光学装置及其运作方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种光学装置及其运作方法。光学装置包含试片模块、光学检测模块、辅助模块及数据处理模块。试片模块承载包含有检体的试片。光学检测模块对试片中的检体进行深层组织检测分析。辅助模块对试片模块及光学检测模块的运作提供辅助功能。数据处理模块分析处理光学检测模块所传送的信号以产生关于检体的检测结果，或根据辅助模块所传送的信息产生相对应的调控指令至光学检测模块或辅助模块。

【技术实现步骤摘要】
光学装置及其运作方法
本专利技术是与光学装置有关，特别是关于一种通过光学干涉技术对检体试片进行非破坏性、非接触式测量的光学装置及其运作方法，可省去传统上将检体试片切成薄片及染色等繁杂且费时的程序，并能够在操作过程中提供可调控的功能。
技术介绍
传统上，观察组织切片的流程通常包含下列步骤：(1)检体取样；(2)固化；(3)观察试片。在观察组织切片的过程中，由于大多数组织结构皆为透光材质，故通常还需要配合染色及显影等程序，方能得到较佳的观察效果，以利后续分析程序的进行。此外，由于受到光学景深(聚焦位置)的限制，上述的组织切片大多为薄型设计。首先，将检体固化后切割成薄片，每个薄片的厚度大约为10μm左右，再加上承载玻片的厚度是以不超过0.1mm为限。接着，再将每个单独的承载玻片分别置于检测仪器上进行检测后，再将所有检测结果进行叠合重组，以重现原本整个检体的检测结果。虽然目前已有许多厂商针对上述技术推出全自动或半自动的检测平台，以缩短整个检测流程，然而，实际上检测试片的制作过程相当繁复且耗费成本。此外，不同的检体切片过程所得到的叠合重组结果可能会与原本整个检体的检测结果有所差异。举例而言，检体切片的位置是否刚好破坏到检体中的病变组织就可能得到截然不同的叠合重组结果，严重影响到其检测结果的准确性。因此，本专利技术提出一种光学装置及其运作方法，以解决上述问题。
技术实现思路
根据本专利技术的一具体实施例为一种光学装置。于此实施例中，光学装置包含试片模块、光学检测模块、辅助模块及数据处理模块。试片模块是用以承载一试片，该试片包含有一检体。光学检测模块是用以对该试片中的该检体进行一深层组织检测分析。辅助模块是用以对该试片模块及该光学检测模块的运作提供一辅助功能。数据处理模块是耦接光学检测模块及辅助模块，用以分析处理光学检测模块所传送的一信号以产生关于该检体的一检测结果，或根据辅助模块所传送的一信息产生相对应的一调控指令至光学检测模块或辅助模块。于实际应用中，辅助模块为独立设计或依附于试片模块。辅助模块所提供的辅助功能为试片识别辅助功能、试片对准辅助功能、检测条件调控辅助功能或检体储存状态监控辅助功能。试片模块设计为有盖形式或开放形式，且通过物理固化或机械固定方式限制检体的移动。辅助模块可具有一符号、一颜色、一图样、一文字、一数字、一条码、一立体识别区或一立体对准区的设计，以提供试片识别辅助功能及试片对准辅助功能。辅助模块可具有单层或多层透光夹层的设计，导入具有不同穿透、吸收及反射特性的流体，以提供变换入射该检体的入射光的波长或能量。辅助模块可具有聚光及散光特性的设计，以提供焦距调整功能。根据本专利技术的第二具体实施例为一种光学装置运作方法。于此实施例中，光学装置包含试片模块、光学检测模块、辅助模块及数据处理模块。该方法包含下列步骤：(a)试片模块承载包含有一检体的一试片；(b)光学检测模块对试片中的检体进行一深层组织检测分析；(c)辅助模块对试片模块及光学检测模块的运作提供一辅助功能；(d)数据处理模块分析处理光学检测模块所传送的一信号以产生关于该检体的一检测结果，或根据辅助模块所传送的一信息产生相对应的一调控指令至光学检测模块或辅助模块。相较于现有技术，根据本专利技术的光学装置及其运作方法是通过光学干涉技术对检体试片进行非破坏性且非接触式的测量，故可直接对厚度较大的检体试片进行光学检测，不仅可省去传统上将检体试片切成薄片及染色等繁杂且费时的程序，亦能够有效避免传统上将所有薄片检体试片的检测结果进行叠合重组时所可能产生的误差，由此提升光学装置进行检测时的准确性及可靠度。此外，根据本专利技术的光学装置及其运作方法所使用的检体试片亦可搭配辅助单元的特殊设计在操作过程中提供可调控的功能，故能让使用者操作上更为方便。关于本专利技术的优点与精神可以通过以下的专利技术详述及附图得到进一步的了解。附图说明图1A为根据本专利技术的一较佳具体实施例中的光学装置的功能方块图。图1B为图1A中的辅助模块采用依附于试片模块的设计。图2为光学检测模块利用光学干涉技术进行检测的示意图。图3A为采用物理固化方式进行检体固定的示意图。图3B为采用机械固定方式进行检体固定的示意图。图4A为采用直接加压的设计将检体压平的示意图。图4B为采用施加气压的设计将检体压平的示意图。图5A至图5D为辅助模块提供身份识别与位置对准功能的示意图。图6为直接于试片制作过程中形成立体识别、对准区的示意图。图7A及图7B为立体识别对准区搭配外部感测元件进行数字化比对分析的示意图。图8A及图8B为辅助模块采用透光夹层的设计提供波长能量变换功能的示意图。图9A及图9B为不同型式的变换波长能量设计的示意图。图10A及图10B为辅助模块采用光学聚光特性及光学散光特性设计的示意图。图11A及图11B为将辅助模块与光学检测模块组合形成连动机制的示意图。图12为根据本专利技术的另一较佳具体实施例的光学装置运作方法的流程图。主要元件符号说明：S10～S18B：流程步骤1：光学装置10：试片模块12：光学检测模块14：辅助模块16：数据处理模块100：试片SA：检体120：分光/耦合单元G：胶水(或蜡油)UD：上下结构RL：侧边结构PU：气压H：立体识别对准区K：外部感测元件TL：透光夹层J：相对应的对准区具体实施方式根据本专利技术的一较佳具体实施例为一种光学装置。请参照图1A，图1A为本实施例的光学装置的功能方块图。如图1A所示，光学装置1包含试片模块10、光学检测模块12、辅助模块14及数据处理模块16。其中，试片模块10是承载包含有检体SA的试片100；数据处理模块16分别耦接至光学检测模块12及辅助模块14。需说明的是，辅助模块14除了可以如同图1A采用独立设计而与试片模块10分离之外，辅助模块14亦可如同图1B采用依附于试片模块10的设计，并无特定的限制。接下来，将分别针对光学装置1所包含的各模块及其具有的功能进行详细的介绍。于此实施例中，光学检测模块12是用以对试片模块10所承载的试片100上的检体SA进行深层组织检测分析。更详细地说，光学检测模块12是利用光学干涉技术对试片100上的检体SA进行深层组织检测分析。请参照图2，图2为光学检测模块12利用光学干涉技术进行检测的示意图。如图2所示，光学检测模块12是通过其分光/耦合单元120实现光学干涉技术以输出经光学干涉后的光信号Sout。其中，Lin为光源，Lr为参考光，Ld为检测光。需说明的是，光学干涉技术可以是时域(timedomain)设计或频域(frequencydomain)设计，并无特定的限制。至于此实施例中的试片模块10除了承载包含有检体SA的试片100，以便光学检测模块12对试片100上的检体SA进行光学检测的功能外，试片模块10还可如图1B所示采用与辅助模块14结合的设计，于操作或储存状态下提供特殊的辅助功能。举例而言，上述辅助功能可以是试片识别辅助功能、试片对准辅助功能、检测条件调控辅助功能或检体储存状态监控辅助功能等，但不以此为限。于此实施例中，由于光学检测模块12可直接对试片模块10所承载的试片100上的检体SA进行深度组织检测(大约2-3mm深)，可省略传统试片制作过程中的固化、切片、染色显影等步骤，故能大幅减少试片制作时间与成本上的浪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学装置，其特征在于，该装置包含有：一试片模块，用以承载一试片，且该试片包含有一检体；一光学检测模块，用以对该试片中的该检体进行一深层组织检测分析；一辅助模块，用以对该试片模块及该光学检测模块的运作提供一辅助功能；以及一数据处理模块，耦接该光学检测模块及该辅助模块，用以分析处理该光学检测模块所传送的一信号以产生关于该检体的一检测结果，或根据该辅助模块所传送的一信息产生相对应的一调控指令至该光学检测模块或该辅助模块。

【技术特征摘要】
2012.07.27 TW 1011272311.一种光学装置，其特征在于，该装置包含有：一试片模块，用以承载一试片，且该试片包含有一检体；一光学检测模块，用以对该试片中的该检体进行一深层组织检测分析；一辅助模块，用以对该试片模块及该光学检测模块的运作提供一辅助功能；以及一数据处理模块，耦接该光学检测模块及该辅助模块，用以分析处理该光学检测模块所传送的一信号以产生关于该检体的一检测结果，或根据该辅助模块所传送的一信息产生相对应的一调控指令至该光学检测模块或该辅助模块；其中，该试片模块配合通气孔与外部加压阀施加气压将该检体压平，以利于后续的观察检测，具有凸出部的该辅助模块与该光学检测模块组合形成连动机制，以方便进行检体的检测；该辅助模块包含有多层透光夹层，导入具有不同穿透、吸收及反射特性的流体，以提供变换入射该检体的入射光的波长或能量。2.如权利要求1所述的光学装置，其特征在于，该多层透光夹层为阵列化、模块化或堆迭化的设计。3.如权利要求1所述的光学装置，其特征在于，该光学检测模块是利用一光学干涉技术对该检体进行该深层组织检测分析，且该光学干涉技术为时域设计或频域设计。4.如权利要求1所述的光学装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：王威，颜孟新，周忠诚，
申请(专利权)人：明达医学科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：