一种PIM+S参数测试仪制造技术

技术编号:9327348 阅读:207 留言:0更新日期:2013-11-08 01:30
本实用新型专利技术公开了一种PIM+S参数测试仪,包括矢量网络分析仪、信号源101、两个功率放大器201,202、三个单刀双掷开关301,302,303、3dB电桥401、负载501、耦合器601、同轴衰减器701和双工器801,所述矢量网络分析仪中包括矢量信号源102、R1接收机901、B1接收机902和SOURCEOUT端口903;本实用新型专利技术所设计的既能测量无源器件的互调指标,又能测量无源器件的S参数指标。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种PIM+S参数测试仪,其特征在于,包括矢量网络分析仪、信号源(101)、两个功率放大器(201,202)、三个单刀双掷开关(301,302,303)、3dB电桥(401)、负载(501)、耦合器(601)、同轴衰减器(701)和双工器(801),所述矢量网络分析仪中包括矢量信号源(102)、R1接收机(901)、B1接收机(902)和SOURCE?OUT端口(903),其中:所述信号源(101)的输出端连接第一功率放大器(201)的输入端,所述第一单刀双掷开关(301)的公共端连接矢量信号源(102)的输出端,第一单刀双掷开关(301)的第一、第二测试端分别连接第二功率放大器(202)的输入端和第三单刀双掷开关(303)的第二测试端,所述第一、第二功率放大器(201,202)的输出端共同连接3dB电桥(401)的输入端,所述3dB电桥(401)的两个输出端分别连接负载(501)和耦合器(601)的输入端;所述第一、第二功率放大器(201,202)将两路信号放大后传输至3dB电桥(401),3dB电桥(401)将两路信号合并后传输至耦合器(601)进行耦合处理;所述耦合器(601)的输出端连接双工器(801)的TX端,耦合器(601)将耦合后的信号传输至双工器(801),双工器(801)的ANT端通过低互调电缆连接第三单刀双掷开关(303)的第一测试端,第三单刀双掷开关(303)的公共端连接被测器件的测试端口;双工器(801)将上述耦合后的信号作为测试信号传输至其自身的ANT端,并通过第三单刀双掷开关(303)的公共端对被测器件进行检测,双工器(801)的RX端连接B1接收机(902),所述测试信号经被测器件反射后形成反射信号,并进入双工器(801)的RX端,所述反射信号通过双工器(801)的RX端进入B1接收机(902),所述B1接收机(902)用于对反射信号进行检测;所述耦合器(601)的耦合端连接同轴衰减器(701)的输入端,同轴衰减器(701)的输出端连接第二单刀双掷开关(302)的第一测试端,第二单刀双掷开关(302)的第二测试端连接SOURCE?OUT端口(903),第二单刀双掷开关(302)的公共端连接R1接收机(901);所述R1接收机(901)用于通过第二单刀双掷开关(302)和同轴衰减器(701)对耦合器(601)的耦合功率进行检测,并将检测结果反馈给矢量信号源(102),矢量信号源(102)利用反馈结果对自身发送的信号进行调整。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱斌李荣明
申请(专利权)人:南京纳特通信电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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