用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统技术方案
【技术实现步骤摘要】
用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统
本专利技术涉及一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统。
技术介绍
请参考图1，在集成电路成品测试（FinalTest）过程中，自动测试机（ATE－AutoTestEquipment）通过控制自动分选机（Handler）来进行芯片测试，自动分选机将测试的结果记录在与自动分选机相连的计算机上；测试完成后，测试结果会显示在与自动分选机相连的计算机显示屏上，如图1中所示界面。该界面上的测试结果是无法编辑的。此时，操作员会将计算机显示屏上的数据抄写在数据记录单上，然后再手动输入到统计数据的数据管理系统中。这样操作不仅效率低下，而且由于是人工输入，容易造成数据错写、漏写等错误，造成质量事故。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法及其系统，其能够将自动分选机测试得到的显示在计算机显示屏上的数据提取出来，以方便对数据进行处理。一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法，所述数据提取方法包括如下步骤：提取自动分选机的统计结果所对应的数据窗口；获取所提取数据窗口的控件句柄；通过所述控件句柄查询所述控...
【技术保护点】
一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法，其特征在于，所述数据提取方法包括如下步骤：提取自动分选机的统计结果所对应的数据窗口；获取所提取数据窗口的控件句柄；通过所述控件句柄查询所述控件包含的控件信息；根据控件信息筛选控件；输出筛选得到的控件所对应的文本信息。
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路自动分选机的数据提取方法，其特征在于，所述数据提取方法包括如下步骤：提取自动分选机的统计结果所对应的数据窗口，所述数据窗口为提取界面上需要对其进行控件句柄处理的当前打开的自动分选机的统计结果所对应数据窗口，所述数据窗口具有自动分选机测试得到的芯片统计结果；获取所提取数据窗口的控件句柄；通过所述控件句柄查询所述控件包含的控件信息；根据控件信息筛选控件；输出筛选得到的控件所对应的文本信息。2.根据权利要求1所述的数据提取方法，其特征在于，所述控件包含的控件信息包括控件类型、控件标题、控件大小、控件位置及控件所对应的文本信息。3.根据权利要求1所述的数据提取方法，其特征在于，所述根据控件信息筛选控件的步骤包括：根据控件类型信息筛选出文本型控件。4.根据权利要求1至3中任一权利要求所述的数据提取方法，其特征在于，所述根据控件信息筛选控件的步骤包括根据控件位置信息筛选出控件位置符合要求的控件。5.根据权利要求1至3中任一权利要求所述的数据提取方法，其特征在于，所述输出筛选得到的控件所对应的文本信息后还包括上传控...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾汉玉，
申请(专利权)人：华润赛美科微电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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