【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种取样门,适用于X射线荧光光谱仪,其特征是:包括密封盖座和底座,所述的密封盖座上嵌装铅玻璃片。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:杨宁波,
申请(专利权)人:深圳市禾苗分析仪器有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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