发光二极管灯条检测方法技术

一种发光二极管灯条检测方法，包括以下步骤：提供一个电路板，电路板上排列有多个发光二极管；在电路板上设置一条基准线，并确定各个发光二极管相对于基准线的偏差值；提供第一平板和第二平板，并使其平行于基准线设置且与电路板的侧边相接触；分别确定基准线与第一平板和第二平板的距离；以及确定各个发光二极管相对于电路板中心位置的偏差值，所述偏差值通过以下公式计算W0-（W1-W2）/2，其中，W0代表各个发光二极管相对于基准线的偏差值；W1代表基准线与第一平板之间的距离；W2代表基准线与第二平板之间的距离。上述检测方法能够有效确定发光二极管相对于电路板中间位置的偏差值，有利于提高灯条组装过程的良率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种发光二极管灯条检测方法，其包括以下步骤：提供一个电路板，沿所述电路板的延伸方向依次排列有多个发光二极管；在电路板的延伸方向设置一条基准线，分别确定各个发光二极管相对于基准线的偏差值；提供第一平板和第二平板，第一平板和第二平板平行于基准线设置且与电路板的侧边相接触；确定基准线与第一平板的距离，及确定基准线与第二平板的距离；以及确定各个发光二极管相对于电路板中心位置的偏差值，所述偏差值通过以下公式计算W0?（W1?W2）/2，其中，W0代表各个发光二极管相对于基准线的偏差值；W1代表基准线与第一平板之间的距离；W2代表基准线与第二平板之间的距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赖志成，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：