用于确定制造表面相对于参考表面的位置参数的方法技术

由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法，该方法包括：一个提供标称表面的步骤(S1)、一个提供测量表面的步骤(S2)、一个提供变形表面的步骤(S3)、一个确定合成表面的步骤(S4)以及一个参数确定步骤(S5)，在该参数确定步骤过程中，通过最小化该标称表面和该合成表面之间的差值来确定这些位置参数以及定义该变形表面的至少一个变形参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于确定制造表面相对于参考表面的位置参数的方法
本专利技术涉及一种由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法，涉及一种制造工艺并且涉及一种用于控制这种制造工艺的方法。
技术介绍
光学镜片以及具体地眼镜片要求非常高质量的制造工艺，以便获得高质量的光学镜片。以往，通过不同的工艺(如铸塑模制)制造光学镜片。然而，该模制方法就成本而言显示出局限性。因此，使用了新的制造技术，如数字表面处理。而为了控制使用铸塑模制工艺生产的镜片的质量，人员可以检查正在使用的模具的质量，当使用数字表面处理工艺时，这种质量控制是不可能的。人员可以检查每个单个镜片，然而，这种质量控制将是非常耗时的并且就成本而言显示出局限性。因此，已经开发了质量控制方法，该方法允许通过控制制造工艺本身的质量来控制使用数字表面处理工艺生产的镜片的质量。EP08853275中披露了这种允许高效地检查数字表面处理工艺的质量的方法的一个示例。专利技术人观察到这种方法所提供的结果可能不完全令人满意。具体地，专利技术人观察到这种分析方法后的结果可能包括某些人为现象。因此，为了加强制造工艺的控制以及所制本文档来自技高网...

【技术保护点】
由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法，该方法包括：?一个提供标称表面的步骤(S1)，在该步骤过程中，提供一个标称表面，该标称表面用一个标称参考系表示并且该标称表面与有待用定义该标称表面相对于该参考表面的相对位置的位置参数的标称值制造的理论上的可推导表面相对应，?一个提供测量表面的步骤(S2)，在该步骤过程中，提供一个用该标称参考系表示的所制造的可推导表面的测量表面，?一个提供变形表面的步骤(S3)，在该步骤过程中，提供由至少一个变形可调参数定义的至少一个变形表面，?一个合成表面确定步骤(S4)，在该步骤过程中，通过添加该测量表面以及该变形表面...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.05.13 EP 11305581.81.由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法，该方法包括：-一个提供标称表面的步骤(S1)，在该步骤过程中，提供一个标称表面，该标称表面用一个标称参考系表示并且该标称表面与有待用定义该标称表面相对于该参考表面的相对位置的位置参数的标称值制造的理论上的可推导表面相对应，-一个提供测量表面的步骤(S2)，在该步骤过程中，提供一个用该标称参考系表示的所制造的可推导表面的测量表面，-一个提供变形表面的步骤(S3)，在该步骤过程中，提供由至少一个变形可调参数定义的至少一个变形表面，-一个合成表面确定步骤(S4)，在该步骤过程中，通过添加该测量表面以及该变形表面来确定一个合成表面，-一个参数确定步骤(S5)，在该步骤过程中，通过最小化该标称表面和该合成表面之间的差值来确定这些位置参数以及至少一个变形参数。2.根据权利要求1所述的方法，其中，该参数确定步骤进一步包括一个区域确定步骤，在该区域确定步骤中，在该标称表面内确定一个相关区域以及通过最小化该标称表面与该相关区域内的合成表面之间的差值来确定这些位置和变形参数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，通过使用阻尼最小平方法执行该参数确定步骤。4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，该所制造的可推导表面为一个眼镜片的一个表面。5.根据权利要求1或2所述的方法，其中，通过光学测量确定该测量表面。6.根据权利要求1或2所述的方法，其中，该所制造的可推导表面为一个不对称的可推导表面。7.根据权利要求1或2所述的方法，其中，这些位置参数包括至少六个参数。8.根据权利要求7所述的方法，其中，这些位置参数包括三个平移系数...

【专利技术属性】
技术研发人员：金皮埃尔·乔沃，帕斯卡尔·阿尔利奥内，丹尼尔·斯泰盖尔曼，
申请(专利权)人：依视路国际集团光学总公司，
类型：
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