【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术实施例公开了一种芯片漏电流测试系统，包括：测试装置和测试主机，测试主机通过通信接口与测试装置连接，测试装置通过测试接口与待测芯片连接；测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，电源模块为测试装置提供工作电压，电流采集电路检测待测芯片的引脚的漏电流，并将漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，微控制器根据预置的参考值和数字信号的比较结果判断测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，测试主机读取测试结果并根据测试结果生成测试报告。采用本专利技术能提高测试效率。【专利说明】一种芯片漏电流测试系统
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种芯片漏电流测试系统。
技术介绍
理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但是实际情况，它们之间为高电阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电流称为漏电流。漏电流一般是由于器件内部和输入管脚之间的绝缘氧化膜在生产过程中太薄引起的，形成一种类似于短路的情形，导致电流通过。近年来，随着集成电路的发展，各种芯片管脚越来越密，管脚也越来越多，引脚间距越来越小，在生产、维修、组装和测试...
【技术保护点】
一种芯片漏电流测试系统，其特征在于，包括：测试装置和测试主机，所述测试主机通过通信接口与所述测试装置连接，所述测试装置通过测试接口与待测芯片连接；所述测试装置包括漏电流采集电路、微控制器和电源电路，所述电源模块为所述测试装置提供工作电压，所述电流采集电路检测所述待测芯片的引脚的漏电流，并将所述漏电流进行放大滤波处理和数字化处理生成数字信号，所述微控制器根据预置的参考值和所述数字信号的比较结果判断所述测试芯片的引脚的漏电流测试是否通过，将测试结果存储至本地，所述测试主机读取所述测试结果并根据所述测试结果生成测试报告。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋思远，
申请(专利权)人：深圳市度信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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