【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种样品平台,适用于X射线荧光光谱仪,其特征在于:包括测样面板和样品台,所述的测样面板上设有阶梯孔,所述的样品台嵌合在所述的阶梯孔内。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:杨宁波,
申请(专利权)人:深圳市禾苗分析仪器有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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