠性
，具体涉及一种。
技术介绍
电子元器件一般具有性能退化的特点，退化轨迹可以利用以下几种线性模型来进行有效的拟合:(Dyi = a jt ； (2)log(yi) = a jt !(S)1g(Yi) = a ^^ Jogt中，Yi为产品的性能参数指标，i为受试样本数，t为试验时间，a p P i为未知参数，其值可以通过退化数据获得。退化轨迹曲线是单个试验样本性能退化相对时间的轨迹。对于k个试验产品，存在表现退化过程的k个退化轨迹曲线。在样本的退化轨迹满足上述几组退化模型的基础上，可以外推求出不同样本达到失效阈值的时间。由于这些事件并不是样本的实际失效时间，我们又要用它们来评估产品可靠度，因此称之为伪失效寿命时间。利用伪失效寿命时间的定义可以对每个样本的寿命时间进行预计，可以得到产品的寿命分布。假设n个受试样本进行退化试验，t2，……，tm时刻对其进行性能退化量纪录，共测m次；现有的基于退化轨迹的可靠性评估算法步骤如下:第一步、收集试验产品在时间......，tm的性能退化数据,依据性能退化曲线趋势,选择适当的退化模型；第二步、根据记录的性本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法，其特征在于：该方法具体包括如下步骤：步骤1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，并根据测试数据获得该多层瓷介电容器电容量退化线性曲线；步骤2、根据常温下多层瓷介电容器电容量的退化数据，获得该多层瓷介电容器在预设时间内电容量的退化量；步骤3、根据常温下多层瓷介电容器电容量的退化线性方程，获得多个高温点下，电容量达到步骤2中多层瓷介电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，并拟合获得时间?温度曲线；步骤4、利用步骤3中获得的时间曲线线性方程，获得常温下多层瓷介电容器电容量达到步骤2中多层瓷介电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，从而判断步骤2中所...

【技术特征摘要】
1.一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法，其特征在于:该方法具体包括如下步骤: 步骤1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，并根据测试数据获得该多层瓷介电容器电容量退化线性曲线； 步骤2、根据常温下多层瓷介电容器电容量的退化数据，获得该多层瓷介电容器在预设时间内电容量的退化量； 步骤3、根据常温下多层瓷介电容器电容量的退化线性方程，获得多个高温点下，电容量达到步骤2中多层瓷介电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，并拟合获得时间-温度曲线； 步骤4、利用步骤3中获得的时间曲线线性方程，获得常温下多层瓷介电容器电容量达到步骤2中多层瓷介电容器在规定时间内电容量的退化量时的时间，从而判断步骤2中所获得该多层瓷介电容器电容量退化量所需时间的合理性。2.根据权利要求1所述的一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法，其特征在于:所述的步骤I具体包括: 步骤1.1、在已知多 层瓷介电容器电容量的退化数据情况下，设定多个高温点T1, T2....Tn进行高温贮存试验，其中T1 < T2 <....< Tn,且最低温度T1高于常温25°C，在预先设定的时间段内进行电容量退化测试，其中，多层瓷介电容器的测量需要在恢复到常温下进行，恢复时间为24小时，恢复时间不计入高温贮存试验时间内； 步骤1.2、根据T1, T2....Tn温度下获得的多层瓷介电容器电容量的退化数据建立加速模型，具体为:取每个测试点的数...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭磊，刘泓，熊盛阳，杜红焱，孙淑英，官岩，赵彦飞，汪翔，吴立强，邬文浩，张爱学，高憬楠，林德建，
申请(专利权)人：中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
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