温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法,该方法包括:一个提供标称表面的步骤(S1)、一个提供测量表面的步骤(S2)、一个提供变形表面的步骤(S3)、一个确定合成表面的步骤(S4)以及一个参数...该专利属于依视路国际集团(光学总公司)所有,仅供学习研究参考,未经过依视路国际集团(光学总公司)授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
由计算机装置执行的用于确定定义所制造的可推导表面相对于参考表面的相对位置的位置参数的方法,该方法包括:一个提供标称表面的步骤(S1)、一个提供测量表面的步骤(S2)、一个提供变形表面的步骤(S3)、一个确定合成表面的步骤(S4)以及一个参数...